QRT/XC9131xxxxDx-G_00 信頼性試験結果 Reliability Test XC9131ｼﾘｰｽﾞ(ドライバーTr.内蔵1A，高機能昇圧DC/DC コンバータ) XC9131 Series (1A Driver Transistor Built-In, Multi Functional Step-Up DC/DC Converters) パッケージ Package : USP-10B RoHS対応品 RoHS Compliance ハロゲン/アンチモンフリー Halogen & Antimony-Free 試験項目 試験条件 時間 試験結果 Test Item Test Conditions Hours Result r/n 125℃ VIN=5.4V 1000 0/22 150℃ 1000 0/22 85℃85%RH VIN=5.4V 1000 0/22 100CYC. 0/22 100 0/22 No. 1 高温バイアス High Temperature Bias 2 高温保存 High Temperature Storage 3 高温高湿バイアス Temperature Humidity Bias 4 温度サイクル Temperature Cycle (Gaseous) 5 プレッシャークッカーバイアス -55℃～125℃ 各30分 30min Each 125℃85%RH VIN=5.4V 5 HAST 2×10 Pa 6 はんだ耐熱 Resistance to Soldering Heat 7 静電耐圧 0/110 85℃85%RH168h→reflow(150～200℃170秒/260℃50秒)3times→ 85℃85%RH24h→reflow(150～200℃170秒/260℃50秒)1times IPC/JEDEC J-STD-020D 準拠 R=0Ω C=200pF ±200V以上 各端子3回 Electric 0/20 ±200V over 3times Each Static Discharge. 8 ラッチアップ R=1500Ω C=100pF ±1kV以上 各端子3回 ±1kV over 3times Each R=0Ω C=200pF ±100V以上 各端子3回 Latch-Up 0/5 ±100V over 3times Each 50mA以上 50mA over 試験項目 試験条件 試験結果 Test Item Test Conditions Result r/n No. 1 接合強度試験 Adhesive strength test PKG側面を10N 10秒間加圧する (EIAJ ED7403) 0/5 apply a pressure of 10N on the side face of the PKG for 10sec. 2 基板反り試験 Bending Test 3 はんだ付け性 たわみ量 5mm 5±1s 1回/1times (EIAJ ED4702) Solderability 10s (Temperature profile method ) 0/5 Strain 230℃10秒(プロファイル昇温法) 0/11 ﾊﾟｯｹｰｼﾞ代表 ﾃﾞｰﾀ Performed with samples that represent the applicable PKG type. Ver.01