Cree® LED 灯可靠性测试标准 LED 可靠性测试执行标准 本应用说明适用于以下高亮度 LED 产品： • • • 椭圆头和圆头 LED P4 LED 表面贴装 PLCC LED 如需了解 XLamp LED 的可靠性信息，请参阅 XLamp LED 可靠性应用说明 (CLD-AP06)。 目录 -CTAP01.002 应用说明：CLD 1. P2 RGB LED 灯 .................................................................................................................................... 2 2. P2 白色 LED 灯 ..................................................................................................................................... 3 3. P4 RGB LED 灯 .................................................................................................................................... 4 4. P4 白色 LED 灯 ..................................................................................................................................... 5 5. TOP SMD LED 灯 .................................................................................................................................. 6 6. TOP 白色和暖白色 SMD LED 灯................................................................................................................. 7 7. 功率 SMD LED 灯和带透镜的功率 SMD LED 灯 ............................................................................................. 8 8. 功率白色 SMD LED 灯 ............................................................................................................................ 9 9. 侧发光 SMD LED 灯 ............................................................................................................................. 10 10. 侧发光白色 SMD LED 灯 ...................................................................................................................... 11 11. 6 引脚 SMD LED 灯............................................................................................................................ 12 12. 6 引脚白色 SMD LED 灯 ...................................................................................................................... 13 13. 小型 6 引脚 SMD LED 灯 ..................................................................................................................... 14 14. 小型 6 引脚 白色 SMD LED 灯............................................................................................................... 15 15. 小型 TOP SMD LED 灯 ........................................................................................................................ 16 16. 小型 TOP 白色 SMD LED 灯 ................................................................................................................. 17 17. 迷你侧发光 SMD LED 灯 ...................................................................................................................... 18 18. 迷你侧发光白色 SMD LED 灯 ................................................................................................................ 19 19. LN6 白色 SMD LED 灯 ........................................................................................................................ 20 20. LV6 SMD LED 灯 ............................................................................................................................... 21 若有更改，恕不另行通知。 www.cree.com/ledlamps 1 1. P2 RGB LED 灯 测试及结果 测试 适用的标准 测试条件 注 损坏 数量 温度循环 JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/100 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/100 防潮周期 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/100 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 1000 小时 0/100 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 1000 小时 0/100 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 1000 小时 0/100 使用寿命测试* - TA = 25°C 椭圆头：IF = 35 mA (GB) IF = 50 mA (R) 圆头：IF = 30 mA (GB) IF = 50 mA (R) 1000 小时 0/100 高温高湿使用寿命测试* - 60°C RH = 90% IF = 20 mA 500 小时 0/100 低温寿命测试 - TA = -30°C IF = 20 mA 1000 小时 0/100 耐焊接热* JEITA ED-4701 300 302 TSOL = 260 (±5)°C，10 秒 （距环氧树脂灯泡基座 3 mm） 1次 0/100 可焊性 JEITA ED-4701 300 303 TSOL = 235 (±5)°C，5 秒 （使用助焊剂） 1次 （超过 95%） 0/100 引线弯曲测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 5N (0.5 kgf) 0° ~ 90° ~ 0°，弯曲 2 次 无明显损坏 0/100 引线拉伸测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 10N (1 kgf) 10 (±1) 秒 无明显损坏 0/100 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/10 失效准则 项目 符号 测试 条件 判断标准 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 100 μA 光通量/强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7（下降总量） 初始数据 x 0.5（单灯下降量） – 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 2 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 2. P2 白色 LED 灯 测试及结果 测试 适用的标准 测试条件 注 损坏 数量 温度循环 JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/100 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/100 防潮周期 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/100 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 1000 小时 0/100 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 1000 小时 0/100 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 1000 小时 0/100 使用寿命测试* - TA = 25°C 椭圆头：IF = 30 mA 圆头：IF = 30 mA 1000 小时 0/100 高温高湿使用寿命测试* - 60°C RH = 90% IF = 20 mA 500 小时 0/100 低温寿命测试 - TA = -30°C IF = 20 mA 1000 小时 0/100 耐焊接热* JEITA ED-4701 300 302 TSOL = 260 (±5)°C，10 秒 （距环氧树脂灯泡基座 3 mm） 1次 0/100 可焊性 JEITA ED-4701 300 303 TSOL = 235 (±5)°C，5 秒 （使用助焊剂） 1次 （超过 95%） 0/100 引线弯曲测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 5N (0.5 kgf) 0° ~ 90° ~ 0°，弯曲 2 次 无明显损坏 0/100 引线拉伸测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 10N (1 kgf) 10 (±1) 秒 无明显损坏 0/100 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/10 失效准则 项目 符号 测试 条件 判断标准 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 100 μA 光通量/强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7（下降总量） 初始数据 x 0.5（单灯下降量） – 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 3 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 3. P4 RGB LED 灯 测试及结果 测试 适用标准 测试条件 注 损坏 数量 温度循环 JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/100 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/100 防潮周期 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/100 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 1000 小时 0/100 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 1000 小时 0/100 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 1000 小时 0/100 使用寿命测试* - TA = 25°C 绿色、蓝色：IF = 30 mA 红色、琥珀色：IF = 70 mA 1000 小时 0/100 高温高湿使用寿命测试* - 60°C RH = 90% IF = 20 mA 500 小时 0/100 低温使用寿命测试 - Ta = -30°C IF = 30 mA 1000 小时 0/100 耐焊接热* JEITA ED-4701 300 302 TSOL = 260 (±5)°C，10 秒 （距环氧树脂灯泡基座 3 mm） 1次 0/100 焊接能力 JEITA ED-4701 300 303 TSOL = 235 (±5)°C，5 秒 （使用助焊剂） 1次 （超过 95%） 0/100 引线弯曲测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 5N (0.5 kgf) 0° ~ 90° ~ 0°，弯曲 2 次 无明显损坏 0/100 引线拉伸测试 JEITA ED-4701 400 401 负载10N (1 kgf) 10 (±1) 秒 无明显损坏 0/100 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/10 失效判定标准 项目 符号 测试 条件 判断标准 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 30 mA – 初始数据 x 1.2 反向电流 IR VR = 5 V – 100 μA 光通量/强度 IV IF = 30 mA 初始数据 x 0.65（下降总量） 初始数据 x 0.5（单灯下降量） – 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 4 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 4. P4 白色 LED 灯 测试及结果 测试 适用标准 测试条件 注 损坏 数量 温度循环 JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/100 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/100 防潮周期 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/100 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 1000 小时 0/100 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 1000 小时 0/100 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 1000 小时 0/100 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 35 mA 1000 小时 0/100 高温高湿使用寿命测试* - 60°C RH = 90% IF = 20 mA 500 小时 0/100 低温使用寿命测试 - Ta = -30°C IF = 30 mA 1000 小时 0/100 耐焊接热* JEITA ED-4701 300 302 TSOL = 260 (±5)°C，10 秒 （距环氧树脂灯泡基座 3 mm） 1次 0/100 焊接能力 JEITA ED-4701 300 303 TSOL = 235 (±5)°C，5 秒 （使用助焊剂） 1次 （超过 95%） 0/100 引线弯曲测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 5N (0.5 kgf) 0° ~ 90° ~ 0°，弯曲 2 次 无明显损坏 0/100 引线拉伸测试 JEITA ED-4701 400 401 负载 10N (1 kgf) 10 (±1) 秒 无明显损坏 0/100 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/10 失效判定标准 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 30 mA – 初始数据 x 1.2 反向电流 IR VR = 5 V – 100 μA 发光强度 IV IF = 30 mA 初始数据 x 0.65（下降总量） 初始数据 x 0.5（单灯下降量） – 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 5 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 5. TOP SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 50 mA，G = 25 mA，B = 25 mA 1000 小时 0/50 - TA = 85°C IF（单芯片）：R = 30 mA，G = 15 mA， B = 15 mA IF (RGB)：R = 15 mA，G = 15 mA， B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF（单芯片）：R = 30 mA，G = 15 mA， B = 15 mA IF (RGB)：R = 15 mA，G = 15 mA， B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 30 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 破坏 性实 验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 操作实验 高温使用寿命测试* 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变 频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 6 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 6. TOP 白色和暖白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500小时 0/50 使用寿命测试*（1 个 LV1 晶粒） - TA = 25°C，IF = 35 mA 1000 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C，IF = 25 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C，IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C，IF = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 7 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 7. 功率 SMD LED 灯和带透镜的功率 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 70 mA，G = 30 mA，B = 30 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF：R = 50 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF：R = 50 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 50 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 8 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 8. 功率白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 35 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 9 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 9. 侧发光 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 30 mA，G = 20 mA，B = 20 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF：R = 20 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF：R = 20 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 20 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 10 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 10. 侧发光白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 20 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 11 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 11. 6 引脚 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 50 mA，G = 50 mA，B = 50 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF：R = 15 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF：R = 15 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 15 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 12 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 12. 6 引脚白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 50 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF = 15 mA 500小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 100 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 13 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 13. 小型 6 引脚 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 50 mA，G = 40 mA，B = 40 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF：R = 15 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF：R = 15 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 15 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 14 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 14. 小型 6 引脚白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C IF = 40 mA 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7（下降总量） – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 15 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 15. 小型 TOP SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 50 mA，G = 25 mA，B = 25 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF：R = 30 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF：R = 30 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 30 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 16 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 16. 小型 TOP 白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 25 mA 500 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF = 15 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7（下降总量） – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 17 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 17. 迷你侧发光 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 20 mA，G = 20 mA，B = 20 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF：R = 20 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF：R = 20 mA，G = 15 mA，B = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 20 mA，G = 20 mA，B = 20 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 18 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 18. 迷你侧发光白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C LT1：IF = 20 mA，LT2：IF = 35 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 15 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 15 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -30°C IF = 20 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 19 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 19. LN6 白色 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/25 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 1000 小时 0/25 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 1000 小时 0/25 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 1000 小时 0/25 使用寿命测试* - TA = 25°C IF = 350 mA 1000 小时 0/25 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 160 mA 1000 小时 0/25 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 250 mA 500 小时 0/25 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF = 300 mA 1000 小时 0/25 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/25 可焊性（回流焊） JEITA ED-4701 300 303 TSOL = 215±5°C，3 秒（铅焊料） 1 次，超过 95% 0/25 基底弯曲 JEITA ED-4702 3 mm，5 ± 1 秒 1次 0/25 粘合强度 JEITA ED-4702 5N，10 ± 1 秒 1次 0/25 ESD 类型 静电放电测试 JEITA ED-4701 300 304 人体模型 1000 V ±1次 0/25 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 16 分钟 0/25 破坏性实验 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 300 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 20 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps 20. LV6 SMD LED 灯 适用标准 测试条件 注 不良数量 温度周期* JEITA ED-4701 100 105 -40°C ~ 25°C ~ 100°C ~ 25°C 30 分钟，5 分钟，30 分钟，5 分钟 循环 100 次 0/50 热冲击* MIL-STD-202G -40°C ~ 100°C 30 分钟，30 分钟 循环 100 次 0/50 防潮 JEITA ED-4701 200 203 25°C ~ 65°C 90% RH（相对湿度），24 小时/周期 循环 10 次 0/50 高温储存 JEITA ED-4701 200 201 TA = 100°C 500 小时 0/50 高温高湿储存 JEITA ED-4701 100 103 TA = 60°C RH = 90% 500 小时 0/50 低温储存 JEITA ED-4701 200 202 TA = -40°C 500 小时 0/50 使用寿命测试* - TA = 25°C IF：R = 30 mA，G = 35 mA，B = 20 mA 1000 小时 0/50 高温使用寿命测试* - TA = 85°C IF = 30 mA 1000 小时 0/50 高温/高湿使用寿命测试* - TA = 60°C，90% RH（相对湿度） IF = 30 mA 500 小时 0/50 低温使用寿命测试 - TA = -40°C IF：R = 30 mA，G = 35 mA，B = 20 mA 500 小时 0/50 破坏性实验 耐焊接热* （回流焊） JEITA ED-4701 300 301 TSOL = 260°C，10 秒 （预处理：30°C，70% RH，168 小时） 2次 0/50 ESD 类型 静电放电测试 AEC (Q101-001) 人体模型 1000 V （正向和反向电流导电，各 1 次） 0/50 变频振动频率 MIL-STD-883 方法 2007 最小 20G，20 - 2000 Hz， 4 个周期， X、Y、Z 轴各 4 分钟 0/50 操作实验 环境实验 测试项目 物理实验 测试及结果 失效准则 判断标准 项目 符号 测试条件 最小值 最大值 正向电压 VF IF = 20 mA – 初始数据 x 1.1 反向电流 IR VR = 5 V – 10 μA 发光强度 IV IF = 20 mA 初始数据 x 0.7 – 耐焊接热 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 振动可变频率 IF = 20 mA 无死灯或明显损坏 版权所有 © 2007-2009 Cree, Inc. 保留所有权利。本文件中的信息若有更改，恕不另行通知。Cree 和 Cree 徽标均是 Cree, Inc. 的注册商标。 21 CLD-CTAP01.002 Cree, Inc. 4600 Silicon Drive Durham, NC 27703 美国电话：+1.919.313.5300 www.cree.com/ledlamps