略語（本号で使った主な略語） AE Acoustic Emission CGL Charge Generation Layer 電荷発生層 CGM Charge Generation Material 電荷発生材料 CTL Charge Transport Layer 電荷輸送層 CTM Charge Transport Material 電荷輸送材料 CVD Chemical Vapor Deposition 化学蒸着 DLC Diamond Like Carbon ECC Exchange-Coupled Composite EFM Electrostatic Force Microscope ETM Electron Transport Material 電子輸送材料 HDD Hard Disk Drive ハードディスクドライブ HDI Head Disk Interface HTM Hole Transport Material ICP-MS Inductively Coupled Plasma-Mass Spectrometry 静電気力顕微鏡 正孔輸送材料 LED Light Emitting Diode 発光ダイオード MASPP Micro Area Surface Potential Probe 微小面積表面電位測定プローブ OPC Organic Photoconductor 有機感光体 OSA Optical Surface Analyzer POD Pin on Disk SCAF Series-Connection through Apertureformed on Film Substrate SEM Scanning Electron Microscope 走査型電子顕微鏡 Signal to Noise Ratio 信号対雑音比 SSD Solid State Drive 半導体ドライブ SWR Shingled-Write Recording 瓦書き記録方式 TAMR Thermally-Assisted Magnetic Recording 熱アシスト磁気記録方式 TDMR Two Dimensional Magnetic Recording 二次元磁気記録 TEM Transmission Electron Microscope 透過型電子顕微鏡 Magneto-Resistance Effect 略語 SNR トンネル磁気抵抗効果 TMR Tunnel UCL Under Coat Layer 下引き層 VSM Vibrating Sample Magnetometer 振動試料型磁力計 富士電機技報 2012 vol.85 no.4 333（69） ＊本誌に記載されている会社名および製品名は，それぞれの会社が所有する 商標または登録商標である場合があります。