电路笔记 CN-0287 连接/参考器件 Circuits from the Lab® reference designs are engineered and tested for quick and easy system integration to help solve today’s analog, mixed-signal, and RF design challenges. For more information and/or support, visit www.analog.com/CN0287. AD7193 4通道、4.8 kHz、超低噪声、 24位Σ-Δ型ADC，集成PGA ADT7310 ±0.5°C精度、16位数字SPI温度 传感器 AD8603 精密微功耗、低噪声、 CMOS、轨到轨输入/ 输出运算放大器 ADR3440 4.096 V、微功耗、高精度 基准电压源 ADG738 CMOS、低压、3线式串行 控制矩阵开关 ADG702 CMO低功耗2 Ù单刀单掷开关 AD5201 33位数字电位计 ADuM1280 3 kV RMS双通道数字 隔离器 ADuM5401 集成DC/DC转换器的四通道、 2.5 kV隔离器 具有0.5°C精度的隔离式4通道热电偶/RTD温度测量系统 评估和设计支持 RTD激励电流可针对最佳噪声和线性度性能编程。 电路评估板 RTD测量精度达到0.1°C(典型值)，K类热电偶测量精度达 CN-0287电路评估板(EVAL-CN0287-SDPZ) 系统演示平台(EVAL-SDP-CB1Z) 设计和集成文件 原理图、布局文件、物料清单 电路功能与优势 0.05°C(典型值)，这是因为将16位数字温度传感器ADT7310 用 于 冷 结 补 偿 。 该 电 路 采 用 4通 道 、 24位 、 Σ-Δ型 ADC AD7193，该器件片内集成PGA，具有高精度和低噪声特性。 由低泄露瞬变电压抑制器(TVS)和肖特基二极管提供输入瞬变 图1所示电路是一款完整的隔离式4通道温度测量电路，针 和过压保护。SPI兼容型数字输入和输出均隔离(2500 V rms)， 对性能、输入灵活性、稳定性以及低成本而优化。它支持 且电路采用全隔离式电源供电。 所有类型的热电偶(带冷结补偿)，以及电阻高达4 kΩ的任意 类型RTD(电阻温度检测器，双线式、三线式或四线式连接 配置)。 Rev. C Circuits from the Lab® reference designs from Analog Devices have been designed and built by Analog Devices engineers. Standard engineering practices have been employed in the design and construction of each circuit, and their function and performance have been tested and verified in a lab environment at room temperature. However, you are solely responsible for testing the circuit and determining its suitability and applicability for your use and application. Accordingly, in no event shall Analog Devices be liable for direct, indirect, special, incidental, consequential or punitive damages due toanycausewhatsoeverconnectedtotheuseofanyCircuitsfromtheLabcircuits. (Continuedonlastpage) One Technology Way, P.O. Box 9106, Norwood, MA 02062-9106, U.S.A. Tel: 781.329.4700 www.analog.com Fax: 781.461.3113 ©2013–2014 Analog Devices, Inc. All rights reserved. CN-0287 +5V : ANALOG GROUND VDD +4.096V 0Ω AD5201 +5V A COLD JUNCTION COMPENSATION +5V SCLK CT INT ADT7310 CS SCLK DOUT GND DIN : DIGITAL GROUND ADG738_CS SCLK DIN VSS R3 ADG738 V+ D C2 GND 1.69kΩ D P3 IN 300Ω AD7193 1nF 1.69kΩ +5V 300Ω 1.69kΩ 300Ω 27nF AIN3 SCLK SCLK AIN4 DOUT DOUT DIN +5V +5V 300Ω JP4 1 ADT7310_CS DIN 2 300Ω 27nF 10µF DIN +5V DVDD SCLK AD7193_CS REFIN2(+) DGND REFIN2(–) GND2 VOA GND1 VIA GNDISO ADT7310_CS ISO VIB ADG738_CS ISO +5VISO DOUT AINCOM GNDISO VOA VDD1 GND1 VIA VOA VIB VOC VIC VID VOD GNDISO DINISO SCLKISO AD7193_CS ISO DOUTISO ADuM5401 10926-001 4.02kΩ 0.1% 10ppm VDD1 VISO AIN8 1nF +5VISO VDD2 +5V 0.1µF +5V 300Ω INTISO CTISO ADuM1280 AGND 3 1.69kΩ GNDISO VOB VOB ADG738_CS AVDD AIN7 RTD 4W 1.69kΩ GND2 VOA +5V +5V 1nF 4 AD7193_CS AIN6 1.69kΩ GND1 VIA ADuM1280 CS CH 4 2 VDD2 AIN2 1nF THERMOCOUPLE: RTD 2,3W 1 VDD1 VIB CT AIN5 3 INT AIN1 1 2 +5VISO +5V P2 +5V JP1 4 FORCE SENSE REFIN1(+) REFIN1(0) S8 3 FORCE SENSE ADG702 S +5V 300Ω 2 3 5.6V ZENER DIODE +5V 300Ω CH 1 1 CS ADR3440 C2 V– S7 1.69kΩ PWR-ON PRESET VOUT C2 S2 1.69kΩ +5V DIN SDI +4.096V 1kΩ AD8603 +5V 300Ω GND SCLK CLK +5V +5V SYNC SCLK DIN DOUT S1 1.69kΩ W B CT INT ADT7310_CS SCLK DOUT DIN +5V SHDN LOGIC CONTROL 图1. 4通道热电偶和RTD电路(原理示意图： 未显示所有连接和去耦) 电路描述 −10 mV至+60 mV。对于信号链而言，重要的是尽可能保持 温度测量简介 较高的阻抗和较低的漏电流，以便测得的电压具有最高的 热电偶和RTD(电阻温度检测器)是最常用的传感器，用于 精度。若要将该电压转换为绝对温度，则必须精确知道冷 工业应用中的温度测量。热电偶可测量极高的温度，最高 结温度。一般而言，1°C至2°C便已足够，虽然由于冷结温 可达+2300°C左右，并且响应时间快(瞬间完成测量)。RTD 度测量误差会直接增加绝对温度误差，但较高的冷结温度 比热电偶具有更高的精度和稳定性，且连接远端RTD的长 测量精度是有好处的。 导线(数百米)电阻可采用三线式或四线式连接加以补偿。 RTD由纯净材料(如铂、镍或铜)制成，随温度变化而改变的 热电偶由一端相连的两根不同金属线组成。将相连的一端放 电阻值可预测。最常见的RTD材料是铂(Pt100和Pt1000)。 置在需要进行温度测量的地方，称为测量结点。另一端连 精确测定电阻的一种方法是测量恒定电流源产生的RTD电 接精密电压测量单元，该连接称为参考结点，或者称为冷 压。将测量值折合为参考电阻两端的电压(由同一个电流驱 结。测量结点和冷结之间的温差产生电压(称为塞贝克效应 动)，即可消除电流源中的误差(如比例测量)。最大程度降 电压)，数值与两个结点之间的温度差有关，该温差产生的 低电流路径上的漏电流对于获得高精度而言很重要，因为 信号通常为数微伏至数十毫伏不等，具体取决于温度差值。 为了防止自发热，激励电流通常仅数百微安。 例如，K类热电偶可测量−200°C至+1350°C，输出范围约 Rev. C | Page 2 of 9 CN-0287 对于工业现场应用而言，高性能以及针对高压瞬变事件和 直流过压条件提供保护都是重要的设计考虑因素。 用于RTD的可编程电流源以及用于热电偶的偏置电压生 成电路 RTD测量要求使用低噪声电流源，以便驱动RTD和参考电 本电路工作原理 图1所示电路设计用于工业现场环境中的精密温度测量应 用，针对灵活性、性能、稳定性和成本进行了优化。本电 路采用低噪声、24位Σ-Δ型ADC AD7193，确保整个电路具 有高分辨率和线性度。 33位数字电位计AD5201、运算放大器AD8603和单通道开 关ADG702构成简单可编程电流源和偏置电压缓冲器，用 阻。而另一方面，热电偶需要使用共模偏置电压，可将较 小的热电偶电压转换至AD7193的输入范围内。图2所示电 路同时满足这两个要求，并采用了低噪声CMOS轨到轨输 入/输出运算放大器AD8603，该器件的最大输入偏置电流 仅1 pA且最大失调电压为50 μV；同时，还配合使用了单通 道CMOS低压2 Ω单刀单掷(SPST)开关ADG702，以及8通道 矩阵开关ADG738。 于RTD和热电偶测量。ADG738可将电流源路由至活动 +4.096V RTD通道，允许针对三线式RTD配置进行导线电阻补偿。 数字SPI温度传感器ADT7310在−40°C至+105°C温度范围内 S1 具有±0.8°C最大精度(采用+5 V电源)，用于热电偶测量中的 冷结补偿。ADR3440是一款低噪声、高精度、4.096 V基准 VW +5V ADG738 AD5201 A R3 D AD8603 W 1k B C2 IEXC 电压源，连接AD7193的REFIN1(+)/REFIN1(−)，用于热电 S 偶测量。 ADG702 RTD 模数转换器 D AD7193 AIN1 TC AD7193是一款适合高精密测量应用的低噪声完整模拟前 AIN2 端。它集成一个低噪声、24位Σ-Δ型模数转换器(ADC)。该 IEXC = 的50 Hz/60 Hz抑制能力。数据输出速率可在4.7 Hz(24位有效 VW RREF REFIN2(+) RREF REFIN2(–) 分辨率，Gain = 1)到4.8 kHz(18.6位有效分辨率，Gain = 1)范 10926-002 ADC具有高分辨率、低非线性度和低噪声性能，以及极高 围内变化。片上低噪声PGA可将来自热电偶或RTD的差分 图2. 外部可编程电流源和偏置电压发生器 小信号以增益1至128放大，从而允许实现直接接口。增益 开启ADG738并关断ADG702，则AD8603可用作热电偶应 级缓冲器具有高输入阻抗，并将输入漏电流限制为± 3 nA(最 用中的低噪声、低输出阻抗单位增益缓冲器。将来自 大值)。AD7193的增益必须根据温度范围和传感器类型进 AD5201数字电位计的电压进行缓冲，然后用于热电偶共模 行适当配置。片内多路复用器允许四个差分输入通道共享 电压，通常为电源电压的一半，即2.5 V。33位数字电位计 同一个ADC内核，节省空间与成本。 AD5201采用低漂移(5 ppm/°C) 4.096 V基准电压源ADR3440 驱动，以获得所需精度。 开启ADG738并关断ADG702，则AD8603产生RTD激励电 流，即IEXC = VW/RREF。 Rev. C | Page 3 of 9 CN-0287 温度测量是一种高精度、低速度的应用，因此有足够的建 关断ADG738的S1，同时打开S2，则AD7193输入端的电压 立时间可在全部4个通道间切换单个电流源，提供出色的 为V1。打开S1，同时关断S2，则AD7193输入端电压为V2。 通道间匹配性能、低成本以及较小的PCB尺寸面积。 RTD传感器两端的电压为V RTD ，而电流源的激励电流为 ADG738是一款8:1多路复用器，可在通道间切换电流源。 IEXC。V1和V2包括引线电阻产生的误差，如下所示： 为了支持双线式、三线式和四线式RTD配置，这四个通道 V 1 = ( R RTD + R W3 ) × I EXC (1) 中的每一个都需要两个开关。 V 2 = ( R W2 + R RTD + R W3 ) × I EXC (2) 在很多应用中，RTD都有可能放置在远离测量电路的地 V RTD = R RTD × I EXC (3) 方。长引线电阻可能会产生较大的误差，尤其用于低电阻 假定RW1 = RW2 = RW3，然后结合等式1、等式2和等式3，可得： RTD时。为了最大程度减少引线电阻效应，支持三线式 RTD配置，如图3所示。 +5V ADG738 RW1 S1 IEXC S2 四线式RTD连接要求具有两个额外的检测线路，但对导线 JP[x] RTD AIN2 RRTD 电阻不敏感，且仅需进行一次测量。 IEXC RW3 (5) 这并不是个问题。 AIN1 +5V RRTD = VRTD/IEXC = (2V1 – V2)/IEXC 计算RRTD，因此输出数据速率有所下降。在很多应用中， AD7193 RW2 (4) 等式5表示三线式配置需要分别进行两次测量(V1和V2)才能 CURRENT SOURCE D VRTD = 2V1 – V2 REFIN2(+) 图4总结了双线式、三线式和四线式RTD和热电偶应用的 RREF 连接器配置和跳线位置。 10926-003 REFIN2(-) 图3. 三线式RTD传感器的连接器和跳线配置 RTD 3-WIRE CNx JPx 1 JPx 2 3 2 3 4 3 3 3 4 4 RTD 1 1 2 3 JPx 2 1 1 CNx 1 2 2 THERMOCOUPLE CNx CNx 1 RTD RTD 4-WIRE RTD 图4. EVAL-CN0287-SDPZ板的连接器配置和跳线位置 Rev. C | Page 4 of 9 + TC – JPx 2 1 3 2 4 3 10926-004 RTD 2-WIRE CN-0287 保护电路 热电偶配置测试结果 在制造过程中和现场使用时，都有可能产生瞬变和过压条 电路的性能高度依赖于传感器和AD7193的配置。K类热电偶 件。为了获得较高的保护水平，有必要使用外部保护电 输出变化范围为−10 mV至+60 mV，对应温度范围为−200°C 路，补充IC的内部集成保护电路。外部保护功能会增加额 至+1350°C。AD7193 PGA配置为G = 32。PGA电压摆幅范围 外的电容、电阻和漏电流。这些效应应当仔细考虑，以获 为−320 mV至+1.92 V，即2.24 V p-p。斩波使能时，50 Hz/60Hz 得高精度水平。额外保护电路如图5所示。 噪声抑制使能，滤波器字FS[9:0] = 96，1024个样本的噪声分 布直方图如图6所示。 +5V 110 5.6V ZENER DIODE NZH5V6B 100 +5V INPUT SCHOTTKY DIODES BAV199LT1G 图5. 瞬变和过压保护电路 80 70 60 50 40 30 位任何瞬变电压至30 V(25°C时典型漏电流仅1 nA)。选择 30 V TVS，以便支持30 V直流过压。使用1.69 kΩ电阻，后接 低泄露BAV199LT1G肖特基二极管，用于在瞬变和直流过 压事件发生时将电压箝位至5 V供电轨。在30 V直流过压条 件下，1.69 kΩ电阻将流过外部二极管的电流限制为15 mA。 为了确保供电轨能够吸取该电流，可使用齐纳二极管将供 电轨进行箝位处理，以保证它不超过连接电源的任意IC的 绝对最大额定值。选择5.6 V齐纳二极管(NZH5V6B)实现这一 目的。300 Ω电阻可进一步限制有可能进入AD7193或ADG738 的电流。 和电路控制器端之间提供2500 V rms隔离电压。ADuM5401 还提供隔离电源，用于电路的测量端。ADuM5401采用了 isoPower技术，该项技术使用高频开关元件，通过变压器 8388550 图6. CN-0287噪声分布直方图(VDD = 5 V，VREF = 4.096 V， 差分输入，双极性，输入缓冲器使能，输出数据速率 = 50 Hz， 增益 = 32，斩波使能，60 Hz抑制使能，Sinc 4) AD7193分辨率为24位，即224 = 16,777,216个代码。AD7193的 全动态范围为2 × VREF = 2 × 4.096 V = 8.192 V。位于PGA之后 的热电偶输出电压仅为2.24 V p-p，并且不会完全占据AD7193 的所有动态范围。因此，系统范围以2.24 V/8.192V系数降低。 噪声分布约为40个代码峰峰值。2.24 Vp-p测量范围内的无噪 声代码分辨率为： 16 , 777 , 216 2.24 V (6) 无噪声分辨率 = log 2 × = 16.8 bits 隔离 ADuM5401和ADuM1280使用ADI iCoupler®技术，在测量端 8388545 NUMBER OF OCCURENCES 10926-006 本电路中，PTVS30VP1UP瞬变电压抑制器(TVS)可快速箝 8388540 产生一些误差。 8388535 0 8388510 10 的热电偶引线具有极高电阻时，漏电流也会对热电偶测量 8388530 20 漏电流会对RTD测量造成巨大影响，应仔细考虑。当较长 8388525 +5.3V, −0.3V 8388520 300Ω 8388515 TVS 30V, 600W PTVS30VP1UP +6V, −1V NUMBER OF OCCURENCES 1.69kΩ 90 10926-005 OVERVOLTAGE UP TO 30V ADC 3mA 15mA 400 8.192 V K类 热 电 偶 的 满 量 程 温 度 范 围 为 −200°C至+1350°C， 即 1550°C p-p。因此16.8位无噪声代码分辨率相当于0.013°C无 噪声温度分辨率。 传输电力。设计印刷电路板(PCB)布局时应特别小心，必 须符合相关辐射标准。有关电路板布局建议，请参考应用 笔记AN-0971。 Rev. C | Page 5 of 9 CN-0287 热电偶测量线性度 RTD配置测试结果 图7显示K类热电偶系统的近似线性度。该曲线中，“冷结” 对于Pt100 RTD，默认ADC的增益设置为G = 8，而对于Pt1000 温度为0°C。 RTD，默认增益设置为G = 1。ADC的基准电压等于4.02 kΩ 60 参考电阻两端的电压。Pt100 RTD的温度系数大约为0.385 Ω/°C， 且+850°C时电阻可高达400 Ω。若默认激励电流为400 μA， 50 则最大RTD电压大约为160 mV。ADC基准电压为4.02 kΩ × 400 μA = 1.608 V。对于G = 8，最大RTD电压为160 mV × 8 = VOLTAGE (mV) 40 30 1.28 V，该值大致为可用范围的80%。 20 对于Pt1000 RTD，+850°C时的最大电阻约为4000 Ω。默认激 励电流为380 μA，从而最大RTD电压为1.52 V。ADC的基准 10 电压为4.02 kΩ × 380 μA = 1.53 V。采用默认增益设置G = 1， 则RTD最大电压便可利用几乎所有的可用范围。 0 0 1000 500 TEMPERATURE (°C) 1500 RTD电阻R以ADC代码(Code)、分辨率(N)、参考电阻(RREF) 10926-007 –10 –500 和增益(G)表示的通用表达式如下所示： 图7. K类热电偶温度与0°C冷结输出电压的关系 R= Fluke 5700A校准仪提供分辨率为10 nV的高精度直流电压 源，用于校准以及测试。图8中的电压误差位于0.2 μV理想 范围内，相当于大约0.004°C。该结果是系统在25°C时校准 后的短期精度，此时没有温度漂移效应。本电路的主要误 Code R REF 2N G (7) 来自TVS、二极管、箝位二极管和ADC的漏电流是RTD测 量电路误差的最大来源，虽然本设计中采用了纳安器件。 差来源于冷结补偿测量。在本电路中，ADT7310用于冷结补 每个输入的总泄露电流为9 nA(3 nA来自AD7193，缓冲器开 偿，典型误差为−0.05°C，采用5 V电源时，在−40°C至+105°C 启；5 nA来自箝位二极管；1 nA来自TVS二极管)。因此， 温度范围内的最差情况误差为±0.8°C。若使用3 V电源，则 全部4个通道将产生36 nA最大漏电流。图2中的反馈环路通 器件在该温度范围内具有±0.4°C的最大误差。 过参考电阻，保持恒定电流。这意味着漏电流影响RTD激 励电流，从而产生误差。默认激励电流为400 μA (Pt100)和 0.20 380 μA (Pt1000)。对于Pt100 RTD，漏电流引起的最差情况 系统近似误差为： VOLTAGE ERROR (µV) 0.15 36 nA (8) × 100 ≈ 0.01% 读数误差 = 400 μA 对于可测量范围为−200°C至+850°C的Pt100，这相当于系 0.10 统精度大约为： 0.05 400 Ω 0.385 Ω / C × 0.0001 ≈ 0.1 C (9) 误差量取决于输入端的配置。完成输入配置后，可进行室 1 6 11 16 21 26 31 36 INPUT VOLTAGE (mV) 41 46 51 10926-008 0 精度 ( C ) = 温校准，进一步减少误差。 图8. CN-0287配置为K类热电偶的误差(VDD = 5 V，VREF = 4.096 V， 差分输入，双极性，输入缓冲器使能，输出数据速率 = 50 Hz， 增益 = 32，斩波使能，60 Hz抑制使能，Sinc 4) 以实验方式显示漏电流效应。每通道均首先配置为四线式 RTD。100 Ω固定电阻连接RTD位置上的通道1。0 Ω电阻连 接另外3个通道的输入。 Rev. C | Page 6 of 9 CN-0287 增益设为G = 1，激励电流为380 μA(Pt1000配置)。 • CN-0287 SDP评估软件 收集数据，然后依次移除连接通道4、通道3和通道2的跳 • EVAL-CFTL-6V-PWRZ直流电源或同等6 V/1 A台式电源 • RTD或热电偶传感器或传感器仿真器 (评估软件支持下 线，收集每种条件下的数据。结果如图9所示。 列RTD： Pt100、Pt1000；热电偶： K类、J类、T类、 437860 S类) 437840 437820 开始使用 437800 437780 将CN0287评估软件光盘放进PC的光盘驱动器，安装评估 437760 437740 437720 软件。打开我的电脑，找到包含评估软件的驱动器。 ALL LEAKAGE INCLUDED 437700 437680 功能框图 LEAKAGE FROM CH4 REMOVED 电路框图见图1，完整的电路原理图见EVAL-CN0287- 437660 437620 SDPZ-PADSSchematic.pdf文件。此文件位于CN0287设计支 437600 437580 LEAKAGE FROM CH2 REMOVED 持包中：www.analog.com/CN0287-DesignSupport。图10显 10926-009 437640 LEAKAGE FROM CH3 REMOVED 示测试设置的功能框图。 图9. 4通道Pt100 RTD通道1漏电流产生的误差(G = 1) ADC代码从大约437,800变化到437,600，相应的测量值从 EVAL-CFTL-6V-PWRZ 6V WALL WART 104.9015 Ω变化到104.8627或0.0388 Ω。这表示测量误差大 PC 约为0.1°C；然而，通过在室温下采用固定输入配置进行校 USB CABLE SENSORS 准，即可消除误差。 USB CN5 OR J2 常见变化 适合信号通道或低功耗应用。ADT7311是一款±0.5°C精 度、16位数字SPI温度传感器，符合汽车应用规范。使用数 OR SIGNAL GENERATORS 字温度传感器(如ADT7320，精度为±0.25°C)，可以改进冷 1.000V 结补偿电路的精度。 集成DC-DC转换器的数字隔离器ADuM6401提供最高5 kV的 RMS隔离。 120 PINS (x) = 1, 2, 3, 4 EVAL-CN0287-SDPZ BOARD EVAL-SDP-CB1Z SDP BOARD 10926-010 JP(x) AD779x属于低噪声、低功耗、16/24位Σ-Δ型ADC系列，更 SDP CONNECTOR CN(x) 图10. 测试设置功能框图 设置 将EVAL-CN0287-SDPZ电路板上的120引脚连接器连接到 电路评估与测试 本电路使用EVAL-CN0287-SDPZ电路板和SDP-B (EVAL-SDP- EVAL-SDP-CB1Z控制器板(SDP-B)上的CON A连接器。使用 尼龙五金配件，通过120引脚连接器两端的孔牢牢固定这 CB1Z)系统演示平台控制器板。这两片板具有120引脚的对 两片板。在断电情况下，将一个6 V电源连接到电路板上的 接连接器，可以快速完成设置并评估电路性能。EVAL- +6 V和GND引脚。如果有6 V壁式电源适配器，可将其连接 CN0287-SDPZ板 包 含 要 评 估 的 电 路 ， 如 本 笔 记 所 述 。 SDP-B控制器板与CN0287评估软件一起使用，可从EVAL- 到板上的管式连接器J2，代替6 V电源。SDP-B板附带的USB 电缆连接到PC上的USB端口。此时请勿将该USB电缆连接 CN0287-SDPZ电路板获取数据。 到SDP-B板上的微型USB连接器。 设备要求 接通6 V电源，为评估板和SDP板上电，然后将Mini-USB电 需要以下设备： 缆连接到SDP板上的Mini-USB端口。 • 带USB端口的Windows® XP(32位)、Windows Vista®或 Windows® 7 PC • EVAL-CN0287-SDPZ电路板 • EVAL-SDP-CB1Z SDP-B控制器板 Rev. C | Page 7 of 9 CN-0287 测试 针对原型开发的连接 启动评估软件。一旦USB通信建立，就可以使用SDP-B板 EVAL-CN0287-SDPZ评 估 板 设 计 用 于 EVAL-SDP-CB1Z 来发送、接收、捕捉来自EVAL-CN0287-SDPZ板的数据。 SDP-B板，但任何微处理器都可通过PMOD连接器J6实现 图11显示EVAL-CN0287-SDPZ评估板连接SDP板的照片。 有关SDP-B板的信息，请参阅SDP-B用户指南。 与SPI接口的对接。有关PMOD连接器的引脚定义可参见 CN0287设计支持包中CN0287评估板的原理图。为使另一 个控制器能与EVAL-CN0287-SDPZ评估板一同使用，第三 有关测试设置、校准以及如何使用评估软件来捕捉数据的 方必须开发相应的软件。 10926-011 详细信息，请参阅CN-0287软件用户指南： 图11. 连接到EVAL-SDP-CB1Z SDP-B板的EVAL-CN0287-SDPZ评估板 Rev. C | Page 8 of 9 CN-0287 了解详情 数据手册和评估板 CN-0287 Design Support Package: www.analog.com/CN0287-DesignSupport CN-0287 Circuit Evaluation Board (EVAL-CN0287-SDPZ) SDP-B User Guide AD7193 Datasheet AN-880 Application Note, ADC Requirements for Temperature Measurement, Analog Devices. AD8603 Datasheet AN-892 Application Note, Temperature Measurement Theory and Practical Techniques, Analog Devices. ADG702 Datasheet System Demonstration Platform (EVAL-SDP-CB1Z) AN-0970 Application Note, RTD Interfacing and Linearization Using an ADuC706x Microcontroller, Analog Devices. ADG738 Datasheet ADT7310 Datasheet ADuM5401 Datasheet CN-0172, High Accuracy Multichannel Thermocouple Measurement Solution, Analog Devices. ADuM1280 Datasheet CN-0206, Complete Type T Thermocouple Measurement System with Cold Junction Compensation, Analog Devices. ADR3440 Datasheet AD5201 Datasheet CN-0209, Fully Programmable Universal Analog Front End for Process Control Applications, Analog Devices. CN-0221, USB-Based Temperature Monitor Using the ADuCM360 Precision Analog Microcontroller and an External Thermocouple, Analog Devices. 修订历史 2014年2月—修订版B至修订版C 更改“常见变化”部分........................................................................7 2013年9月—修订版A至修订版B 更改图1 ...............................................................................................1 CN-0271, K-Type Thermocouple Measurement System with Integrated Cold Junction Compensation, Analog Devices. 2013年8月—修订版0至修订版A Kester, Walt. 1999. Sensor Signal Conditioning. Analog Devices. Chapter 7, "Temperature Sensors." 更改标题 .............................................................................................1 2013年8月—修订版0： 初始版 Matthew Duff and Joseph Towey. Two Ways to Measure Temperature Using Thermocouples Feature Simplicity, Accuracy, and Flexibility, Analog Dialogue 44-10, Analog Devices. Mary McCarthy, AN-615 Application Note, Peak-to-Peak Resolution Versus Effective Resolution. MT-049 Tutorial, Op Amp Total Output Noise Calculations for Single-Pole System. Analog Devices. MT-004 Tutorial, The Good, the Bad, and the Ugly Aspects of ADC Input Noise—Is No Noise Good Noise? Analog Devices. MT-031 Tutorial, Grounding Data Converters and Solving the Mystery of “AGND” and “DGND”, Analog Devices. MT-035, Op Amp Inputs, Outputs, Single-Supply, and Rail-toRail Issues, Analog Devices. MT-101 Tutorial, Decoupling Techniques, Analog Devices. (Continued from first page) Circuits from the Lab reference designs are intended only for use with Analog Devices products and are the intellectual property of Analog Devices or its licensors. While you may use the Circuits from the Lab reference designs in the design of your product, no other license is granted by implication or otherwise under any patents or other intellectual property by application or use of the Circuits from the Lab reference designs. Information furnished by Analog Devices is believed to be accurate and reliable. However, Circuits from the Lab reference designs are supplied "as is" and without warranties of any kind, express, implied, or statutory including, but not limited to, any implied warranty of merchantability, noninfringement or fitness for a particular purpose and no responsibility is assumed by Analog Devices for their use, nor for any infringements of patents or other rights of third parties that may result from their use. Analog Devices reserves the right to change any Circuits from the Lab reference designs at any time without notice but is under no obligation to do so. ©2013–2014 Analog Devices, Inc. All rights reserved. Trademarks and registered trademarks are the property of their respective owners. CN10926sc-0-2/14(C) Rev. C | Page 9 of 9