CY7C1062G, CY7C1062GE 16-Mbit (512 K words × 32 bits) Static RAM with Error-Correcting Code (ECC) Datasheet( Chinese).pdf

CY7C1062G
CY7C1062GE
初版
带纠错码 (ECC)的 16 Mbit (512 K 字
× 32 位)静态 RAM
带纠错码 (ECC)的 16 Mbit (512 K 字 × 32 位)静态 RAM
特性
■
高速
❐ tAA
■
■
= 10 ns / 15 ns
用于单比特错误校正的嵌入式纠错码 (ECC)
活动模式和待机模式低电流
❐ ICC = 110 mA (最大值)
❐ ISB2 = 30 mA (最大值)
■
工作电压范围:1.65 V 到 2.2 V, 2.2 V 到 3.6 V
■
1.0 V 数据保留
■
取消选择时会自动断电
■
晶体管 - 晶体管逻辑 (TTL)兼容于输入和输出
■
ERR 引脚,用于表示单比特错误的检测和校正
■
采用无铅的 119 球形焊盘塑料球栅阵列 (PBGA)封装形式
功能描述
CY7C1062G 和 CY7C1062GE 是带有嵌入式 ECC 的高性能
CMOS 快速静态 RAM 器件。两者均有三个芯片使能,从而可以
轻松实现存储器的扩展性能。 CY7C1062GE 器件具有一个错误
指示引脚,用于在单比特错误检测和校正事件中通知主机处理
器。
如要写入该器件,需要将 “ 芯片使能 ” 信号 (CE1、 CE2 和
CE3)和 “ 写使能 ”(WE)输入置为低电平。如果 “ 字节使能
A”(BA) 为低电平,那么来自 I/O 引脚(I/O0 到 I/O7)的数据将
被写入到地址引脚 (A0 到 A18)所指定的位置。如果 “ 字节使
能 B” (BB)为低电平,则来自 I/O 引脚 (I/O8 到 I/O15)的数
据将被写入到地址引脚 (A0 至 A18)所指定的位置。同样, BC
和 BD 分别与 I/O 引脚 I/O16 到 I/O23 和 I/O24 到 I/O31 相对应。
要想读取该器件,那么将 “ 芯片使能 ” 信号 (CE1、 CE2 和
CE3)和 “ 输出使能 ” 信号(OE)置为低电平,同时强制 “ 写
入使能 ” 信号(WE)为高电平。如果第一个信号 BA 为低电平,
那么由地址引脚指定的存储器位置上的数据会出现在 I/O0 至 I/O7
上。如果信号 BB 为低电平,则存储器中的数据会出现在 I/O8 至
I/O15 上。同样, BC 和 BD 与第三和第四个字节相对应。请参考
第 16 页上的真值表 — CY7C1062G/CY7C1062GE 以便了解读
写模式的完整说明。
在下面任何一种情况下,输入和输出引脚 (I/O0 到 I/O31)均会
处于高阻抗状态:取消选择该器件 (CE1、 CE2 或 CE3 为高电
平),输出被禁用 (OE 为高电平),字节选择被禁用 (BA-D 为
高电平)或正在写入操作过程中 (CE1、 CE2 和 CE3 为低电平,
以及 WE 为低电平)。
在 CY7C1062GE 器件上,通过设置 ERR 输出(ERR = 高电平)
[1],可以指示访问位置中单比特错误的检测和校正。
CY7C1062G CY7C1062GE 器件在无铅的 119 球形焊盘塑料球
栅阵列 (PBGA)封装中可用。
注释
1. 当检测到错误时,该器件不支持自动回写功能。
赛普拉斯半导体公司
文档编号:001-92016 版本 *A
•
198 Champion Court
•
San Jose, CA 95134-1709
•
408-943-2600
修订日期 August 13, 2014
CY7C1062G
CY7C1062GE
初版
逻辑框图 — CY7C1062G
ECC ENCODER
I/O0‐I/O7
I/O8‐I/O15
I/O16‐I/O23
I/O24‐I/O32
DATAIN DRIVERS
BD
BC
BB
BA
ECC DECODER
512K x 32
RAM ARRAY
SENSE AMPLIFIERS
A0
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A7
A8
A9
ROW DECODER
WE
A10
A11
A12
A13
A14
A15
A16
A17
A18
COLUMN DECODER
WE
BD BC BB BA
OE
CE3
CE2
CE1
逻辑框图 — CY7C1062GE
ECC ENCODER
I/O0‐I/O7
I/O8‐I/O15
I/O16‐I/O23
I/O24‐I/O32
DATAIN DRIVERS
BD
BC
BB
BA
ECC DECODER
512K x 32
RAM ARRAY
SENSE AMPLIFIERS
A0
A1
A2
A3
A4
A5
A6
A7
A8
A9
ROW DECODER
WE
ERR
A10
A11
A12
A13
A14
A15
A16
A17
A18
COLUMN DECODER
WE
BD BC BB BA
文档编号:001-92016 版本 *A
OE
CE3
CE2
CE1
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初版
CY7C1062G
CY7C1062GE
目录
引脚配置 .............................................................................. 4
产品系列概述 ...................................................................... 6
最大额定值 .......................................................................... 7
工作范围 ............................................................................. 7
直流电气特性 ...................................................................... 7
电容 .................................................................................... 8
热电阻 ................................................................................. 8
交流测试负载和波形 ........................................................... 8
数据保留特性 ....................................................................... 9
数据保留波形 ...................................................................... 9
交流开关特性 .................................................................... 10
开关波形 ........................................................................... 11
真值表 — CY7C1062G/CY7C1062GE .............................. 16
ERR 输出 — CY7C1062GE............................................... 16
文档编号:001-92016 版本 *A
订购信息 ............................................................................ 17
订购代码定义.............................................................. 17
封装图 ............................................................................... 18
缩略语 ............................................................................... 19
文档规范 ........................................................................... 19
测量单位 .................................................................... 19
文档修订记录页 ................................................................ 20
销售、解决方案和法律信息 ............................................... 21
全球销售和设计支持 ................................................... 21
产品 ............................................................................ 21
PSoC® 解决方案 ........................................................ 21
赛普拉斯开发者社区 ................................................... 21
技术支持 ..................................................................... 21
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CY7C1062GE
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引脚配置
图 1. 119 球形焊盘 PBGA 引脚分布 (顶层视图) — CY7C1062G [2]
1
2
3
4
5
6
7
A
I/O16
A4
A3
A2
A1
A0
I/O0
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
I/O17
I/O18
I/O19
A18
Bc
VDD
A17
CE2
VSS
CE1
NC
VSS
A16
CE3
VSS
A15
Ba
VDD
I/O1
I/O2
I/O3
I/O20
VSS
VDD
VSS
VDD
VSS
I/O4
I/O21
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
I/O5
I/O22
VSS
VDD
VSS
VDD
VSS
I/O6
I/O23
NC
VDD
VSS
VSS
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
VDD
VSS
I/O7
NC
I/O24
I/O25
VDD
VSS
VSS
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
VDD
VSS
I/O8
I/O9
I/O10
R
T
U
I/O26
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
I/O27
VSS
VDD
VSS
VDD
VSS
I/O11
I/O28
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
I/O12
I/O29
A14
Bd
NC
Bb
A13
I/O13
I/O30
A12
A11
WE
A10
A9
I/O14
I/O31
A8
A7
OE
A6
A5
I/O15
注释
2. NC 引脚并没有内部连接至芯片 (die)。
文档编号:001-92016 版本 *A
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CY7C1062G
CY7C1062GE
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引脚配置 (续)
图 2. 119 球形焊盘 PBGA 引脚分布 (顶层视图) — CY7C1062GE [3]
1
2
3
4
5
6
7
A
I/O16
A4
A3
A2
A1
A0
I/O0
B
C
D
E
F
G
H
J
K
L
M
N
P
I/O17
I/O18
I/O19
A18
Bc
VDD
A17
CE2
VSS
CE1
NC
VSS
A16
CE3
VSS
A15
Ba
VDD
I/O1
I/O2
I/O3
I/O20
VSS
VDD
VSS
VDD
VSS
I/O4
I/O21
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
I/O5
I/O22
VSS
VDD
VSS
VDD
VSS
I/O6
I/O23
ERR
VDD
VSS
VSS
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
VDD
VSS
I/O7
NC
I/O24
I/O25
VDD
VSS
VSS
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
VDD
VSS
I/O8
I/O9
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
I/O10
I/O27
VSS
VDD
VSS
VDD
VSS
I/O11
I/O28
VDD
VSS
VSS
VSS
VDD
I/O12
R
T
U
I/O29
A14
Bd
NC
Bb
A13
I/O13
I/O30
A12
A11
WE
A10
A9
I/O14
I/O31
A8
A7
OE
A6
A5
I/O15
I/O26
注释
3. ERR 是一个输出引脚。
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CY7C1062GE
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产品系列概述
功耗
产品
特性与选项
(请参见第 4 页上的引脚配
置)
范围
速率
VCC 范围 (V) (ns)
工作电流 ICC,(单位
为 mA)
f = fmax
典型值 [4]
CY7C1062G18
CY7C1062G30
CY7C1062GE18
嵌入式 ECC。无 ERR 输出
可选的 ERR 输出引脚
CY7C1062GE30
工业级
待机电流 ISB2,
(单位为 mA)
最大值
典型值 [4]
最大值
20
30
1.65 V – 2.2 V
15
70
80
2.2 V – 3.6 V
10
90
110
1.65 V – 2.2 V
15
70
80
2.2 V – 3.6 V
10
90
110
注释
4. 典型值仅供参考,并不能保证,也未经过测试。典型值的适用条件为:VCC = 1.8 V (VCC 范围为 1.65 V–2.2 V), VCC = 3 V (VCC 范围为 2.2 V–3.6 V), TA = 25
°C。
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CY7C1062GE
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输出电流 (低电平).................................................... 20 mA
最大额定功率
静电放电电压
(根据 MIL-STD-883,方法 3015) ......................... > 2001 V
超过最大额定值可能会影响器件的使用寿命。这些用户指导未经
过测试。
栓锁电流 ................................................................. > 140 mA
存放温度 ..................................................–65 °C 到 +150 °C
通电状态下的环境温度 .............................–55 °C 到 +125 °C
工作范围
VCC 上相对于 GND 的供电电压................... –0.5 V 到 +6.0 V
等级
环境温度
VCC
工业级
–40 °C 至 +85 °C
1.65 V 到 2.2 V,
2.2 V 到 3.6 V
应用于高阻态下的输出的
直流电压 [5] .........................................–0.5 V 到 VCC + 0.5 V
直流输入电压 [5] ...................................–0.5
V 到 VCC + 0.5 V
直流电气特性
工作温度范围为 –40 °C 至 85 °C
参数
VOH
VOL
说明
输出高电平
电压
输出低电平
电压
测试条件
最小值
典型值 [6]
最大值
1.65 V 至 2.2 V VCC = 最小值, IOH = –0.1 mA
2.2 V 至 2.7 V VCC = 最小值, IOH = –1.0 mA
1.4
–
–
2.0
–
–
2.7 V 至 3.6 V VCC = 最小值, IOH = –4.0 mA
2.2
–
–
–
–
0.2
–
–
0.4
1.65 V 至 2.2 V VCC = 最小值, IOL = 0.1 mA
2.2 V 至 2.7 V VCC = 最小值, IOL = 2 mA
–
–
0.4
1.65 V 至 2.2 V –
1.4
–
VCC + 0.2
2.2 V 至 2.7 V
–
2.0
–
VCC + 0.3
2.7 V 至 3.6 V
–
2.0
–
VCC + 0.3
1.65 V 至 2.2 V –
–0.2
–
0.4
2.2 V 至 2.7 V
–
–0.3
–
0.6
2.7 V 至 3.6 V
–
–0.3
–
0.8
2.7 V 至 3.6 V VCC = 最小值, IOL = 8 mA
VIH
VIL
输入高电平
电压
输入低电平
电压 [5]
10 ns/15 ns
单位
V
V
V
V
IIX
输入漏电流
GND < VIN < VCC
–1.0
–
+1.0
mA
IOZ
输出漏电流
GND < VOUT < VCC,输出处于禁用状
态
–1.0
–
+1.0
mA
ICC
工作供应电流
VCC = 最大值,IOUT = 0 f = 100 MHz
mA,
f = 66.7
CMOS 电平
MHz
–
90.0
110.0
mA
–
90.0
80.0
–
–
40.0
mA
–
20.0
30.0
mA
ISB1
自动 CE 断电电流 — TTL 输入 最大 VCC, CE > VIH [7],
VIN > VIH 或 VIN < VIL, f = fMAX
ISB2
自动 CE 断电电流 — CMOS
输入
最大 VCC, CE > VCC – 0.2 V[7],
VIN > VCC – 0.2 V 或 VIN < 0.2 V,f = 0
注释
5. 在脉冲宽度小于 2 ns 时, VIL(min) = –2.0 V 和 VIH(max) = VCC + 2 V。
6. 典型值仅供参考,并不能保证,也未经过测试。典型值的适用条件为:VCC = 1.8 V(VCC 范围为 1.65 V–2.2 V),VCC = 3 V(VCC 范围为 2.2 V–3.6 V),TA = 25 °C。
7. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
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电容
参数 [8]
CIN
说明
测试条件
单位
10
pF
10
pF
119 球形焊盘
PBGA
单位
20.92
°C/W
15.84
°C/W
TA = 25 °C, f = 1 MHz, VCC = VCC(typ)
输入电容
COUT
119 球形焊盘
PBGA
I/O 电容
热电阻
参数 [8]
说明
JA
热电阻
(结温)
JC
热电阻
(结壳)
测试条件
静止空气,被焊接在 3 × 4.5 英寸的四层印刷电路板上
交流测试负载和波形
图 3. 交流测试负载和波形 [9]
高阻特性:
50 
输出
VTH
Z0 = 50 
输出
30 pF*
R2

5 pF*
* 包括
JIG 和
Scope
(a)
* 电容负载包括
测试环境的
所有组件
R1
VCC
(b)
所有输入脉冲
VHIGH
GND
90%
90%
10%
上升时间:
> 1 V/ns
10%
下降时间:
> 1 V/ns
(c)
参数
1.8 V
3.0 V
单位
R1
1667
317

R2
1538
351

VTH
0.9
1.5
V
VHIGH
1.8
3
V
注释
8. 在发生可能影响到这些参数的任何设计或处理流程更改之前和之后进行测试。
9. 完整的器件交流操作假设 0 到 VCC(min) 的升降时间为 100 µs,到 VCC 稳定时需要等待的时间为 100 µs。
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CY7C1062GE
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数据保留特性
工作温度范围为 –40 °C 到 85 °C
参数
VDR
说明
条件
–
数据保留的 VCC
[10],
最小值
最大值
单位
1.0
–
V
ICCDR
数据保持电流
VCC = VDR, CE > VCC – 0.2 V
VIN > VCC – 0.2 V 或 VIN < 0.2 V
–
30.0
mA
tCDR[11]
芯片取消选择到数据保留的时长
–
0
–
ns
tR[12]
操作恢复的时长
VCC > 2.2 V
10.0
–
s
VCC < 2.2 V
15.0
–
s
数据保留波形
图 4. 数据保留波形 [10]
VCC
VCC(min)
tCDR
DATA RETENTION MODE
VDR = 1.0 V
VCC(min)
tR
CE
注释
10. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
11. 在发生可能影响到这些参数的任何设计或处理流程更改之前和之后进行测试。
12. 完整的器件操作要求 VDR 到 VCC(min.) > 100 ms 范围内的线性 VCC 升降时长,或该时长保持在 VCC(min.) > 100 ms。
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CY7C1062GE
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交流开关特性
工作温度范围为 –40 °C 到 85 °C
参数 [13]
说明
10 ns
15 ns
最小值
最大值
最小值
最大值
–
100.0
–
单位
读周期
s
tPOWER
从 VCC (稳定)到第一次访问的时间 [14]
100.0
tRC
读周期时长
10.0
–
15.0
–
ns
–
10.0
–
15.0
ns
3.0
–
3.0
–
ns
–
10.0
–
15.0
ns
tAA
从地址到数据 /ERR 有效的时长
tOHA
地址更改后的数据 /ERR 保持时长
有效的时长 [15]
tACE
CE 为低电平到数据 /ERR
tDOE
OE 为低电平到数据 /ERR 有效的时长
–
5.0
–
8.0
ns
tLZOE
OE 为低电平到低阻态的时长 [16]
0
–
1.0
–
ns
tHZOE
OE 为高电平到高阻态的时长 [16]
–
5.0
–
8.0
ns
3.0
–
3.0
–
ns
tLZCE
CE
为低电平到低阻态的时长 [15、 16]
[15、 16]
tHZCE
CE 为高电平到高阻态的时长
–
5.0
–
8.0
ns
tPU
CE 为低电平到上电的时长 [15、 17]
0
–
0
–
ns
tPD
CE 为高电平到断电的时长 [15、 17]
–
10.0
–
15.0
ns
tDBE
字节使能到数据有效的时长
–
5.0
–
8.0
ns
tLZBE
字节使能到低组态的时长
0
–
1.0
–
ns
字节使能到高阻态的时长
–
6.0
–
8.0
ns
10.0
–
15.0
–
ns
7.0
–
12.0
–
ns
–
12.0
–
ns
tHZBE
写周期 [18、 19]
tWC
tSCE
写周期的时长
CE
为低电平到写周期结束的时长 [15]
tAW
地址建立到写周期结束的时长
7.0
tHA
写周期结束后地址保持的时长
0
–
0
–
ns
tSA
地址建立到写周期开始的时长
0
–
0
–
ns
tPWE
WE 脉冲宽度
7.0
–
12.0
–
ns
tSD
数据建立到写周期结束的时长
5.0
–
8.0
–
ns
tHD
写周期结束后数据保持的时长
0
–
0
–
ns
3.0
–
3.0
–
ns
–
5.0
–
8.0
ns
7.0
–
12.0
–
ns
tLZWE
tHZWE
tBW
WE
为高电平到低阻态的时长 [16]
WE 为低电平到高阻态的时长
[16]
字节使能到写周期结束的时长
注释
13. 假设测试条件如下:信号跳变时长 (上升 / 下降)等于或低于 3 ns,时序参考电平为 1.5 V (对于 VCC > 3 V)和 VCC/2 (对于 VCC < 3 V),输入脉冲电平范围为 0
至 3 V (对于 VCC > 3 V)和 0 至 VCC (对于 VCC < 3V)。除非另有说明,否则读周期的测试条件使用第 8 页上的图 3 中 (a) 部分所显示的输出加载。
14. tPOWER 是指进行第一次存储器访问前供电电源等于稳定 Vcc 的最小时间量。
15. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
16. tHZOE、 tHZCE、 tHZWE、 tHZBE、tLZOE、 tLZCE、 tLZWE 和 tLZBE 的负载电容均为 5 pF,如第 8 页上的图 3 中的 (b) 部分所示。跃变在稳定状态电压 ±200 mV 的条件下测量。
17. 这些参数仅由设计保证,未进行过测试。
18. 应该通过重叠 WE = VIL, CE = VIL 确定存储器的内部写入时长。若要启动写入操作,必须将这些信号处于低电平状态。任一信号转为高电平时,都会中止该操作。终
止写入操作的信号边沿作为输入数据建设和保持时序的参考源。
19. 第二个写周期 (WE 被控制, OE 为低电平)的最小写入脉冲宽度为 tHZWE 和 tSD 的总和。
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开关 波形
图 5. CY7C1062G 的第一个读周期 (地址转换控制) [20、 21]
tRC
ADDRESS
tAA
tOHA
DATA I/O
PREVIOUS DATAOUT
VALID
DATAOUT VALID
图 6. CY7C1062GE 的第一个读周期 (地址转换控制) [20、 21]
tRC
ADDRESS
tAA
tOHA
DATA I/O
PREVIOUS DATAOUT
VALID
DATAOUT VALID
tAA
tOHA
ERR
PREVIOUS ERR VALID
ERR VALID
注释
20. 连续选中该器件, OE 、 CE、 BA、 BB、 BC、 BD= VIL。
21. 在读周期中, WE 为高电平。
文档编号:001-92016 版本 *A
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开关 波形 (续)
图 7. 第二个读周期 (OE 控制)[22、 23、24]
ADDRESS
tRC
CE
tPD
tHZCE
tACE
OE
tHZOE
tDOE
tLZOE
BA-D
tDBE
tLZBE
DATA I/O
HIGH IMPEDANCE
tHZBE
DATAOUT VALID
HIGH
IMPEDANCE
tLZCE
VCC
SUPPLY
CURRENT
tPU
ISB
注释
22. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
23. 在读周期中, WE 为高电平。
24. CE 转为低电平前或处于低电平时,地址会有效。
文档编号:001-92016 版本 *A
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开关 波形 (续)
图 8. 第一个写周期 (CE 控制)[25、 26、27]
tWC
ADDRESS
tSA
tSCE
CE
tAW
tHA
tPWE
WE
tBW
BA-D
OE
tHZOE
DATA I/O
注释 28
tSD
tHD
DATAIN VALID
注释
25. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
26. 应该通过重叠 WE = VIL,CE = VIL 确定存储器的内部写入时长。若要启动写入操作,必须将这些信号处于低电平状态。任一信号转为高电平时,都会中止该操作。终
止写入操作的信号边沿作为输入数据建立和保持时序的参考源。
27. 如果 OE 或 BA、 BB、 BC、 BD = VIH,数据 I/O 会处于高阻抗状态。
28. 在该过程中, I/O 都处于输出状态。请勿应用为输入信号。
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开关 波形 (续)
图 9. 第二个写周期 (WE 被控制, OE 为低电平) [29、 30、 31、 32]
tWC
ADDRESS
tSCE
CE
tBW
BA-D
tSA
tAW
tHA
tPWE
WE
tHZWE
DATA I/O
注释 33
tSD
tLZWE
tHD
DATAIN VALID
注释
29. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
30. 应该通过重叠 WE = VIL,CE = VIL 确定存储器的内部写入时长。若要启动写入操作,必须将这些信号处于低电平状态。任一信号转为高电平时,都会中止该操作。终
止写入操作的信号边沿作为输入数据建立和保持时序的参考源。
31. 如果 OE 或 BA、 BB、 BC、 BD = VIH,数据 I/O 会处于高阻抗状态。
32. 最小写周期脉冲宽度应等于 tHZWE 和 tSD 的总和。
33. 在该过程中, I/O 都处于输出状态。请勿应用为输入信号。
文档编号:001-92016 版本 *A
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开关 波形 (续)
图 10. 第三个写周期 (BA,BB, BC,BD 控制) [34、 35、 36]
tWC
ADDRESS
tSCE
CE
tAW
tSA
tHA
tBW
BA-D
tPWE
WE
tHZWE
DATA I/O
注释 37
tSD
tHD
tLZWE
DATAIN VALID
注释
34. CE 表示三个芯片使能的组合。 CE 处于低电平有效状态时,它表示 CE1、 CE2 和 CE3 均为低电平。 CE 处于高电平状态时,它表示 CE1、 CE2 或 CE3 为高电平。
35. 应该通过重叠 WE = VIL,CE = VIL 确定存储器的内部写入时长。若要启动写入操作,必须将这些信号处于低电平状态。任一信号转为高电平时,都会中止该操作。终
止写入操作的信号边沿作为输入数据建立和保持时序的参考源。
36. 如果 OE 或 BA、 BB、 BC、 BD = VIH,数据 I/O 会处于高阻抗状态。
37. 在该过程中, I/O 都处于输出状态。请勿应用于输入信号。
文档编号:001-92016 版本 *A
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真值表 — CY7C1062G/CY7C1062GE
模式
功耗
高阻态
断电
(ISB)
高阻态
高阻态
断电
(ISB)
高阻态
高阻态
高阻态
断电
(ISB)
CE1 CE2 CE3
OE
WE
BA
BB
Bc
BD
I/O0–I/O7
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
高阻态
高阻态
高阻态
H
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
X[39]
高阻态
高阻态
X[39] X[39] X[39] X[39] X[39] X[39]
高阻态
H
X[39]
X[39] X[39]
H
I/O8–I/O15 I/O16–I/O23 I/O24–I/O31
L
L
L
L
H
L
L
L
L
数据输出
数据输出
数据输出
数据输出
读取所有位
(ICC)
L
L
L
L
H
L
H
H
H
数据输出
高阻态
高阻态
高阻态
仅读取字节
A位
(ICC)
L
L
L
L
H
H
L
H
H
高阻态
数据输出
高阻态
高阻态
仅读取字节
B位
(ICC)
L
L
L
L
H
H
H
L
H
高阻态
高阻态
数据输出
高阻态
仅读取字节
C位
(ICC)
L
L
L
L
H
H
H
H
L
高阻态
高阻态
高阻态
数据输出
仅读取字节
D位
(ICC)
L
L
L
X[39]
L
L
L
L
L
数据输入
数据输入
数据输入
数据输入
写入所有位
(ICC)
L
L
H
H
H
数据输入
高阻态
高阻态
高阻态
仅写入字节
A位
(ICC)
L
L
L
X[39]
L
L
L
X[39]
L
H
L
H
H
高阻态
数据输入
高阻态
高阻态
仅写入字节
B位
(ICC)
L
L
L
X[39]
L
H
H
L
H
高阻态
高阻态
数据输入
高阻态
仅写入字节
C位
(ICC)
L
L
L
X[39]
L
H
H
H
L
高阻态
高阻态
高阻态
数据输入
仅写入字节
D位
(ICC)
L
L
L
H
H
高阻态
高阻态
高阻态
高阻态
选中该项,
输出处于禁
用状态
(ICC)
L
L
L
高阻态
高阻态
高阻态
高阻态
选中该项,
输出处于禁
用状态
(ICC)
X[39] X[39]
X[39] X[39] X[39] X[39]
H
H
H
H
ERR 输出 — CY7C1062GE
输出
0
读操作,存储数据中没有单比特错误。
1
读操作,检测到并纠正了单比特错误。
高阻态
模式
取消选择器件 / 禁用输出 / 写操作
注释
38. 对于所有的双芯片使能器件,CE 是 CE1 和 CE2 的逻辑组合。当 CE1 为低电平,且 CE2 为高电平时,CE 会处在低电平状态;当 CE1 为高电平或 CE2 为低电平时,CE
会处于高电平状态。
39. 这些引脚上的输入电平电压应为 VIH 或 VIL。
文档编号:001-92016 版本 *A
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订购信息
速度
(ns)
10
订购代码
封装图
封装类型
CY7C1062G30-10BGXI
51-85115
119 球型焊盘 PBGA (无铅)
CY7C1062GE30-10BGXI
51-85115
119 球型焊盘 PBGA (无铅)
工作范围
工业级
订购代码定义
CY 7 C 1 06 2
G
E
30 - 10 BG
X
I
温度范围:I = 工业级
无铅
封装类型:BG = 119 球形焊盘 PBGA
速率:10 ns
电压范围:30 = 2.2 V – 3.6 V
ERR 输出单比特错误指示
加工技术:65 nm
数据宽度:2 = × 32 位
密度:06 = 16 Mbit
系列代码:1 = 快速异步 SRAM 系列
技术代码:C = CMOS
市场代码:7 = SRAM
公司 ID:CY = Cypress
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CY7C1062G
CY7C1062GE
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封装图
图 11. 119 球型焊盘 PBGA (14 × 22 × 2.4 mm) BG119 封装外形, 51- 85115
51-85115 *D
文档编号:001-92016 版本 *A
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CY7C1062GE
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缩略语
文档规范
缩略语
说明
测量单位
CE
芯片使能
CMOS
互补金属氧化物半导体
°C
摄氏度
I/O
输入 / 输出
MHz
兆赫兹
输出使能
mA
微安
塑料球栅阵列
ms
微秒
mA
毫安
mm
毫米
ns
纳秒
Ω
欧姆
%
百分比
pF
皮法
V
伏特
W
瓦特
OE
PBGA
SRAM
静态随机存取存储器
TTL
晶体管 - 晶体管逻辑
WE
写入使能
文档编号:001-92016 版本 *A
符号
测量单位
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文档修订记录页
文档标题:CY7C1062G/CY7C1062GE,带纠错码 (ECC)的 16 Mbit (512 K 字 × 32 位)静态 RAM
文档编号:001-92016
版本
**
ECN 编号
4335795
变更者
YUXI
提交日期
04/07/2014
本文档版本号为 Rev**,译自英文版 001-81609 Rev*B。
*A
4473582
LISZ
08/13/2014
本文档版本号为 Rev*A,译自英文版 001-81609 Rev*C。
文档编号:001-92016 版本 *A
更改说明
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时钟与缓冲区
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接口
照明与功率控制
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cypress.com/go/plc
存储器
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触摸感应产品
USB 控制器
无线 /RF
cypress.com/go/memory
cypress.com/go/psoc
psoc.cypress.com/solutions
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文档编号:001-92016 版本 *A
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修订日期 August 13, 2014
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