CMPA0060025D 25 W、20 MHz

CMPA0060025D
25 W、20 MHz - 6.0 GHz GaN MMIC功率放大器
Cree的CMPA0060025D是一款基于单片微波集成电路 (MMIC) 的氮化
镓 (GaN) 高电子迁移率晶体管(HEMT)。与硅或砷化镓相比,GaN具有更加优
良的性能,比如说,更高的击穿电压、更高的饱和电子漂移速度以及更高的导
热性。与Si和GaAs晶体管相比,GaN HEMT还可以提供更大的功率密度和更
宽的频带。该MMIC能够实现极宽的频带。
部件号:CMPA
0060025D
在1.0-6.0 GHz频率(TC = 25˚C)下的典型性能
参数
1.0 GHz
2.0 GHz
3.0 GHz
4.0 GHz
5.0 GHz
6.0 GHz
单位
增益
18.0
18.0
18.5
18.0
17.0
17.0
dB
输出功率 @ PIN 32 dBm
34
38
42
29
30
31
W
相关增益 @ PIN 32 dBm
13.3
13.9
14.2
12.6
13.1
12.9
dB
54
45
46
33
34
33
%
PAE @ PIN 32 dBm
注意:VDD = 50 V,ID = 500 mA
应用
• 小信号增益:18 dB
• 超宽带放大器
• PSAT典型值:30 W
• 测试仪器
• 最大工作电压:50 V
• EMC放大器驱动电源
• 高击穿电压
• 高工作温度
• 尺寸:0.157 x 0.094 x 0.004英寸
修订版本1.2—
—2012年4月
特点
若有更改,恕不另行通知。
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1
25˚C时的绝对最大额定值(非同时出现)
参数
符号
额定值
单位
漏源电压
VDSS
84
VDC
栅源电压
VGS
-10、+2
VDC
储存温度
TSTG
-65、+150
˚C
TJ
225
˚C
最大正向栅极电流
IGMAX
12
mA
热阻,结点到表面(封装)1
RθJC
3.3
˚C/W
PIN
36
dBm
工作结温
2
输入功率
注1 共晶芯片粘接通过80/20 AuSn焊料接合到40 mil厚的铜钨载体上。
注2 仅限内部电阻。此水平下可能会超过耗散功率。
电气特性(除非另行说明,否则频率 = 20 MHz - 6.0 GHz;TC = 25˚C)
规格参数表
符号
最小值
典型值
最大值
栅极阈值电压1
V(GS)TH
栅极静态电压
V(GS)Q
饱和漏极电流2
单位
条件
-3.8
-3.0
-2.7
V
–
-2.7
–
VDC
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA
IDS
–
12
–
A
VDS = 12.0 V,VGS = 2.0 V
小信号增益
S21
–
18
–
dB
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA
输入回波损耗
S11
–
9
–
dB
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA
输出回波损耗
S22
–
7
–
dB
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA
输出功率1
POUT1
17
29
–
W
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm,频率 = 4.0 GHz
输出功率2
POUT2
23
30
–
W
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm,频率 = 5.0 GHz
输出功率3
POUT3
23
31
–
W
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm,频率 = 6.0 GHz
功率附加效率1
PAE1
18
33
–
%
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm,频率 = 4.0 GHz
功率附加效率2
PAE2
23
34
–
%
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm,频率 = 5.0 GHz
功率附加效率3
PAE3
22
33
–
%
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm,频率 = 6.0 GHz
GP
–
13
–
dB
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm
VSWR
–
–
5:1
Y
所有相角均无损坏,
VDD = 50 V,IDQ = 500 mA,
PIN = 32 dBm
DC特性
VDS = 20 V,∆ID = 6 mA
射频特性
功率增益
输出失配应力
注:
1
由于其内部电路结构,该设备将在夹断后吸收约55-70 mA的电流。
2
根据PCM数据按比例缩放而得。
3
所有脉冲数据均在脉宽 = 10µS、占空比 = 1%的条件下产生。
3
数据是在最大回波损耗条件下在15 dB的输出负载中测得。
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产品和公司名称均为其各自所有者的财产,并不意味着特定的产品和/或供应商的认可、赞助或关联。
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传真:+1.919.869.2733
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芯片尺寸(以微米为单位)
射频输出
测试焊盘
射频输入
栅极终端
芯片外形尺寸:3990 x 2400 (+0/-50)微米,芯片厚度:100 (+/-10)微米。
所有栅极和漏极焊盘的电气连接必须使用线焊。
焊盘编号
功能
描述
焊盘尺寸(微米)
射频输入焊盘。50 Ω匹配。需要通过外部Bias-T器件向栅极施加-2.3 V
到-3.8 V的电压。
150 x 200
1
RF IN1
2
栅极终端
栅极的芯片外终端。需要安装直流阻断器。
200 x 150
3
RF OUT
射频输出焊盘。50 Ω匹配。需要通过外部Bias-T器件向漏极供电 
(最大50 V,2.0 A)。
150 x 200
1
注:
1
RF In和RF Out焊盘的接地-信号-接地配置中存在75微米的间距。
芯片装配说明:
•
建议使用AuSn (80/20)焊料进行焊接。请参考Cree网站上的共晶芯片焊接程序应用说明, 
网址为:www.cree.com/wireless。
•
拿取时首选真空夹头。
•
芯片背面是源接点(接地)。
•
芯片背面镀金厚度至少5微米。
•
连接时首选热超声球焊或楔焊。
•
连接时必须使用金线。
•
测试焊盘必须接地。
•
确保芯片标签(XX-YY)方向正确。
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功能方框图
此设备采用了宽频放大器拓扑结构。栅极安装了内部终端,该终端可在1.0-6.0 GHz下正常运行。如果工作频率低于1.0 GHz,则需要
安装外部终端。此终端需要安装直流阻断器,安装后可承受最大2 W的RF功率。(如需详细了解本数据手册中LF终端的相关信息,请参
考“参考设计”一节)。该电路还需要通过外部宽频Bias-T器件向栅极和漏极供压。需要在漏极上设计一个Bias-T器件,用于处理50 V
的电压和最高2.0 A的电流。
Vd
3
Vg
射频输出
2
1
RF
DC
DC
RF
2
偏置器
3
2
DC
&
1 RF
DC
&
RF
射频输入
1
1
2
2
偏置器
1
栅极终端
图1.
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外部终端参考设计
以下只是芯片增益曲线图的一部分(包括有/没有RC参考电路两种情况)。
CMPA0060025 Gain with and without LF termination
35
30
无低频终端
参考射频终端
增益 (dB)
25
20
15
10
5
0
0.0
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
6.0
频率 (GHz)
注:
1
需要通过芯片外终端减少在低频段的高增益峰值。
2
芯片外终端的设计应尽量降低对MMIC高频段性能的影响。
RC参考电路
如下所示,该参考电路由串联电容和电阻组成。
C = 2200pF
RG = 5
图2.
电阻需要承受2.0 W功率。
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典型性能
输出功率与频率之间的关系
PINOutput
= 32
dBm
Power
vs Frequency
功率增益与频率之间的关系
Associated
Frequency
PIN =Gain
32vsdBm
PIN = 32 dBm
15
PIN = 32 dBm
47
\
50V
14
13
40V
45
输出功率 (dBm)
增益 (dB)
50V
46
40V
12
11
44
43
10
42
9
41
8
0.0
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
6.0
40
7.0
0.0
1.0
2.0
3.0
频率 (GHz)
4.0
5.0
6.0
7.0
频率 (GHz)
增益及回波损耗与频率之间的关系
VDD
= 50 V,I
=Response,
500 mA
CMPA0060025D
Small DQ
Signal
功率附加效率与频率之间的关系
PIN = 32 dBm
VDD=50V, IDQ=500mA
Power Added Efficiency vs Frequency
PIN = 32 dBm
60
25
25
20
20
55
15
50V
10
40V
10
S11
S22
S21 (dB)
45
PAE(%)
15
S21
40
35
30
5
5
0
0
-5
-5
-10
-10
-15
-15
-20
-20
25
20
0.0
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
6.0
频率 (GHz)
7.0
-25
-25
0.0
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
6.0
7.0
8.0
9.0
频率 (GHz)
静电放电(ESD)分类
参数
符号
类别
测试方法
人体模型
HBM
1A (> 250 V)
JEDEC JESD22 A114-D
充电设备模型
CDM
II (200 < 500 V)
JEDEC JESD22 C101-C
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S11 (dB), S22 (dB)
50
免责声明
本文所列规格随时可能出现更改,恕不另行通知。Cree, Inc.相信本数据手册中所含的信息是准确、可靠的。然而,如若使用此信息导致
侵犯第三方的专利或其他权利,Cree对此不承担任何责任。Cree并未就其专利或专利权授予默示许可或其他形式的许可。Cree对于其产
品针对任何特定用途的适用性不作任何担保、表示或保证。所给出的“典型”参数是Cree对大量产品预计的平均值,此数据仅供参考。
在不同的应用中,这些数值会与表中所列数据有所不同,实际性能也会随着时间的推移而变化。所有工作参数均应由客户的技术专家针
对每项具体应用进行验证。Cree产品无意用作也未授权用作以下应用中的部件,事实上也未针对类似应用而设计:植入人体的外科植入
物或者用于支撑或延续生命的应用;Cree产品故障会导致人员伤亡的应用;以及规划、建设、维护或直接运作核设施的应用。CREE和
CREE徽标是Cree, Inc.的注册商标。
有关详细信息,请联系:
Cree, Inc.
4600 Silicon Drive
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市场与出口
Cree射频组件
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市场营销
Cree射频组件
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销售总监
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