RA6963-RL(HTS&LTS Report)

瑞佑科技股份有限公司
台灣新竹科學工業園區工業東四路 19-1 號 7 樓
TEL：886-3-5637888
FAX：886-3-5637666
RA6963
LCD 控制器
HTS/LTS 測試報告
受委託之檢測單位 : 清盛電子股份有限公司
台灣高雄市楠梓加工出口區中央路37之2號
檢測完成日期
: 西元 2010 年 3 月 16 日
製造公司名稱
: 瑞佑科技股份有限公司
台灣新竹科學工業園區工業東四路 19-1 號 7 樓
TEL：886-3-5637888
FAX：886-3-5637666
I
CHANT WORLD
Technology, Inc.
RAiO Technology Inc.
高溫及低溫實驗測試報告
Report Date： Mar. 16 ’2010
Prepared：
Sharon
Approval：
YT Lee
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報告內容
1. 一般說明
1.1 待測物敘述................................................................................................................. 頁次 2
1.2 待測物測試擺置條件 ................................................................................................... 頁次 2
1.3 待測物功能動作條件 ................................................................................................... 頁次 2
2. 高溫測試
2.1 測試設備功能敘述....................................................................................................... 頁次 3
2.2 實驗室環境條件.......................................................................................................... 頁次 3
2.3 測試參考文件 .............................................................................................................. 頁次 3
2.4 測試條件..................................................................................................................... 頁次 3
2.5 測試結果..................................................................................................................... 頁次 3
3. 低溫測試
3.1 測試設備功能敘述....................................................................................................... 頁次 4
3.2 實驗室環境條件.......................................................................................................... 頁次 4
3.3 測試參考文件 .............................................................................................................. 頁次 4
3.4 測試條件..................................................................................................................... 頁次 4
3.5 測試結果..................................................................................................................... 頁次 4
附件 ............................................................................................................................................ 頁次 5~7
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1. 一般說明
1.1待測物敘述
1. Company: RAiO
2. Part No: RA6963L2NA (Datecode: 1001-N)
3. Package : LQFP67, 14*20mm
4 . Q'ty : 50 / 50 (total 100ea)
5. Test Items :
5.1. HTS : 150°C, 1000hours (各自取 50ea IC，單獨作HTS) ;
5.2. LTS : -50°C, 1000hours (各自取 50ea IC，單獨作LTS)
1.2待測物擺置及週邊簡圖：
如附件照片
1.3待測物功能動作條件：
無
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2. 高溫測試
2.1測試設備功能敘述
測試機台
RISEN
型號
RHD-603T
2.2實驗室環境條件
溫度：21±3℃
相對濕度：23%±3%
2.3測試參考文件
測試條件係依據委託公司要求
2.4測試條件
待測物為靜態狀態
測試溫度：150℃
測試時間：1000小時
2.5測試結果
2.5.1 測試結束後，觀察產品外觀，無異常情況。
2.5.2 經客戶自行執行功能測試(Functional Test)，全部合格。
校驗有效日期
2010/07/14
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3. 低溫測試
3.1測試設備功能敘述
測試機台
Haier
型號
DW-50W255
3.2實驗室環境條件
溫度：21±3℃
相對濕度：23%±3%
3.3測試參考文件
測試條件係依據委託公司要求
3.4測試條件
待測物為靜態狀態
測試溫度：-50℃
測試時間：1000小時
3.5測試結果
3.5.1 測試結束後，觀察產品外觀，無異常情況。
3.5.2 經客戶自行執行功能測試(Functional Test)，全部合格。
校驗有效日期
2010/07/19
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附件 1:高溫測試照片
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附件 2:低溫測試照片
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附件 3:高溫之功能測試報告
附件 4:低溫之功能測試報告
功能測試報告為瑞佑科技股份公司提供