FEJ 75 10 563 2002

富士時報
Vol.75 No.10 2002
U シリーズ IGBT モジュール(1,200 V)
小野澤 勇一(おのざわ ゆういち)
吉渡 新一(よしわたり しんいち)
まえがき
大月 正人(おおつき まさひと)
ターンオフ損失のトレードオフを,図2に出力特性の比較
を示す。図1から,1,200 V U シリーズ IGBT のトレード
汎用インバータや無停電電源装置(UPS)に代表される
オフが,前世代の S シリーズ〔プレーナ NPT(Non Punch
電力変換機器は,常に高効率化・小型化・低価格化・低騒
Through)- IGBT〕に対して飛躍的に改善されていること
音化が要求されている。このため,インバータ回路に用い
が分かる。上記の劇的な特性改善は NPT を進化させた
られる電力変換用素子にも高性能化・低価格化が求められ
フ ィ ー ル ド ス ト ッ プ 構 造 と , MOSFET( Metal Oxide
ている。電力変換用素子にはその低損失性,駆動回路の容
Semiconductor Field Effect Transistor)で培われたトレ
易さから,現在では IGBT(Insulated Gate Bipolar Tran-
ンチゲート構造の採用によるものである。次節でそれぞれ
sistor)が主に使われており,富士電機においても 1988 年
の構造を解説する。
の製品化以来,さらなる低損失化・低価格化を進めてきた。
本稿では,トレンチゲート構造とフィールドストップ
2.1 フィールドストップ構造
(FS)構造の採用により,第四世代 IGBT モジュール(S
図3 にプレーナ NPT-IGBT とプレーナ FS-IGBT の断
シリーズ)に対して,大幅にトレードオフ特性を改善した
面図を示す。NPT-IGBT ではオフ時に空乏層がコレクタ
第五世代 IGBT モジュール(U シリーズ)のうち,主に海
側に接触しないようにドリフト層を厚くする必要があるが,
外の 400 V AC 電源ラインで使用される 1,200 V 系につい
FS-IGBT では空乏層を止めるためのフィールドストップ
て紹介する。
層が形成されているため,NPT に対してドリフト層の厚
さを薄くできる。このため,VCE(sat)を低減することがで
新型 IGBT の特徴
きる。また FS-IGBT ではドリフト層の厚さが薄いため過
剰キャリヤが少なく,また空乏層が伸びきった状態での中
図 1 に 今 回 開 発 を 行 っ た 新 型 IGBT( ト レ ン チ FS -
IGBT)のコレクタ
-
エミッタ間飽和電圧(VCE(sat))と
図1 VCE(sat)- ターンオフ損失間のトレードオフ
図2 出力特性の比較
160
トレンチFS-IGBT 1,200 V/150 A
V CC=600 V,I C=150 A,
V G=+15 V/−15 V
125 ℃
20
125 ℃
室温
15
プレーナ
NPT-IGBT
室温
トレンチ
FS-IGBT
10
5
1.2
1.4
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
ことができる。
コレクタ電流密度 J C(A/cm2)
ターンオフ損失(mJ/pulse)
25
性領域の残り幅が少ないため,ターンオフ損失を低減する
2.6
125 ℃
120
室温
125 ℃
80
プレーナNPT-IGBT
40
0
0
2.8
室温
トレンチFS-IGBT
0.5
V CE(sat(V)
)
1.0
1.5
2.0
V CE(sat(V)
)
2.5
小野澤 勇一
吉渡 新一
大月 正人
3.0
パ ワ ー 半 導 体 デ バ イ ス , MOS
IGBT モジュール開発設計および
パ ワ ー 半 導 体 デ バ イ ス , MOS
ゲートパワーデバイスの研究開発
応用技術開発に従事。現在,富士
ゲートパワーデバイスの研究開発
に従事。現在,松本工場半導体基
日立パワーセミコンダクタ(株)松
に従事。現在,富士日立パワーセ
盤技術開発部。
本事業所開発設計部。
ミコンダクタ(株)松本事業所開発
設計部。
563(15)
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U シリーズ IGBT モジュール(1,200 V)
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図5 短絡波形
図3 IGBT 単位セルの断面比較
ゲート
ゲート
エミッタ
n+
p
短絡試験( Vcc=800 V,T j =125 ℃のとき)
エミッタ
n+
p
VGE
n−(ドリフト層)
n−(ドリフト層)
VCE
VGE =0
フィールドストップ層
コレクタ
n
p
T W =24.6 s
E SC=8.36J
IC
空乏層端
VCE ,I C =0
p
コレクタ
(a)プレーナNPT-IGBT
1,200 V/150 Aトレンチ FS- IGBT
V CE:200 V/div,I C:500 A/div,
時間:5 s/div,V GE:20 V/div
(b)プレーナFS-IGBT
図4 IGBT 単位セルの断面比較
図6 ターンオン波形比較
エミッタ
エミッタ
層間絶縁膜
ターンオン
( T j =125 ℃のとき)
1,200 V/50 A
従来型
PiN
n+
p
n+
p
コレクタ
コレクタ
(a)プレーナFS-IGBT
(b)トレンチFS-IGBT
T1
n−
TR16
ゲート
n−
VCE :200 V/div
I C:25 A/div
時間:200 ns/div
新型
FWD
T2
ゲート
層間絶縁膜
図7 FWD の出力特性の比較
2.2 トレンチゲート構造
100
図 4 にトレンチ FS-IGBT の断面図を示す。トレンチ
ゲート構造を用いることによって,チャネル密度を向上さ
を大幅に低減することができる。
一方でトレンチ IGBT ではチャネル密度が高いため,短
絡耐量が低いことが問題になるが,本構造では MOS の総
チャネル長を最適化することにより,VCE(sat)を犠牲にす
。
ることなく,高い短絡耐量を実現している(図5)
80
1,200 V/75 A
FWD
60
40
125 ℃
室温
20
0
順方向電流(A)
と問題になる JFET 部分の抵抗も零にできるため,VCE(sat)
従来型PiN
80
順方向電流(A)
せることができるとともに,プレーナでセル密度が上がる
100
新型FWD
60
125 ℃
40
室温
20
0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5
順方向電圧(V)
0
0 0.5 1.0 1.5 2.0 2.5 3.0 3.5
順方向電圧(V)
新型 FWD の特徴
IGBT の高速化に伴い,スイッチング時の振動が大きな
問題になっている。富士電機では,FWD(Free Wheeling
Diode)の表面構造とバルクの不純物プロファイルを最適
また,今回開発した FWD ではライフタイムキラーの最
化することにより,ソフトリカバリー化を実現し,高
適化により出力特性の温度係数を正にしたことにより,並
。
di/dt においても振動を抑制することに成功した(図6)
列運転に適したデバイスとなった(図7)
。
564(16)
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表1 1,200 V U シリーズ IGBT モジュールの特性
表2 1,200 V U シリーズ IGBT モジュールの系列概要
(a)絶対最大定格(記述がなければ T c =25 ℃)
項 目
記 号
コレクタ エミッタ間電圧
ゲート エミッタ間電圧
条 件
最大定格
単位
V CES
1,200
V
V GES
±20
V
IC
Tc =25 ℃
150
Tc =80 ℃
100
Tc =25 ℃
300
A
200
1ms
− I C pulse
Pc
接 合 温 度
Tj
200
1素子
保 存 温 度
Tstg
絶縁耐圧
(パッケージ)
V iso
EP3
100
−I C
600
W
150
℃
−40∼+125
℃
2,500
V
AC:1min
マウンティング
3.5
ターミナル
3.5
HEP3
(b)電気的特性(記述がなければ T c =25 ℃)
新型 PC2
特 性
記 号
条 件
typ.
max.
ー
1.0
I CES
V GE =0 V
V CE =1,200 V
ー
ゲート エミッタ間
漏れ電流
I GES
V CE =0 V
V GE =±20 V
ー
ー
0.2
ゲート エミッタ間
しきい値電圧
VGE(th)
V CE =20 V
I C =100 mA
ー
7.0
ー
T j =25℃
ー
1.95
ー
T j =125℃
ー
2.2
ー
T j =25℃
ー
1.75
ー
T j =125℃
ー
mA
1,200
(Terminal)
V CE(sat)
V GE =
15 V
IC=
100 A
(Chip)
入 力 容 量
C ies
出 力 容 量
C oes
A
2.0
ー
0.8
ー
ー
t on
1.2
ー
ー
V CC =600 V
I C =100 A
V GE =±15 V
R g =4.7 Ω
ターンオフ時間
nF
t rr
ー
ー
0.6
ー
ー
1.0
ー
ー
0.3
T j =25℃
ー
2.0
ー
T j =125℃
ー
2.0
ー
T j =25℃
ー
1.8
ー
T j =125℃
ー
1.8
ー
ー
ー
0.35
R th(j-c)
ケース - フィン間熱抵抗
R th(c-f)
7MBR35UA120
35
7MBR35UB120
50
7MBR50UB120
75
7MBR75UB120
10
7MBR10UC120
15
7MBR15UC120
25
7MBR25UC120
35
7MBR35UC120
35
7MBR35UD120
50
7MBR50UD120
75
7MBR75UD120
75
6MBI75UA-120
75
6MBI75UB-120
100
6MBI100UB-120
150
6MBI150UB-120
2003 年 4 月
6MBI75UC-120
100
6MBI100UC-120
150
3MBI150UC-120
150
3MBI150U-120
75
7MBI75UD-120
100
7MBI100UD-120
150
7MBI150UD-120
2MBI75UA-120
100
2MBI100UA-120
150
2MBI150UA-120
150
2MBI150UB-120
200
2MBI200UB-120
200
2MBI200UC-120
300
2MBI300UC-120
M235
300
2MBI300UD-120
300
2MBI300UE-120
450
2MBI450UE-120
225
大容量
モジュール
6MBI225U-120
300
6MBI300U-120
450
6MBI450U-120
s
1,200 V U シリーズ IGBT モジュールの系列
特 性
デバイスの熱抵抗
(1素子)
7MBR25UA120
35
M238
V
I F =100 A
記 号
25
M234
1.2
(c)熱抵抗特性
項 目
7MBR15UA120
M233
V F(Chip)
逆 回 復 時 間
15
75
V F(Terminal)
IF=
100 A
7MBR10UA120
ー
s
tf
ダイオード
順電圧
7MBR15UE120
10
ー
13.3
ー
t off
7in1
(M631
または
P611)
M232
ー
tr
V
V
V GE =0 V
V CE =10 V
f =1MHz
ターンオン時間
15
75
C res
帰 還 容 量
7MBR10UE120
新型 PC3
新型 PC2
コレクタ エミッタ間
飽和電圧
10
発売時期
単位
min.
コレクタ エミッタ間
漏れ電流
V CE(sat)
型 名
HEP2
N・m
ねじ締めトルク
項 目
電流定格
(A)
EP2
1ms
Tc =80 ℃
最 大 損 失
パッケージ
小容量 PIM
連続
I C pulse
コ レ ク タ 電 流
電圧定格
(V)
条件
単位
min.
typ.
max.
IGBT
ー
ー
0.21
FWD
ー
ー
0.33
ー
0.05
ー
℃/W
と特性
1,200 V U シリーズ IGBT モジュールの特性を 表1 ,系
列概要を 表2 に示す。また,1,200 V U シリーズ IGBT の
パッケージ一覧を図8,系列相関を図9に示す。
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U シリーズ IGBT モジュール(1,200 V)
Vol.75 No.10 2002
図8 1,200 V U シリーズ IGBT モジュールのパッケージ一覧
PIM
6 in 1
EP2
PC3
107.5
7 in 1
HEP2
122
16
107.5
110
M5
2 in 1
M232
16
16
51
50
45
62
34
93
EP3
大容量モジュール
122
30
23.5
17
20.5
17
20.5
92
HEP3
M6
U
V
122
W
M233
70
110
−
+
50
−
+
50
162
小容量 PIM1
M631
17
22
30
+
50
23.5
122
137
50
150
92
−
17
20.5
62
45
110
M235
118
62
57
85
31.4
B
P
N
108
W
20
30
V
22
20.5
U
小容量 PIM2
M238
33.4
80
65.6
30
20.5
110
図9 1,200 V U シリーズ IGBT モジュールの系列相関図
あとがき
定格
電流
系列
小容量
PIM
PIM
5A
10A 15A
25A 35A 50A 75A 100A 150A 200A 300A 450A 600A
(5.5 kW)
(11kW)
(22 kW)
(40 kW)
(75 kW)
1,200V U シリーズについて概略を紹介した。特にこの
小容量PIM
シリーズの IGBT は,トレンチゲート構造とフィールドス
EP2/HEP2
EP3/HEP3
6 in 1
トップ構造という二つの新しい技術の採用により,非常に
温度センサ付き
新型PC3
(6 in 1)
温度センサ付き
M631(7 in 1)
低損失なデバイスとなっており,装置の小型化・低損失化
に大きく貢献できると確信している。
大容量
モジュール
(6 in 1)
2 in 1
/1 in 1
M232
M233
新型PC3
PIM/
EP
ベクトル制御用
6 in 1
(Nラインオープン)
(シャント抵抗付き)
M238
M235
今後も,デバイスの高性能化・高信頼性化に取り組み,
パワーエレクトロニクスの発展に貢献していく所存である。
M138
参考文献
(1) Laska, T. et al.The Field Stop IGBT(FS IGBT)ーーー
A New Power Device Concept with a Great Improvement Potential. Proc. 12th ISPSD.2000,p.355- 358.
(2 ) 西村武義ほか.トレンチゲート MOSFET.富士時報.
vol.72,no.3,1999,p.180- 182.
566(18)
*本誌に記載されている会社名および製品名は,それぞれの会社が所有する
商標または登録商標である場合があります。