QRT/XC61FxxxxxTx-G_14 信頼性試験結果 Reliability Test XC61Fシリーズ XC61F Series パッケージ Package ： TO-92 RoHS対応品 RoHS Compliance ハロゲン/アンチモンフリー Halogen & Antimony-Free 時間 Hours 試験結果 Result r/n 125℃ VIN=10.8V 1000 0/22 125℃ 1000 0/22 85℃85%RH VIN=10.8V 1000 0/22 100CYC. 0/22 100 0/22 試験項目 Test Item No. 1 高温バイアス 試験条件 Test Conditions High Temperature Bias 2 高温保存 High Temperature Storage 3 高温高湿バイアス Temperature Humidity Bias 4 温度サイクル -55℃～125℃ 各30分 Temperature Cycle 30min Each (Gaseous) 5 プレッシャークッカーバイアス 125℃85%RH VIN=10.8V 5 HAST 2×10 Pa 6 はんだ耐熱 Resistance to リード根元迄浸漬 260℃10sec Immersed up to lead base. 0/22 R=0Ω C=200pF ±200V以上 各端子3回 0/20 Soldering Heat 7 静電耐圧 Electric Static Discharge. ±200V over 3times Each R=1500Ω C=100pF ±1kV以上 各端子3回 ±1kV over 3times Each 8 ラッチアップ R=0Ω C=200pF ±100V以上 各端子3回 Latch-Up 0/5 ±100V over 3times Each 50mA以上 50mA over パッケージ代表データ Performed with samples that represent the applicable PKG type. No. 試験項目 Test Item 1 端子引っ張り Terminal Strength 2 端子折り曲げ 試験条件 Test Conditions 2.5N 10秒 試験結果 Result r/n 0/5 2.5N 10s 250g 0～90° 0/5 240℃ 3秒 1回 0/11 Terminal Perform 3 はんだ付け性 Solderability 3s 1time