XC3202B シリーズ JTR2602-005 低消費電力ホール IC（磁気センサ） ■概要 XC3202B シリーズはホール効果を利用した磁気センサ IC で CMOS 出力ドライバを内蔵しています。低消費電力設計と小型パッ ケージ採用により、携帯電話、電子辞書、ゲーム機等のバッテリを使用するポータブル機器に最適です。感磁面の磁束密度(両極) が動作ポイント(Bop)より大きくなると”L”レベル信号が出力されます。また、復帰ポイント(Brp)よりも小さくなると、”H”レベル信号が 出力されます。 ■用途 ■特長 ● 各種カバーディテクタ 電源電圧範囲 : 2.4~5.5V ● 携帯電話、電子辞書、ゲーム機などの携帯機器 平均消費電流 : 8μA ● 家電製品（冷蔵庫、洗濯機など） 動作磁束密度 : S 極側 3mT(TYP) 復帰磁束密度 : S 極側 2mT(TYP) ヒステリシス幅 : S 極側 1mT(TYP) パッケージ : SOT-23D, 環境への配慮 QFN-0601 : EU RoHS 指令対応、鉛フリー N 極側 -3mT(TYP) N 極側 -2mT(TYP) N 極側 1mT(TYP) ■代表特性例 ■代表標準回路 VDD XC 3202 VOUT OUTPUT Average Supply Current:IDD (μA） ●消費電流(avg)―周囲温度特性 40 30 VIN=5.5V 20 3.0V 10 2.4V 0 VSS -40 -20 0 20 40 60 80 Ambient Temperature:Ta (℃) 100 1/9 XC3202B シリーズ ■端子配列 ■端子説明 端子番号 端子名 機 能 1 VDD 電源入力端子 2 3 VOUT 出力端子 3 5 VSS グランド端子 - 2,4,6 NC 未使用端子 SOT-23D QFN-0601 1 ■製品分類 ●品番ルール XC3202①②③④⑤⑥-⑦(*1) 記号 項目 シンボル ① 製品タイプ B ②③④ 製品番号 183 ⑤⑥-⑦(*1) パッケージ （発注単位） 説明 CMOS 出力 社内基準に基づく MR-G SOT-23D (3,000/Reel) ZR-G QFN-0601 (3,000/Reel) (*1) 末尾に”-G”が付く場合は、ハロゲン＆アンチモンフリーかつRoHS対応製品になります。 2/9 XC3202B シリーズ ■ブロック図 VDD Power switch Hall Plate Amp Latch VOUT Logical Hall Plate Amp Latch VSS ■絶対最大定格 項目 記号 定格 Ta=25℃ 単位 電源電圧 VDD 7 V 磁束密度 B 無制限 - 動作温度範囲 Topr -40～+85 ℃ 保存温度 Tstg -55～+150 ℃ SOT-23D 許容損失 QFN-0601 150 Pd mW 120 最大ジャンクション温度 Tjc 125 ℃ 最大出力電流 IOUT 40 mA (*1)絶対最大定格を超えて使用した場合、破壊に至る可能性があります。 ■電気的特性 Ta=25℃ 項目 記号 MIN. TYP. MAX. 出力オン電圧 (High) VOUT_H VDD=3V, IOUT=-1mA VDD-0.2 - - 出力オン電圧 (Low) VOUT_L VDD=3V, IOUT=1ｍA VDD=3V VDD=3V VDD=3V - 3 5 8 0.1 6 10 16 単位 測定回路 V ③ ② ① ② VDD=3V - 75 150 mA μA μA μs t_period VDD=3V - 75 150 ms デューティ比 DTY VDD=3V - 0.1 - % 電源電圧 VDD 5.5 V 消費電流 検出動作時間 (*1) 検出周期時間 (*1) IDD (en) IDD (dis) IDD (avg) t_awake 条件 2.4 - ② ② (*1) 電源電圧(VDD=2.4～5.5V)投入から約 150ms 後に正常動作します。 (*2) 消費電流、検出動作時間、検出周期時間は下図参照願います。 t_period IDD（en) t_awake IDD（dis) 両極探知ホールＩＣは間欠動作によって消費電流を低減しています。 検出動作時間内で磁気の探知を行い検出動作時間以外はHall Plate,Latchなどの探知回路を ＯＦＦにして電流を抑えています。 3/9 XC3202B シリーズ ■磁束特性 Ta=25℃、VDD=3V、1mT=10Gauss 項目 記号 MIN. TYP. MAX. 単位 測定回路 S 極側動作磁束密度 Bops 2 3 4 mT ③ N 極側動作磁束密度 Bopn -4 -3 -2 S 極側復帰磁束密度 Brps 1 2 N 極側復帰磁束密度 ヒステリシス幅 Brpn Bhy(Bop-Brp) 0.5 -2 1 -1 mT ③ mT ③ mT mT ③ ③ (*1)特性値は設計保証になります。特性値は使用状況(周囲温度、基板実装等)によって影響を受ける可能性があります。 ■動作 ●磁束による動作 Bhy (off-state) VDD Output Voltage Output Voltage VDD (off-state) ON ON Bhy OFF OFF (on-state) Bopn (on-state) Brpn 0 0 North Pole magnetic flux density Brps Bops South Pole magnetic flux density ●タイミングチャート t_period Time I DD t_period Time I DD t_awake Time t_awake Time Time Time B B Bop Brp V OUT High Low V OUT ＊1 High Low (*1) 両極探知ホール IC にかかる磁束密度が Bop 以上だと動作状態（VOUT=Low)になります。 (*2) 両極探知ホール IC にかかる磁束密度が Brp 以下だと復帰状態（VOUT=High)になります。 それ以外のときは直前の動作状態を保持します。 4/9 ＊2 XC3202B シリーズ ■使用上の注意点 1. 本 IC の VDD-VSS 間に外付けのコンデンサ(CIN)接続することで磁束密度が変化いたします。 N 極磁束密度 － コンデンサ容量(CIN)特性例 North Pole magnetic flux density VIN=3V,Ta=25℃ magnetic flux density(mT) -4.0 -3.5 Operating -3.0 -2.5 -2.0 Release -1.5 -1.0 -0.5 0.0 0.001 0.01 0.1 1 10 Ceramic Capacitor CIN( μF) S 極磁束密度 ― コンデンサ容量(CIN)特性例 South Pole magnetic flux density VIN=3V,Ta=25℃ magnetic flux density(mT) 4.0 3.5 Operating 3.0 2.5 Release 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0 0.001 0.01 0.1 1 10 Ceramic Capacitor CIN( μF) 2. 一時的、過渡的な電圧降下および電圧上昇等の現象について、絶対最大定格を超える場合には、劣化または破壊する可能性があります。 3. 当社では製品の改善、信頼性の向上に努めております。しかしながら、万が一のためにフェールセーフとなる設計およびエージング処理など、 装置やシステム上で十分な安全設計をお願いします。 5/9 XC3202B シリーズ ■測定回路 測定回路 1 1.VDD 3.VOUT V 2.VSS A 測定回路 2 1.VDD 3.VOUT 2.VSS OSC OSC: Oscilloscope 測定回路 3 Bcoil Vcoil 1.VDD 3.VOUT 2.VSS OSC OSC: Oscilloscope 6/9 XC3202B シリーズ ■外形寸法図 ●SOT-23D ●センサー位置 3.0±0.1 0.4 +0.1 -0.05 3 0.45±0.1 0～0.1 2 1 0.8 2.85±0.15 1.6±0.1 3 (1.9) 1 1.5 2 0.65 1.15±0.15 0.15±0.05 (0.95) ●センサー位置 ●QFN-0601 1.0mm +0.075 2.0-0.05 +0.075 2.0 -0.05 0.43mm 2 3 6 5 4 0.35±0.05 0.6±0.03 0.65mm 1.55±0.1 1 0.86±0. 1 0～0.05 1pin INDENT (0.65) 0.25±0.05 7/9 XC3202B シリーズ ■ マーキング ● SOT-23D SC59(SOT-23D) ●SOT-23D / QFN-0601 マーク① 製品番号を表す。 3 ① シンボル 品名表記例 2 XC3202******-G ② ③ ④ 1 ⑤ 2 ● QFN-0601 DFN2020-6(QFN-0601)(開発中) マーク② 登録連番を表す。 ① シンボル 品名 3 XC3202B183 マーク③ ④ 1pin→ 製造年の下１行を表す。 (例) シンボル 西暦 0 2010 1 2011 マーク④ 8/9 製造月を表す。 シンボル 製造月 シンボル 製造月 シンボル 製造月 A 1月 E 5月 J 9月 B 2月 F 6月 K 10 月 C 3月 G 7月 L 11 月 D 4月 H 8月 M 12 月 マーク⑤ 製造ロットを表す。A～Z を繰り返す。 (但し、G，I，J，O，Q，W は除く。) ② ③ ⑤ XC3202B シリーズ 1. 本書に記載された内容(製品仕様、特性、データ等)は、改善のために予告なしに変更す ることがあります。製品のご使用にあたっては、その最新情報を当社または当社代理 店へお問い合わせ下さい。 2. 本書に記載された技術情報は、製品の代表的動作・応用を説明するものであり、工業 所有権、その他の権利に対する保証または許諾するものではありません。 3. 本書に記載された製品は、通常の信頼度が要求される一般電子機器(情報機器、オーデ ィオ／ビジュアル機器、計測機器、通信機器(端末)、ゲーム機器、パーソナルコンピュ ータおよびその周辺機器、家電製品等)用に設計・製造しております。 4. 本書に記載の製品を、その故障や誤作動が直接人命を脅かしたり、人体に危害を脅か す恐れのある装置やシステム(原子力制御、航空宇宙機器、輸送機器、交通信号機器、 燃焼制御、生命維持装置を含む医療機器、各種安全装置など)へ使用する場合には、事 前に当社へご連絡下さい。 5. 当社では製品の改善、信頼性の向上に努めております。しかしながら、万が一のため にフェールセーフとなる設計およびエージング処理など、装置やシステム上で十分な 安全設計をお願いします。 6. 保証値を超えた使用、誤った使用、不適切な使用等に起因する損害については、当社 では責任を負いかねますので、ご了承下さい。 7. 本書に記載された内容を当社に無断で転載、複製することは、固くお断り致します。 トレックス・セミコンダクター株式会社 9/9