“ZNR®”サージアブソーバ (D タイプ ) 規格 (E シリーズ ) 項 目 試 験 方 法／定 義 規 格 値 電気特性の測定は下記の条件下で行う。 温度：5 ∼ 35 ℃，相対湿度：85 % 以下。 標準試験状態 ̶̶ バリスタ電圧 定格に規定する電流 1mA を ZNR に流したときの ZNR 両端の端 子間電圧を V1 又は V1mA と表し，バリスタ電圧と称する。測定にあ たっては発熱の影響をさけるためできるだけ速やかに行う。 定格に規定する値を 満足すること。 最大許容回路電圧 連続して印加できる商用周波数正弦波電圧実効値の最大値 , 又は直 流電圧最大値。 定格に規定する値を 満足すること。 定格に規定する 8/20 µs の標準波形インパルス電流を流したとき の ZNR 端子間電圧波高値。 電 流 (%) 100 90 制限電圧 定格に規定する値を 満足すること。 50 10 0 8 μs 20 μs 時間 電 気 的 性 能 最大平均パルス電力 85 ± 2 ℃中にて商用周波の交流電力を 1000 時間連続印加した とき，バリスタ電圧の変化率が± 10 % 以内の最大電力。 エネルギー耐量 10/1000 µs インパルス波 , 又は 2 ms 矩形波を 1 回印加したとき， 定格に規定する値を バリスタ電圧の変化率が± 10 % 以内の最大エネルギー。 満足すること。 サージ 電流耐量 定格に規定する値を 満足すること。 2回 8/20 µs の標準波形インパルス電流を，5 分間隔で 2 回 ZNR に 流したときのバリスタ電圧の変化率が± 10 % 以内の最大電流値。 定格に規定する値を 満足すること。 1回 8/20 µs の標準波形インパルス電流を，1 回 ZNR に流したときの バリスタ電圧の変化率が± 10 % 以内の最大電流値。 定格に規定する値を 満足すること。 バリスタ電圧 温度係数 静電容量 耐電圧 （端子と外装間） 1 V1mA at 85 °C–V1mA at 25 °C × 100(%/°C) × 60 V1mA at 25 °C 0 ~ –0.05 %/°C 以内 周囲温度 20 ± 2 ℃中において , 測定周波数 1 kHz ± 10 %，1 Vrms 定格に規定する値を 以下（ただし，100 pF 以下は 1 MHz）バイアス電圧 0 V で測定する。 満足すること。 JIS C5101-1 4.6（電子機器用固定コンデンサの試験方法）に準拠し て，AC 1500 Vrms を端子，外装間に 1 分間印加し絶縁破壊の有 無を調べる。ただし，外装は素子本体部分とし，端子部分は含まな いものとする。 絶縁破壊のないこと 常温常湿において下表に規定するインパルス電流を 10 秒間隔で 104 又は 105 回印加し，1 時間以上 2 時間以内放置し特性を測定する。 品番 インパルス寿命 項目 回数 電流 インパルス寿命 (I) インパルス寿命 (II) × 104 回 × 105 回 インパルス電流 ERZE05A201 ~ ERZE05A471 50 A (8/20 μs) 35 A (8/20 μs) ERZE07A201 ~ ERZE07A471 100 A (8/20 μs) 70 A (8/20 μs) ERZE08A201 ~ ERZE08A751 150 A (8/20 μs) 85 A (8/20 μs) ERZE10A201 ~ ERZE10A112 170 A (8/20 μs) 90 A (8/20 μs) ERZE11A201 ~ ERZE11A112 200 A (8/20 μs) 110 A (8/20 μs) ERZE14A201 ~ ERZE14A112 250 A (8/20 μs) 120 A (8/20 μs) ΔV1mA/V1mA < 0 ~ +20 % 設計 ･ 仕様について予告なく変更する場合があります。ご購入及びご使用前に当社の技術仕様書などをお求め願い，それらに基づいて購入及び使用していただきますようお願いします。 なお，本製品の安全性について疑義が生じたときは，速やかに当社へご通知をいただき，必ず技術検討をしてください。 06 Feb. 2015 “ZNR®”サージアブソーバ (D タイプ ) 規格 (E シリーズ ) 項 目 試 験 方 法 規 格 値 機 械 的 性 能 端子引張り強度 本体を固定し，端子に規定の引張力を徐々に加え約 10 秒間保持し たのち，外観の異常の有無を目視で調べる。 著しい機械的損傷の リード線径 (mm) f0.6： 9.8 N ないこと。 f0.8： 9.8 N f1.0：19.6 N 端子曲げ強度 端子の方向が垂直になるように本体を保持し，端子の軸方向に規定 の引張力を加え，次に本体が 90 度曲がるまで傾ける。ついで元に もどし，さらに逆方向に 90 度曲がるまで傾けて元へもどす。さらに， 最初の方向に 90 度曲げて元にもどす。以上の操作を徐々に行った 著しい機械的損傷の のち，外観の異常の有無を目視で調べる。 ないこと。 リード線径 (mm) f0.6：4.9 N f0.8：4.9 N f1.0：9.8 N [ ] [ 耐振性 はんだ付け性 はんだ耐熱性 ] 本体をしっかりと振動板に取り付け振動周波数が 10 ヘルツ→ 55 ヘルツ→ 10 ヘルツの範囲で，一様に変化しながら約 1 分間で往復 著しい機械的損傷の するような振幅 0.75 mm（全振幅 1.5 mm）の単弦調和振動を， ないこと。 垂直 3 方向に各 2 時間行い，外観の異常の有無を目視で調べる。 端子の少なくとも はんだの温度 235 ± 5 ℃，浸漬時間 2 ± 0.5 秒間とする。JIS C5101-1 4.15 95 % が連続的な新 しいはんだで覆われ （電子機器用固定コンデンサの試験方法）に準拠して試験を行う。 ていること。 260 ± 5 ℃のはんだ中に 10 ± 1 秒間，端子の根元より 2.0 ∼ 2.5 mm［t=1.5 mm の遮蔽板（プリント基板）使用］のところま で浸漬した後，1 時間以上 2 時間以内室内に放置し，特性を測定する。 ΔV1mA/V1mA < ±5 % JIS C5101-1 4.14（電子機器用固定コンデンサの試験方法）に準拠 して試験を行う。 高温保存 （高温放置） 125 ± 2 ℃中に 1000 時間 , 無負荷で放置した後，常温常湿中に 取り出し，1 時間以上 2 時間以内放置して特性を測定する。 耐湿性 （湿中放置） 40 ± 2 ℃，90 ∼ 95 %RH 中に 1000 時間無負荷で放置した後，常 温常湿中に取り出し，1 時間以上 2 時間以内放置して特性を測定する。 ΔV1mA/V1mA < ±5 % 耐 候 的 性 能 下記のサイクルを 5 回くり返した後，常温常湿中に 1 時間以上 2 時 間以内放置し，外観の異常の有無を目視で調べ，また特性を測定する。 温度サイクル 順序 1 2 3 4 温度（℃） –40±3 常温 125±2 常温 時間（分） 30±3 15±3 30±3 15±3 高温負荷 85 ± 2 ℃中にて，最大許容回路電圧を 1000 時間連続印加した 後常温常湿中に 1 時間以上 2 時間以内放置し，特性を測定する。 耐湿負荷 40 ± 2 ℃，90 ∼ 95 %RH 中にて , 最大許容回路電圧を 1000 時間連続印加した後，常温常湿中に取り出し，1 時間以上 2 時間以 内放置して特性を測定する。 低温保存 （低温放置） ‒40 ± 2 ℃中に 1000 時間無負荷で放置した後，常温常湿中に取 り出し，1 時間以上 2 時間以内放置して特性を測定する。 著しい機械的損傷の ないこと。 ΔV1mA/V1mA < ±5 % ΔV1mA/V1mA < ±10 % ΔV1mA/V1mA < ±5 % 設計 ･ 仕様について予告なく変更する場合があります。ご購入及びご使用前に当社の技術仕様書などをお求め願い，それらに基づいて購入及び使用していただきますようお願いします。 なお，本製品の安全性について疑義が生じたときは，速やかに当社へご通知をいただき，必ず技術検討をしてください。 06 Feb. 2015