AN55659 Migrating from CY14B101L/STK14CA8 to CY14B101LA (Chinese).pdf

AN55659
从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
作者:Ravi Prakash
相关项目:无
相关器件系列:CY14B101L/STK14CA8、CY14B101LA
相关应用笔记:无
AN55659 介绍了 nvSRAM 器件从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 替换的相关内容。本应用笔记还列出了当
将现有的应用从 CY14B101L/STK14CA8 替换为 CY14B101LA 时,器件与设计注意事项之间的参数区别。
表 2. 功能集比较
简介
赛普拉斯 CY14B101LA 是一个采用了 0.13 微米技术的 3 V、
1 Mbit (128 K x 8) nvSRAM 。 该 器 件 的 功 能 与
CY14B101L/STK14CA8 (0.25 µ)相同,作为直接替换器件使
用。(STK14CA8 是 CY14B101L 的 Simtek 器件型号)。本
应 用 笔 记 突 出 显 示 了 CY14B101L/STK14CA8 和
CY14B101LA 间的区别以及反转时必须注意的各个参数。
概述
下面各表对这两种器件的特性和参数分别进行了比较。正如
表 1 中所示,1 Mbit nvSRAM 可分为 x8 和 x16 两种配置。
CY14B101L/
STK14CA8
CY14B101LA
自动存储
可用
可用
软件存储
可用
可用
硬件存储
可用
可用
自动存储使能/禁用
可用
可用
软件回调
可用
可用
–
20 ns
速度
25 ns
25 ns
35 ns
45 ns
–
45 ns
200,000
1,000,000
20 年(55°C)
20 年(85°C)
功能集
表 1. 器件型号说明
说明
原始的器件信号
替换后的器件型号
128 Kb x 8
CY14B101L/STK14CA8
CY14B101LA
对于新的应用,1 Mbit nvSRAM 还有 x16 I/O 的配置选项
(CY14B101NA)。
功能集
这两个器件具有相同的整体功能集,并能以多个速度运行,
如表 2 所示。
存储周期
数据的保留时间:
工作温度范围
CY14B101L/STK14CA8 可以在工业级和商业级温度范围内
运行,而 CY14B101LA 仅能在工业级范围内工作。
表 3. 工作温度范围的比较
工作温度范围
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CY14B101L/
STK14CA8
CY14B101LA
商业级(0 ~ 70 °C)
可用
不可用
工业级(–40 ~ 85 °C)
可用
可用
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1
从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
参数
封装
CY14B101LA 与 CY14B101L/STK14CA8 相兼容,都有相同
的封装类型以及引脚配置,不过 CY14B101LA 还有其他的封
装形式。
表 4. 封装比较
封装
CY14B101L/ STK14CA8
CY14B101LA
32 脚 SOIC
可用
可用
48 引脚 SSOP
可用
可用
44 引脚 TSOPII
不可用
可用
CY14B101LA 是 CY14B101L/STK14CA8 的直接替换器件,
在大部分应用中不需要对应用板进行任何更改。但将一个器
件代替为另一个之前,需要考虑它们各自参数的差别。表 5
中列出了 CY14B101L/STK14CA8 和 CY14B101LA 的参数区
别。
表 5. 参数比较
CY14B101L/STK14CA8
参数
说明
CY14B101LA
速度
单位
最小值
最大值
最小值
最大值
20 ns
–
–
–
70
25 ns
–
70
–
70
35 ns
–
60
–
–
45 ns
–
55
–
52
–
–
3
–
10
直流参数
ICC1
VCC 的平均电流
mA
在存储过程中
ICC2
VCC 的平均电流
mA
ICC3
ICC4
ISB
VCAP
VCC 的平均电流
(tRC = 200 ns、3 V、25 °C)
在自动存储周期内
–
10(典型值)
35(典型值)
–
–
3
–
5
mA
VCC 的待机电流
–
–
3
–
5
mA
存储电容
–
VCAP 的平均电流
17 ~ 120
61 ~ 180
uF
交流切换参数
读和写周期参数相同
自动存储/加电回调时的参数
tSTORE
tDELAY
存储周期持续时间
完成 SRAM 写入周期的时间
–
–
12.5
–
8
20 ns
–
–
–
20
25 ns
1,000
70,000
–
25
35 ns
1,000
70,000
–
–
45 ns
1,000
70,000
–
25
ms
ns
VHDIS
HSB 输出禁用的电压
–
未指定
–
1.9
V
tLZHSB
HSB 到输出有效的时间
–
未指定
–
5
us
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从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
CY14B101L/STK14CA8
参数
说明
单位
最小值
tHHHD
CY14B101LA
速度
–
HSB 高电平有效的时间
最大值
最小值
最大值
–
500
ns
未指定
软件控制的存储/回调周期参数
tHA
tRECALL
tSS
地址保持时间
–
1
–
0
–
ns
回调期间
–
–
120
–
200
us
软序列处理时间
–
–
70
–
100
us
硬件存储周期参数
tDHSB
HSB 为低电平到存储繁忙的时间
–
未指定
–
25 (tDELAY)
ns
HSB 未设置写入锁存时,到输出有效的时
长
–
未指定
–
25
ns
重要的注意事项
本节中讨论了 CY14B101LA 和 CY14B101L/STK14CA8 的区
别在现有应用中可能引起的影响。当将其替换为一个新的器
件时,建议系统设计师首先查看详细的数据手册。
速度为 25 ns 的器件(因为 CY14B101LA 不支持 35 ns 的速
度)。
自动存储/加电回调参数
直流参数
CY14B101L/STK14CA8 的 ICC1 ( 全 速 平 均 电 流 ) 与
CY14B101LA 上相应的值相同,因此,在将 nvSRAM 替换为
CY14B101LA 时,即使器件在低速/待机模式下运行时电流消
耗值会更高,CY14B101L/STK14CA8 应用中的电源设计仍
无需更改。需要考虑 VCAP 参数。
VCAP
VCAP 电容为自动存储操作提供所需电荷,使之在断电时仍能
够存储非易失性 SRAM 的数据。两个器件所需要的电容值大
小也不一样。
表 6. VCAP 的比较
说明
CY14B101L/
STK14CA8
CY14B101LA
VCAP
17 µF ~ 120 µF
61 µF ~ 180 µF
电压额定值
6V
4V
因此,在所有现有的应用中,如果使用的电容值超过了重叠
范围(61 µF ~ 120 µF),则当给新电容充电时需要考虑电容
尺寸所产生的影响。由于不能像 CY14B101L/STK14CA8 中
一样使 VCAP 增大超过 VCC 的值,因此要求 CY14B101LA 电
容的电压额定值较低。
与 CY14B101L/STK14CA8 相比,CY14B101LA 中的自动存
储/上电回调参数性能更好,因此替换时无需对应用进行任何
更改。改进的详情一节中介绍了这些改进内容。
软件控制的存储/回调周期参数
在 CY14B101LA 中,软件回调时间(tRECALL)和软件序列处
理时间(tSS)较久,如表 7 所示。
表 7. 软件控制的存储/回调周期参数的比较
说明
CY14B101L/
STK14CA8
CY14B101LA
tRECALL
120 µs
200 µs
tSS
70 µs
100 µs
该差异要求固件更改现有的应用,以便在初始化软件回调或
自动存储使能/禁用周期时延长控制器的等待时间。
注意: 在 CY14B101L/STK14CA8 中,只有经过 tSS 时间后
发出存储或回调指令才能禁止读/写操作。在 CY14B101LA
中,读/写操作在经过 tDELAY 时间后被禁止,并继续保持禁用
状态,直到软指令结束(tSS 或 tRECALL 或 tSTORE)为止。这是
一项改进,但初始化软件序列后,在 tSS 时间内执行读/写操
作的应用需要固件进行更改,以延长等待时间。
注意:容值范围是电容的绝对值, 即净容差。
软件序列
交流切换参数
设计 CY14B101LA,使得它与 CY14B101L/STK14CA8 在软
件序列模式下相兼容。因此,CY14B101L/STK14CA8 中相
同的软件存储和回调地址序列也可以在 CY14B101LA 中实现,
而无需对固件进行任何更改。
在速度相等时,CY14B101LA 和 CY14B101L/STK14CA8 的
交流参数完全相同。为了替换速度为 35 ns 的器件,请选择
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从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
硬件存储周期参数
tDELAY
CY14B101LA 中已经改进了硬件存储参数,因此替换时应用
不用进行更改。改进的详情一节中也介绍了这些改进。
如果设置了写锁存,并且HSB引脚被设为低电平,则在开始
存储并禁止读写操作前,CY14B101L/STK14CA8 提供 1 µs
到 70 µs 的时间用于完成写操作。这样可允许在 tDELAY 的持续
时间内将数据无意写入到 nvSRAM 内。
存储周期
与旧技术相比,CY14B101LA 中的非易失性存储周期耐久性
提高了 5 倍,因此能对它执行 100 万个存储周期(则旧版本
的器件仅支持 20 万个存储周期)。
数据的保留时间:
CY14B101LA 器件中的数据保留时间比采用旧技术的器件更
长。CY14B101LA 的数据保留时间在温度为 85 °C 的条件下
是 20 年,而 CY14B101L/STK14CA8 在温度为 55 °C 时的数
据保留时间是 20 年。因此在同一个温度条件下,其数据保留
时间已提高了 20 倍。
注意:写锁存:当进行写操作时,会内部设置‘写锁存’。
如果HSB被下拉为低电平,则 nvSRAM 将在初始化存储前检
查该写锁存。这样可以避免在耐久性周期中发生任何不必要
的损失。
在 CY14B101LA 中,HSB被设为低电平后,DELAY 参数仅提
供一个写周期的时间来完成正在进行的写操作。这项改进为
无意执行的写操作提供了更好的安全性保护。
硬件存储相关的改进
此外,在 CY14B101LA 中,如果HSB在 tPHSB 的最短时间内
被外部下拉为低电平,则HSB引脚的输出驱动器会将此引脚
设为低电平,仅用于指示在 20 到 25 ns (tDELAY)期间发生
了存储操作。但在 CY14B101L/STK14CA8 中并不针对低电
平的HSB引脚指定该参数来表示存储繁忙。(请参见图 1 和
图 2)
HSB 引 脚 ( 硬 件 存 储 繁 忙 指 示 / 硬 件 存 储 初 始 化 )
HSB 低 电 平 ( 若 未 设 置 写 锁 存 )
nvSRAM 的HSB引脚是一个开漏 I/O 引脚,用于指示或初始
化存储操作。正在进行存储时,nvSRAM 将HSB引脚下拉为
低电平,指示器件繁忙并无法进行读/写访问操作。正常操作
中,可将HSB引脚设为低电平,用以初始化硬件存储配置。
如果从最后的存储/回调操作后一直未进行任何写操作,那么
HSB为低电平时将不会启动存储操作。但是在 CY14B101L/
STK14CA8 器件中,HSB引脚在 1 µs 到 70 µs(tDELAY)的
时间内仍被内部拉低。
正 如 表 5 所 示 , 从 CY14B101L/STK14CA8 转 换 为
CY14B101LA 时,某些与HSB引脚输入和输出相关的时序参
数会发生变化。所有这些变化都是从原始器件规范执行的改
进,并应视为您应用中在替换为新器件型号时获得的额外优
点。
如果未设置写锁存,则 CY14B101LA 不会将HSB引脚内部拉
低。这项改进可以防止两个 nvSRAM 器件的HSB引脚被连接
时进入无限的循环状态。
改进的详情
图 1. CY14B101L/STK14CA8:相关的交流参数 HSB
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从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
图 2. CY14B101LA:相关的交流 HSB
已设置写锁存
未设置写锁存
上电回调相关的改进
CY14B101LA 中的其他参数(如HSB输出禁用时的电压
(VHDIS)、HSB到输出有效的时间(tLZHSB)以及HSB为高
电平有效的时间(tHHHD ))对系统设计也很有帮助。请参
见图 3 和图 4,了解有关上电时其他规范的定义。另外,请
注意HSB仍保持低电平,直到完成新器件中上电过程为止。
这样可防止系统在芯片真正完成启动操作前无意中认为已经
完成了。
图 3. CY14B101L/STK14CA8:上电回调
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从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
图 4. CY14B101LA:上电回调
总结
本应用笔记讨论了分别采用最新 0.13 微米技术与 0.25 微米
技术的 CY14B101L/STK14CA8 间的差别。在新的器件中
已经优化/指定了与HSB和上电相关的一些参数,从而可以
加快器件的响应速度,提供更好的数据安全性,并简化了设
计。
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CY14B101LA 与 CY14B101L/STK14CA8 的引脚相兼容,
并可以替换 CY14B101L/STK14CA8 器件,而在大部分应
用中不需要对应用板进行任何更改。替换时,需要考虑到现
有应用中的 VCAP 值以及软件回调和自动存储使能/禁用周期
中的控制器的等待状态。
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从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
文档修订记录
文档标题:从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换 — AN55659
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修订版
**
ECN
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原始变更
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提交日期
05/27/2014
变更说明
本文档版本号为 Rev.**,译自英文版 001-55659 Rev.*D。
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从 CY14B101L/STK14CA8 到 CY14B101LA 的替换
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