ME2802 系列 Ver 01 ME2802 系列低功耗电压检测器 特点 ME2802 系列是高精度低功耗电压检测器， 采用 CMOS 工艺技术制造，检测电压精确度 高，且温度漂移小。 • 高精度： ±1%； 输出方式：N 沟 开 漏 输 出 • 低功耗电流： TYP 0.7uA (Vin=1.5V)； • 检测电压范围：检测电压 2.1-4.4V,步长 0.1V； • 工作电压范围：0.7V~7V； • 检测电压温度特性：TYP±100ppm/℃； • 输出形式：N 沟 开 漏 ； • 封装形式：SSOT-24，SOT23，SOT89，TO92。 选型指南 用途 • • • • • 型号 ME2802Axx 后缀 M3 N P T T1 封装 SOT23-3 SSOT24 SOT89-3 TO92 TO92 微处理器复位电路； 存贮器电池后备电路； 上电复位电路； 掉电检测； 系统电池寿命和充电电压监视。 输出类型 NMOS 1(8) ME2802 系列 Ver 01 引脚排列图 3 4 SSOT24 SOT23-3 1 3 2 1 2 引脚分配 ME2802Axx SOT23 2 1 3 SSOT24 4 1 2 3 引脚号 SOT89 3 1 2 TO92(T) 3 1 2 TO92(T1) 2 3 1 符号 FUNCTION Vss Vout Vin NC 接地引脚 输出引脚 输入引脚 空 功能块框图 2(8) ME2802 系列 Ver 01 极限参数 参数 输入电压 输出电流 输出电压 充许最大功耗 符号 VIN Iout Vout SSOT24 SOT23 SOT89 TO92 工作温度 存贮温度 焊接温度和时间 主要参数及工作特性 符号召 含义 VDF 检测电压 VHYS 迟滞范围 Iss 工作电流 VIN 工作电压 IOUT 输出电流 ∆VDF/( ∆topr*VDF) 温度特性 极限值 8 50 Vss-0.3~Vin+0.3 150 150 500 300 -40~+85 -40~+125 260℃, 10s Pd TOpr Tstg Tsolder (VDF(T)=2.1V to 3.0V±1% 测试条件 Vin=1.5V =2.0V =3.0V =4.0V =5.0V VDF(T)=1.6V to 6.0V N-ch VDS=0.5V VIN=1.0V =2.0V =3.0V =4.0V =5.0V -40℃≤Topr≤ 85℃ 最小 VDF* 0.99 VDF* 0.02 Ta=25℃) 数值 典型 VDF VDF* 0.05 0.7 0.8 0.9 1.0 1.1 0.7 1.0 3.0 5.0 6.0 7.0 单位 V mA V mW mW mW mW ℃ ℃ 最大 VDF* 1.01 VDF* 0.08 2.3 2.7 3.0 3.2 3.6 7 2.2 7.7 10.1 11.5 13.0 ±100 单位 V V uA V mA ppm/℃ 注意：1、VDF(T) ：额定检测电压值 2、释放电压：VDR=VDF+VHYS 3(8) ME2802 系列 Ver 01 功能描述 功能描述 1、 当输入电压(VIN)上升到大于检测电压(VDF)时，输出电压(VOUT) 将等于VIN。 2、 当输入电压(VIN) 下降到低于检测电压(VDF)时，输出电压(VOUT) 将等于地电平(VSS) 。 3、 当输入电压(VIN) 下降到低于最小工作电压(VMIN)时，输出将变得不稳定。在这种情况下，VIN 将等于上 拉输出( 输出上拉)。 4、 当输入电压(VIN) 上升到大于地电平(VSS) 时，如VIN小于最小工作电压(VMIN)，输出将变得不稳定；如VIN 大于最小工作电压，又小于 检测释放电压(VDR) ，输出将稳定在地电平(VSS) 。 5、 当输入电压(VIN) 上升到大于检测释放电压(VDR)时，输出电压(VOUT) 将等于VIN。 6、 VDR 和 VDF 之差就是迟滞范围。 时序图 4(8) ME2802 系列 Ver 01 使用注意事项 1、 使用 ME2802A 系列 IC 时，必需符合极限参数的要求，否则将引起器件老化或永久损坏。 2、 对 CMOS 输出型产品， 在 VIN 脚和输入间接一个电阻， 由于负载电流(IOUT)的存在， RIN 上产生压降，最 终导致振荡的发生。(参见下面的振荡描述 1) 3、 在 VIN 脚和输入间接一个电阻， 即使没有负载电流(IOUT)的存在，电压释放时的电流，同样会引起振荡的发 生。(参见下面的振荡描述 2) 4、在 VIN 脚和输入间接一个电阻，由于 IC 的工作电流流过 VIN 脚，会导致检测和释放电压升高。 5、为使用 ME2802A 系列 IC 稳定工作，应确保 VIN 脚输入频率的上升和下降时间大于几个 u Sec/V。 振荡描述 1、 输出电流(IOUT )引起的振荡 当 IN 上的工作电压上升时， 释放操作开始，检测器输出电压上升。负载电流(IOUT) 将流过 RL，在输入 IN 和 VIN 脚间产生压降(RIN*IOUT)，负载电流经过 IC 的管脚。这个压降也会导致 VIN 脚上的电压下降。当 VIN 脚 上的电压下降到检测电平时，检测操作开始。伴随着检测操作的发生，负载电流消失，RIN 上的压降也消失， VIN 上的电压将上升，释放操作将重新开始。随着“释放-检测-释放”的重复，振荡将发生。另外，按同样的 机制，在检测过程中也会发生振荡。 2、 工作电流(ISS)引起的振荡 因为 ME2802A 系列产品是 CMOS IC，当 IC 内部开关工作（释放和检测操作）时，有电流流过。 因此，在 释放操作期间，此电流通过(RIN)引起输入端电压下降，将导致振荡的发生。 因为迟滞现象的存在，在检测 期间，振荡不太可能发生。 典型应用 5(8) ME2802 系列 Ver 01 工作特性曲线 1、 、 工作电流 vs. 输入电压 2、 、 检测， 检测，释放电压 vs. 环境温度 6(8) ME2802 系列 Ver 01 3、 、 输出电压 vs. 输入电压 7(8) ME2802 系列 Ver 01 封装尺寸 8(8)