注文コード No.N ※ 6 2 5 4 N6254 N0499 CMOS LSI LE28BU167 FlashBank (16M Flash + 64K EFPROM) TM 概要 LE28BU167 は、BANK1(512K × 16 ビット)+ BANK2(512K × 16 ビット)+ EEPROM(4K × 16 ビット)の 3 バンク構成で 2.5V 単一電 源で動作するフラッシュメモリである。バンク機能によりリード / ライトの同時動作が可能である。小セクタサイズ(1K ワー ド)によりデータ書換えが高速である。 特長 ● 2.5V 単一電源によるリード / ライト動作可能 ●コードやデータ格納に適した分離型メモリバンクを採用 ●同時にリード及びライトが可能 ●高信頼性 書換え回数:10 万回・・・・・・・・E 2部 1 万回・・・・ フラッシュ部 データ保持期間:10 年以上 ●低消費電力 動作時(リード) 10mA(typical) 動作時(リード及びライト) 25mA(typical) スタンバイ時 2 μ A(typical) 自己電力セーブ時電流 2 μ A(typical) ●高速ライト動作 フラッシュ部: バンクイレーズ゙+プログラム 8 s(typical) ブロックイレーズ+プログラム 500 ms(typical) セクターイレーズ+プログラム 30 ms (typical) 2 E 部: ワードライト: 7 ms(typical) ●書き換え回数の影響を受けない一定時間イレーズ ●リードアクセス時間: 90 または 120 ns ●書き換え終了の検知 トグルビット / データポーリング ● E 2部:ワード単位ライト (プログラム前に自動イレーズ) セクター(32 ワード構成)単位イレーズ+ワードプログラム フラッシュ部:小面積のイレーズサイズ ●フラッシュ フラッシュ セクター(1K ワード)単位、またはブロック(32K ワード)単位で、ワードプログラム前にイレーズ ● CMOS I/O とピンコンパチブル ●適用パッケージ 48 ピン TSOP 6 X 8 ボール TFBGA ● ハードウエア及びソフトウエアによる継続データ保護 ●この製品は米国 SST 社(Silicon Storage Technology, Inc.)のライセンスを受け三洋電機株式会社で製造・販売するものです。 ● FlashBankTM は、三洋電機株式会社と米国 SST 社 Silicon Storage Technology, Inc.)の共同開発品です。 FlashBankTM は、SST 社 (Silicon Storage Technology, Inc.)の商標です. N0499HK 寿◎古川 No.6254-1/46 LE28BU167 LE28BU167 は 3 つのバンクで構成されている。2 つのメ 複数のバンクが同時に選択された場合、出力はトライス モリーバンクは 512K × 16bits のセクターモードフラッ シュ EEPROM であり、加えて 4K × 16bits のワード単位で テート状態となり、新たなメモリー動作はできない。常 時、バンク 1 つのみライト、イレーズ及びプログラムが 書き換え可能な E 2 PROM からなる。 LE28BU167 は、電源 2.5V の単一電源でライトが可能。 なされる。デバイス I D とコモンフラッシュインター フェース(CFI)機能は、いずれかのバンクがライト、イ E 2 PROM の内部イレーズプログラムはユーザーで処理の 内容がわかりやすくなっている。 レーズ及びプログラムされている間アクセスできない。 2つのフラッシュバンクは、主にプログラムコード格納 用であり、512 セクター(1 セクター:1K ワード)、又は 自己電力セーブモードは、LE28BU167をリードデータア クセスの後、自動的にスタンバイ状態に近い状態にす 16ブロック(1ブロック:32Kワード)で構成されている。 フラッシュバンクはデータの格納にも使用が可能。E2バ る。これは IDD リード動作電流をティピカル 10mA から ティピカル2μAに低減させる。この自己電力セーブモー ンクは、主にデータと起動時のアプリケーション最適化 データの格納用に使われ、全体が 128 セクターで構成さ ドは、ティピカル IDD リード電流をリードサイクル時間 当たり約 1mA/MHz に減少させる。ライトとリードの同時 れ各セクターは 32 ワードである。 3バンクの内どれかのバンクへデータライト中に残りの 動作が行われている場合、ライト及びリードの合計電流 は、ティピカルで 25mA となる。 このデバイスは、他の バンクの1つからコード、プログラムのリード実行が可 能。各々のメモリーバンクは、個別のバンクイネーブル リードサイクルを始めるためのアドレス、又はコント ロールシグナルの遷移により、アクセスタイムの遅れ無 (BE#)ラインでコントロールされる。 LE28BU167は、消費電力が少ない。消費電力は使用する しに自己電力セーブモードから抜け出す。 電圧、電流、とアプリケーション時間によるが三洋のフ ラッシュ技術は他のフラッシュ技術に比べプログラム、 フラッシュバンクのリード リードは、BE#1、または BE2# と OE# でコントロールさ 及びライト中の消費電力が少ないため、またイレーズ時 間が短いために低消費電力を実現している。 自己電力 れる。出力データを得るにはバンクイネーブルと出力イ ネーブルの両方が「L」レベルでなければならない。BE#1 セーブモードは、自動的にリード電流をスタンバイ状態 と同程度に減少させ、リードサイクル時間当たり約1mA/ はフラッシュメモリーのバンク−1の選択に使用する。 BE#1 が「H」レベルの場合、バンク1は非選択。BE#2 は MHz のティピカルリード電流を達成している。 フラッシュ技術は、書き換え回数とは関係なくイレー フラッシュバンク−2の選択に使われる。BE#2 が「H」 レベルの場合、フラッシュメモリーバンク−2は非選 イレーズ及びプログラム時間が書き換え回数とともに長 くなる他のフラッシュ技術と異なり、システムソフトウ 択。O E # は出力コントロールで出力ピンからデータを ゲートするのに使われる。OE# が「H」レベルの時、デー エアを修正したり、ハードウエアの速度を調節する必要 がない。 タバスは高インピーダンスの状態となっている。より詳 しくはタイミングチャート参照(fig. 3a or 3b) 。 デバイス動作 E 2バンクのリード LE28BU167 は 2 つの独立した 8M ビットワードプログラ ム、セクターイレーズ構成のフラッシュ EEPROM として リード動作は、BE#3 と OE# によってコントロールされ る。システムの出力ピンよりデータを取り出す場合は 動作し、更に 64K ビットのワード単位書き換えが可能な E 2 PROMの機能を備えている。3つのバンク全てが同じメ BE#3 と OE# の両方が「L」レベルとなっていなければな らない。BE#3 は E 2バンク 3(バンク− 3)の選択に使用 モリーアドレス空間に重畳される。 3つのメモリーバン ク全てがアドレスライン、I/O ライン、WE #、OE #を共 される。BE#3 が「H」レベルのとき、E2 は非選択。 OE# は 出力ピンからのデータ出力をコントロールするために使 用している。メモリーバンク選択にはバンクイネーブル を使用する。 BE # 1 は、フラッシュの第 1 バンクを選択 用。 OE#が「H」レベルのとき、データバスは高インピー ダンスの状態となる。詳しくはタイミングチャート参照 し、BE # 2 は、フラッシュの第 2 バンクを選択、BE # 3 は E 2を選択する。WE #は、SDP(ソフトウエアデータプ (fig. 3c) 。 ロテクション)とともに各メモリーバンクにおけるライ ト、イレーズ及びプログラム動作を制御するために使わ ライトモード LE28BU167 は、E 2とフラッシュのそれぞれ別のライト れる。 モードがある。内部でプログラム前に自動的にイレーズ を行うコンベンショナルな E 2 P R O M ワードライトは、 LE28BU167 は 3 つの内のあるメモリーバンクのライト、 イレーズ及びプログラムが始まっても、別のメモリーバ ユーザーにとって E 2アレイのデータを変更する最も便 利で簡単な方法である。バンクまたはセクターイレーズ ンクでリードアクセスが可能である。SDP ロードシーケ ンス中に、一旦 WE #と選択された BE #が「H」となると とワードプログラム動作はE2でも可能。LE28BU167はフ ラッシュの両方のバンク毎にバンク、ブロック、セク 他のメモリーバンクの1つでリードアクセスが可能とな る。 ターイレーズ、ワードプログラム動作が可能。 No.6254-2/46 LE28BU167 ライト フラッシュバンクのワードプログラム すべてのライト動作は SDP(ソフトウェア・データ・プ ロテクト)のエントリーシーケンスが実行されること ワードプログラム動作は、SDPワードプログラムを行う こと、BE#1、または BE#2 と WE# を「L」レベルにするこ により開始され、選択されたフラッシュ部のバンクまた はブロック、セクターイレーズの後、ワードプログラム とと OE# を「H」レベルにすることにより機能する。プロ グラムされるワードは、プログラムに先立ちイレーズ状 が行われる。E 2においてはワードライト、またはセク ターイレーズ後にワードプログラムが行われる。ワード 態になければならない。 ワードプログラムコマンドはワード単位で希望アドレ ライト、ワードプログラム及び全てのイレーズコマンド は一定の時間で行われデバイスの寿命に影響はなく、ま スにプログラムができる。ワードプログラムサイクル 中、アドレスは WE# の立ち下がりでラッチされる。デー たイレーズ / プログラム回数の影響も受けない。 E2のライトサイクル実行時にフラッシュの一方のバン タは WE# の立ち上がりでラッチされる。WE# コントロー ルワードプログラムサイクルタイミングチャートは、 クリードが可能。例えば E 2メモリーのライト、イレー ズ、またはプログラミング時にフラッシュメモリーの一 図 -4a1,-4b1、また BE# コントロールによるサイクルは、 図 -4a2,-4b2 を参照。コマンドシーケンスはテーブル - 方のリードが可能である。更にフラッシュメモリーバン ク交互に、2 バンクの一方のフラッシュメモリーバンク 3a、フローチャートは図 -21 参照。 フラッシュのイレーズ、またはプログラム動作の間は のリード動作中に他方、残りのバンクでライトが可能。 ライトステータスコマンドは常時どのバンクがライト 唯一該当バンクからデータポーリングとトグルビットの リードが可能。フラッシュバンクの他方のバンク、また を行っているかを検出するために使う。このコマンドは 指定バンクのライト中にタイマーやトグルビット、デー は E 2バンクのリードは可能。 規定したバンク、ブロック、またはセクターのイレー タポーリングによるモニターを使わない場合に必要とな る。 ライトステータスコマンドを使うために E 2アドレ ズ時間はイレーズに要する時間のみであり、バンク、ブ ロック、セクターイレーズのために外部、 または内部両 ス“5XXXh”のアドレススペースが準備されている。こ のアドレスは通常の E 2アドレス空間外であるため通常 方に要求されるプリプログラミングや他のコマンドサイ クルは無い。 の E 2アドレス空間からのリードの障害にはならない。 E 2バンクのワードライト 2 フラッシュと E ライト動作中デバイスは常時ソフトウェア保護されて E 2のライト動作は SDP コマンドを発行すること、BE#3 と WE# を「L」レベル、OE# を「H」レベルにすることで いる。ライト動作は WE# または BE# のトグルで制御され る。WE# または BE# の立ち下がりの遅いほうでアドレス 開始される構成であり、LE28BU167 へのワードロードサ イクルが続く。内部制御ライトサイクルはワードバッ はラッチされる。WE#、または BE# の立ち上がりの早い ほうでデータがラッチされイレーズ、プログラム、ライ ファーにロードされたデータを E 2に記憶保持する。 選 択されたアドレスは内部制御シグナルによってイレー トサイクルが開始される。 ズ、プログラムされる。 ワードロードサイクルの間アド レスは WE# の立ち下がりでラッチされる。データは WE# SDPイレーズ、プログラム、ライトコマンドはすべてBE# での指定となる。 最初のSDPバスサイクルにいずれかの の立ち上がりでラッチされる。 BE# が使われた場合(WE# が「H」レベルであるリード動 作は除く)コマンド実行のためその BE# は SDP バスサイ 内部ライトサイクルはWE#の立ち上がりで開始される。 ライトサイクルが一旦立ち上がるとティピカルで7ms以 クル中ずっと使用されねばならない。コマンドシーケン ス中、WE# が「L」レベルで SDP バスサイクル中、他の BE# 内でライトが終了するまで続けられる。フローチャート は図 -20 を参照。 にパルスが与えられる場合、デバイスの SDP コマンドは 中止されリードモードに戻る。SDP コマンドシーケンス ライト動作はワードロードサイクルと内部ライトサイ クルの 2 つの機能サイクルを持つ。ワードロードサイク はWE#を「H」レベルにすることで中断保留にすることが できる。SDP コマンドシーケンスに入っていない 2 つの ルは、S D P シーケンス実行時に 1 ワードをワードバッ ファーへローディングすることによってできる。内部ラ バンクを読み出すために他方のBE#へパルスを与えるこ とが可能。 イトサイクルは、選択されたアドレスをイレーズ、プロ グラムするためライトタイマーからなる。ワードはライ 簡略化を目的に、イレーズ、プログラム、ライトを開 ト前にイレーズする必要はない。ライト動作中は、E 2か らはデータポーリングとトグルビットのみリードが可 始するために以下の記述は WE# のトグルを仮定してい る。該当 BE# のトグルも同じ機能を持つ。WE# 及びBE# コ 能、また両方のフラッシュバンクの一方から通常リード が可能。 ントロールによるプログラム、またはライトコマンドを 説明するため別々のタイミングチャートがあることに注 意。 No.6254-3/46 LE28BU167 E 2のワードプログラム フラッシュバンクのバンクイレーズ E 2のワードプログラムはBE#3とWE#を「L」レベル、OE# を「H」レベルとして、SDP ワードプログラムコマンドを 三洋の LE28BU167 は、ユーザーでフラッシュメモリー アレーを”1”状態にすることのできるバンクイレーズ 発行することで可能。ワードプログラムコマンドは、 ワード単位で希望のアドレスへプログラムする。プログ モードを有する。この機能はフラッシュメモリー全体を 素早くイレーズせねばならない時に有用である。 ラムされるワードはワードライト動作とは異なりプログ ラムに先だちのイレーズ状態になければならない。ワー ソフトウェアフラッシュバンクイレーズはソフトウェ ドプログラムサイクル中はWE#の立ち下がりによってア ドレスがラッチされる。 アデータプロテクション時において指定の6ワードロー ディングシーケンスが出されることによって開始され WE# コントロールによるデータは WE# の立ち上がりで ラッチされる。プログラムサイクルのタイミング波形は る。 ローディングサイクルの後、デバイスは内部タイ マーによるイレーズサイクルに入る。指定コードはテー 図-4d1、BE#コントロールによるタイミング波形は、図4d2 を参照、コマンドシーケンスは 3b、フローチャート ブル− 3a を参照、タイミング波形は図− 5a1、5b1、 フ ローチャートは図―16 参照。 は図 -22 を参照。 フラッシュバンクのブロックイレーズ E 2のイレーズ、またはプログラム動作中、E 2からは データポーリングとトグルビットのみリードが可能、ま 三洋の LE28BU167 は、フラッシュの任意のブロックを” 1”状態にすることのできるブロックイレーズモードを た両方のフラッシュバンクの一方からは通常リードが可 能。 有する。ソフトウェアブロックイレーズのモードはソフ トウェアデータプロテクト時において指定の 6 ワード バンクまたはセクターイレーズ時間は、イレーズのみ ローディングシーケンスを出すことにより開始される。 ローディングサイクルの後、デバイスは内部のタイマー に要する時間であり、バンク、セクターのイレーズのた めの内部または外部両方のプリプログラミングや他のコ によるイレーズサイクルに入る。指定コードはテーブル 3a 参照、タイミング波形は図―5a2、5b2、フローチャー マンド、サイクルの必要はない。 トは図―17参照。イレーズ動作時は選択したセクターか らのデータポーリングとトグルビットのリードのみ可能 イレーズ動作 バンクイレーズは指定される 6 ワードロードシーケン で、他のバンクは通常のリードができる。 スによって開始される。テーブル -3a、-3b 参照。バン クイレーズはティピカルで 70ms 以下。 フラッシュバンクのセクターイレーズ LE28BU167 は、フラッシュの任意のセクターを”1”状 フラッシュでのバンクイレーズの代わりとしては、ブ 態にすることができるセクターイレーズモードを有す る。 ロックとセクターイレーズがある。ブロックイレーズは ブロック(32K ワード)をティピカル 15ms でイレーズす ソフトウェアセクターイレーズモードはソフトウェア る。 セクターイレーズはセクター(1024ワード)をティ ピカル 15ms でイレーズ。 データプロテクト時において指定される6ワードロー ディングシーケンスを出すことにより開始される。ロー セクターイレーズはセクターイレーズモードとワード プログラムモードを使ってセクター毎にイレーズが可 ディングサイクルの後、デバイスは内部でタイマーによ るイレーズサイクルに入る。指定コードはテーブル3aを 能。セクターイレーズは指定される 6 ワードロードシー ケンスに よって開始される。テーブル 3a 参照。 参照、タイミング波形は図− 5a3、5b3、フローチャート は図―19参照。イレーズ動作中は選択したブロックから 2 E バンクはまた、バンクイレーズの代わりにセクター のデータポーリングとトグルビットのリードのみ可能 で、他のバンクは通常のリードができる。 イレーズの使用が可能。E 2セクターは32ワードであり、 ティピカル 7ms でイレーズされる。 E 2バンクのバンクイレーズ セクターイレーズは指定される 6 ワードロードシーケ ンスで開始される。テーブル3b参照。セクターまたはバ LE28BU167 は、ユーザーで E 2バンクを”1”状態にする E 2のバンクイレーズを提供する。 ンクイレーズとワードプログラムは E 2でのワードライ トの代用である。 E2のバンクイレーズモードはソフトウェアデータプロ どのバンクにおいてもセクター、ブロック、バンクイ テクション作動時において指定された6ワードローディ ングシーケンスを出すことにより開始される。ローディ レーズ中は他のバンクを読み出すことが可能。E2のワー ドライト中、2 つのフラッシュの一方を読み出すことが ングサイクルの後、デバイスは内部タイマーによるイ レーズサイクルに入る。指定コードはテーブル 3b を参 可能。 照、タイミング波形は図―5c1、フローチャートは図― 16 参照。 No.6254-4/46 LE28BU167 E 2バンクのセクターイレーズ イレーズ、プログラム、ライト動作が一旦開始される LE28BU167 は、ユーザーで E 2バンクの任意のセクター を”1”状態にできるセクターイレーズモードを提供す と動作を止める方法はない。三洋のフラッシュ技術に よってイレーズ、プログラム、ライトの時間はシステム る。ソフトウェアセクターイレーズモードはソフトウェ アデータプロテクト時において指定の6ワードローディ リセット時間に比べ非常に速く、動作を中止にさせるよ うな値ではない。 ングのシーケンスを出すことで開始される。ローディン グサイクルの後、デバイスは内部タイマーによるイレー リードは、イレーズ、プログラム又はライト動作を実 ズサイクルに入る。 指定コードはテーブル3を参照、タ イミング波形は図−5c2、フローチャートは図―18参照。 行していないどのバンクからも常に可能である。 ブートコードが格納されているバンクでブロックまた イレーズ動作中は E 2内のデータポーリングとトグル ビットのリードのみ可能で、フラッシュメモリーにおけ はセクターイレーズ、またはワードプログラムが実行さ れている間にシステムリセットがあると、そのシステム る他のバンクは通常のリードができる。 は該当バンクのリード前に動作が完了するまでシステム は待機しなければならない。ブロックイレーズでシステ ライト動作状態の検知 三洋の LE28BU167 は、システムのライトサイクル時間 ムが待機しなければならない時間は、最長で 25ms なの でシステムのブートコードを読む能力に影響はない。 を最適化するため E 2とフラッシュバンクのライトサイ クル終了を2つのソフトウェアで検知する。 ソフトウェ フラッシュのデータポーリング(DQ7) アでの検知は、データポーリング(DQ7)とトグルビッ ト(DQ6)の二つのステータスビットである。 内部での LE28BU167が内部フラッシュ部のプログラムサイクル にある時で、ワードロードサイクルの間にロードされた ライト、イレーズ、プログラムサイクルを開始するWE# の立ち上がり後に、ライト終了検知モードがイネーブル 最後のワードのDQ7を読み込むいかなる試みもトゥルー データの捕捉を受けることになる。一度ライトサイクル となる。 が完了すれば、DQ7はトゥルーデータを示す。 デバイス はその後、次の動作の準備を行う。 図−6a、6bのフラッ 不揮発性ライトの実際の終了は、システムと同期して いないためデータポーリング、またはトグルビットリー シュデータポーリングのタイミング波形と図 -23 のフ ローチャートを参照。 ドの両方がライトサイクルの完了と同時になる場合があ る。 これが起こるとシステムは、誤った結果を得る可能 E 2のデータポーリング(DQ7) 性がある。有効であるデータが DQ7 または DQ6 両方とか ち合って現れる。 誤ったデバイスの深刻なリジェクッ LE28BU167 が E 2部のプログラムサイクルにある時で ワードロードサイクルの間、ロードされた最後のワード ションを避けるために、誤動作が起こった場合、ソフト ウェアのルーティーンにアクセスした場所を2回追加で のDQ7を読み込むいかなる試みもトゥルーデータの補足 を受けることになる。一度ライトサイクルが完了すれば、 読むループを入れるべきである。両方のリードが有効で ある場合、デバイスはライト動作を完了しているが、そ DQ7はトゥルーデータを示す。 デバイスはその後次の動 作の準備状態となる。 図− 6c の E 2 データポーリング うでないならば、そのリジェクションは正しい。 タイミング波形と図 -23 のフローチャートを参照。 加えて、ライトステータスリードは、いずれかのバン クがイレーズ、プログラム、ライト動作に入っているか フラッシュのトグルビット(DQ6) フラッシュ部が内部ライトサイクルの間、継続的なDQ6 を確認するために実行される。ライトステータスリード は、システムがあるバンクのイレーズ、プログラム、ラ を読みだす試みは 0 と 1 を交互に出力し 0 と 1 の間でト グルとなる。ライトサイクルが完了する時、トグルはと イト動作の状態を見失っているときに使用できる。しか し、通常、ワードライト、ワードイレーズ、ワードプロ まる。その後デバイスは次の動作の準備状態となる。図 7a,7b のトグルビットタイミング波形と図 -23 のフロー グラム又はブロックイレーズはシステムリセットのリカ りも前に開始した場合、システムはバンクイレーズがも チャートを参照。 はや実行中ではないことを確認する必要があるだろう。 システムリセットからリカバリーするときの問題がない E 2のトグルビット(DQ6) E 2が内部ライトサイクルの間、継続的に DQ6 を読みだ ようにバンクイレーズは、ブートコードを格納している バンクには実行されないように注意すること。 す試みは 0 と 1 を交互に出力し 0 と 1 の間でトグルとな る。ライトサイクルが完了する時トグルはとまる。その 指定コードはテーブル 3a、3b参照。タイミング波形は 図 -13 参照。 後デバイスは次の動作の準備状態となる。 イレーズ、プログラム、ライト動作が一旦開始される 図−7cのE 2トグルビットタイミング波形と図-23のフ ローチャートを参照。 と動作を止める方法はない。三洋のフラッシュ技術に よってイレーズ、プログラム、ライトの時間はシステム リセット時間に比べ非常に速く、動作を中止にさせるよ うな値ではない。 No.6254-5/46 LE28BU167 データ保護 SDP ロードシーケンスはバンク指定で、同じBE# は各々 LE28BU167はハードウェアとソフトウェア両方で不慮 のライトから不揮発性データを保護する機能を有する。 のバスサイクルで「L」レベルでなければならない。異 なる BE# が「L」レベル(WE#「H」レベルのリード動作は ハードウェアデータ保護 除く) 、間違ったアドレスのロード、間違ったデータの ロードでコマンドシーケンスが中断された場合、tRC ノイズ/グリッジからの保護;5ns 以下の WE# へのパル スではライトサイクルは開始されない。 VDD パワーアップ/ダウン検知; VDD が 1.5V以下の場合はライト動作は禁止される。 ラ イト禁止モード;OE# を「L」レベル、BE#1 と BE#2 を「H」 以内にリードモードに戻る。 リードとライトの同時動作 LE28BU167 は、一方のバンクでライト、イレーズ、プロ グラミングを行っている間に他のバンクのリードが同時 に可能という独自の利点を有する。これは、あるバンク レベル、または WE# を「H」レベルにするとフラッシュメ モリーへのライト動作が禁止状態となる。 OE#を「L」レ でデータを書き換えている間に、別のバンクからデータ 書き換えコードをリードすることで達成される。 ベル、BE#3 を「H」レベル、または WE# を「H」レベルに すると E 2メモリーへのライトが禁止となる。これはパ 以下の表はすべて有効な状態を示す。 ワーアップ、パワーダウン時の不慮のライト回避を行 う。 並行リード / ライトの状況表 Bank1 Bank2 Bank3 E の OTP ライト保護 リード リード 非動作 ライト ライト 非動作 E 2の最初のセクターがオプションでOTP(ワンタイム・ プログラマブル)となり、ライトを回避する。最初のセ ライト 非動作 リード ライト 非動作 リード クターはアドレス A5 ∼ A11 が "0" (0000 から 001F 番地 hex)となる。一度 OTP ソフトウェア命令が実行されると ライト 非動作 非動作 ライト リード リード 2 これらの32ワードに対してのライト、イレーズ、プログ ラム動作が出来なくなる。 また、OTP保護がイネーブル 注: ライトの意味は該当するバンクで適用されるワード 状態になるとE2のバンクイレーズは機能しなくなる。指 定コードはテーブル 3b を参照、タイミング波形は図 12 ライト、ブロック、セクター、またはバンクイレーズ、 ワードプログラムのこと。 を参照。 本デバイスは、 イレーズ、プログラム又はライト動作 ソフトウェアデータプロテクション(SDP) LE28BU167 は、JEDEC で承認されたライト、イレーズ、 中における全ての SDP コマンドと WE# のトグルを無視す る。製品識別と CFI エントリーコマンドは、SDP を使用 プログラム動作に入る前の要求であるソフトウェアデー タプロテクションを有する。いかなるライト動作も、 するので、これらのコマンドはイレーズ、プログラミン グ又はライト動作中には無視される。 ワードライト、またはワードプログラムの動作に先立ち 一連の 3 ワードロード動作を含むことが要求される。 3 製品識別 ワードシーケンスはライト、またはプログラムサイクル を開始するために使われ、システムのパワーアップ/ダ 製品識別モードはデバイスの製造者三洋と各々バンク を識別するコードを提供する。製造者IDは各々バンクで ウンの間に起こる不慮のライトから最大限の保護を行っ ている。 6ワードシーケンスがすべてのバンク、ブロッ 同一であるが各々のバンクは独自の ID を持っている。 それぞれのバンクは該当の BE# とソフトコマンドで個 ク、またはセクターのイレーズ動作を開始するために必 要。 別にアクセスができる。ユーザーは、デバイスID機能を 使ってそれぞれのバンクへのライトアルゴリズムの識別 JEDEC の要求に従えば SDP はバイトフォーマットであ る。 LE28BU167 はワード構成であり、DQ8 ∼ DQ15 は SDP ができる。ソフトウエア動作にはテーブル 3a 又は 3b を 参照。タイミング波形は図 8a,8b,8c を参照。 コマンドシーケンス(3 ワードまたは 6 ワード)中はド ントケアとなる。 プロダクト識別 表 ワード データ SDP ロードコマンドシーケンス中、WE# が「H」レベルの 製造者 ID デバイスコード Bank1 0000H 0001H 0062H 2591H 場合 SDP ロードサイクルは保留となる。SDP ロードシー ケンスの間他のバンクのリードを可能とする。 デバイスコード Bank2 デバイスコード Bank3 0001H 0001H 2592H 2593H No.6254-6/46 LE28BU167 デバイス ID は、各々のバンクに独自にある。バンク ID は、チップ IDのように使われる。一方、ソフトウエア ID または CFI リードにおいては、これらモードから抜ける までは他の動作は受け付けない。 製造者 ID モードからの抜け出し 通常のリードモードへ戻るためには、ソフトウェアの プロダクト識別モードから抜け出さねばならない。 ソフトウェアの ID 抜け出しコマンドを実行することに よってIDモードからの抜け出しができ、デバイスは通常 動作に戻る。このコマンドはまた、明らかにデバイスの 原因で不慮の一時的な不具合(例えば正確にリードがで きない)の後のライトモードのリセットに使われる。 ソフトウエア動作にはテーブル3a又は3bを参照。タイ ミング波形は図 9a,9b,9c を参照。 コモン・フラッシュ・インターフェース(CFI) LE28BU167は、また、各々バンクでそれらバンクの特性 を記述するための CFI 情報を保持している。各バンクの CFI 内容は表 a 乃至 c を参照。各バンクが同じに動作す るように 2 つのフラッシュバンクは同じ情報を使用す る。E 2バンクは、そのバンクの選択情報を含む。 CFI 情報を得る目的で、CFI メモリー領域は、CFI エン トリーコマンドを使ってアクセスされる。詳細にはソフ トウエア動作にはテーブル 3a 又は 3b を参照。タイミン グ波形は図 10a,10b,10c を参照。 CFI モードからの抜け出し 通常のリードモードへ戻るためには、CFIモードから抜 け出さねばならない。 CFI抜け出しコマンドを実行することによって抜け出す 事ができ、デバイスは通常動作に戻る。このコマンドは また、明らかにデバイスの原因で不慮の一時的な不具合 (例えば正確に読出しができない)の後にデバイスを リードモードにリセットするのに使われる。ソフトウエ ア動作にはテーブル 3a 又は 3b を参照。タイミング波形 は図 11a,11b,11c を参照。 CFI は、バイトワイドの情報規定がされている。 LE28BU167 はワードワイドで構成されるので、各 CFI ワードの第 1 バイト(2nibbles)は、いつも”0”である。 No.6254-7/46 LE28BU167 A B C D E F 1 A3 A7 NC WE# A9 A13 A4 A17 NC BE#2 A8 A12 A2 A6 A18 BE#3 A10 A14 A1 A5 NC NC A11 A15 2 3 4 5 A0 DQ0 DQ2 DQ5 DQ7 A16 6 7 8 BE#1 DQ8 DQ10 DQ12 DQ14 NC OE# DQ9 DQ11 VDD DQ13 DQ15 VSS DQ1 DQ3 DQ4 DQ6 VSS TOP VIEW 327 ILL F01a.3 図図 1a: ピン配置 : TFBGA (6 × 8 グリッド ,0.8mm ピッチ) ピン配置: TFBGA( 図図 1b: ピン配置 : TSOP タイプ I (10mm × 14mm) ピン配置: No.6254-8/46 LE28BU167 表 1: 端子説明 ピン名 記号 A18-A0 フラッシュバンクアドレス A11-A0 E2バンクアドレス A18-A15 フラッシュバンクブロックアドレス A18-A10 フラッシュバンクセクターアドレス A11-A5 DQ15-DQ0 E2バンクセクターアドレス データ入出力 BE#1 フラッシュバンクイネーブル1 BE#2 フラッシュバンクイネーブル2 BE#3 OE# WE# VDD Vss NC E2バンクイネーブル アウトプットイネーブル ライトイネーブル1 電源 接地 ノーコネクション 機能説明 フラッシュバンクにアドレスを供給する E2バンクにアドレスを供給する イレーズ用にフラッシュバンクブロックを選択 する イレーズ用にフラッシュバンクセクターを選択 する イレーズ用にE2バンクを選択する リードサイクルではデータを出力しライトサイ クルではデータを入力するOE#が「H」又は BE#1,BE2#,BE#3が「H」の時出力は高インピー ダンスである BE#1が「L」の時フラッシュバンク1をアクティ ブにする BE#2が「L」の時フラッシュバンク2をアクティ ブにする BE#3が「L」の時E2バンクをアクティブにする データ出力バッファをアクティブにする ライト,イレーズ,又はプルグラムを制御する 2.5V±0.3Vを供給する 内部チップと接続されていない 327 PGM T1.2 図 2: 機能ブロックダイヤグラム 327 ILL F02.1 No.6254-9/46 LE28BU167 表 22a a:フラッシュバンクの動作モード選択 アレイ動作モード リード フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 ブロックイレーズ フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 セクターイレーズ フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 プログラム フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 スタンバイ ライトインヒビット フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 フラッシュバンク イレーズ フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 BE#1 BE#2 BE#3 VIL VIH VIH VIL VIH VIH VIL VIL VIH VIH DOUT DOUT AIN AIN VIL VIH VIH VIL VIH VIH VIH VIH VIL VIL DIN DIN 表3参照 表3参照 VIL VIH VIH VIL VIH VIH VIH VIH VIL VIL DIN DIN 表3参照 表3参照 VIL VIH VIH VIH VIL VIH VIH VIH VIH VIH VIH X VIL VIL X DIN DIN High Z 表3参照 表3参照 X VIH X X VIH X X VIL VIL VIH VIH X X X X VIL VIH VIH VIL VIH VIH VIH VIH VIL VIL DIN DIN 表3参照 表3参照 ステータス動作モード ライト状態リード イリーガル状態 イリーガル状態 イリーガル状態 イリーガル状態 製品識別 フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 BE#1 VIH VIL VIL VIL X BE#2 VIH VIL VIL X VIL BE#3 VIL VIL X VIL VIL OE# VIL X X X X WE# VIH X X X X DQ DOUT HIGH HIGH HIGH HIGH VIL VIH VIH VIL VIH VIH VIL VIL VIH VIH DOUT DOUT A18-A1=VIL A0=VIL or VIH 表3参照 VIL VIH VIH VIL VIH VIH VIL VIL VIH VIH DOUT DOUT 表3参照 表3参照 コモンフラッシュ インターフェース フラッシュバンク1 フラッシュバンク2 OE# WE# DQ 注:1 Z Z Z Z アドレス アドレス 5XXXXH X 注2 X 注2 X 注2 X 注2 327 PGM T2a.2 注1: もし、フラッシュバンク1がライトをしていればDQ1は「L」, もし、フラッシュバンク2がライトをしていればDQ2は 「L」, 注2: もし、E2バンクがライトをしていればDQ3は「L」となる。 イレーズ、プログラム、またはライトの期間にイリーガル状態に入ってもその動作には影響を与えない。つまり、 イレーズ、プログラム、またはライト動作は正常に完了する。 No.6254-10/46 LE28BU167 表 2b: E2 バンクの動作モード選択 アレイ動作モード リードE2バンク ライトE2バンク セクタイレーズE2バンク プログラムE2バンク スタンバイ ライトインヒビット E2バンク バンクイレーズ゙E2 バンク OTPイネーブルE2バンク ステータス動作モード ライトステータスリード イリーガル状態 イリーガル状態 イリーガル状態 イリーガル状態 BE#1 VIH VIH VIH VIH VIH X BE#2 VIH VIH VIH VIH VIH X BE#3 OE# VIL VIL VIL VIH VIL VIH VIL VIH VIH X VIH VIL WE# VIH VIL VIL VIL X VIH DQ DOUT 注1 DIN DIN DIN High Z X アドレス VIH VIH VIL VIH VIL DIN 表3参照 VIH BE#1 VIH VIL VIL VIL X VIH BE#2 VIH VIL VIL X VIL VIL VIH BE#3 OE# VIL VIL VIL X X X VIL X VIL X VIL WE# VIH X X X X DIN DQ DOUT High High High High 表3参照 アドレス 5XXXXH X 注3 X 注3 X 注3 X 注3 VIH VIH VIL VIL VIH DOUT A18-A1=VIL A0=VIL or VIH 表3参照 VIH VIH VIL VIL VIH DOUT 表3参照 注2 Z Z Z Z 表3参照 表3参照 表3参照 表3参照 X 製品識別 E2バンク コモンフラッシュ インターフェイス E2バンク 327 PGM T2b.3 注1: A11-A0は有効アドレスである。 A15-A12はドントケアである。 A18-A16を16進表記で”5”にしてはならない。 注2: もし、フラッシュバンク1がライトをしていればDQ1は「L」, もし、フラッシュバンク2がライトをしていればDQ2は 「L」, もし、E2バンクがライトをしていればDQ3は「L」となる。 注3: イレーズ、プログラム、またはライトの期間にイリーガル状態に入ってもその動作には影響を与えない。つまり、 イレーズ、プログラム、またはライト動作は正常に完了する。 No.6254-11/46 LE28BU167 表 3a : フラッシュバンクのソフトウエアコマンドコード設定 3a: コマンド コード 1バスサイクル 2バスサイクル 3バスサイクル 4バスサイクル 5バスサイクル 6バスサイクル Addr Data Addr Data Addr Data Addr Data Addr Data Addr Data 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 ソフトウエア ID エントリ 5555 AA 2AAA 55 5555 90 注 2 ソフトウエア ID 終了 5555 AA 2AAA 55 5555 F0 注 3 フラッシュバンク ワードプログラム 5555 AA 2AAA 55 5555 A0 Word Addr Data In フラッシュバンク セクターイレース 5555 AA 2AAA 55 5555 80 5555 AA 2AAA 55 セクター Addr 30 フラッシュバンク ブロックイレーズ゙ 5555 AA 2AAA 55 5555 80 5555 AA 2AAA 55 セクター Addr 50 フラッシュバン バンクイレーズ 5555 AA 2AAA 55 5555 80 5555 AA 2AAA 55 5555 10 CFI エントリ 5555 AA 2AAA 55 5555 98 注 6 CFI 終了 5555 AA 2AAA 55 5555 F0 注 3 327 PGM T3a.2 ソフトウエア製品 ID コマンドコードの注意事項 ソフトウエア製品ID IDコマンドコードの注意事項 1. コマンドコードアドレスフォーマット:A14-A0は16進表記である。 2. A14-A1=0の条件の基: A0=0で三洋の製造者コード”00BFH”が読まれる。 A0=1で3つのバンクのいずれか(BE#により選択)を示すデバイスコード 2591H,2592H,2593Hが読まれる。 3. 電源が落ちた場合、本デバイスは、ソフトウエア製品ID又はCFIモードから脱する。 4. A14より大のアドレスは、コマンドシーケンスとしてドントケアになる。 5. データフォーマット: DQ0 から DQ7 は16進表記であり、DQ8 から DQ15 はドントケアになる。 6. 各バンクには分離されたCFIがある。表 4,5,6を参照。 No.6254-12/46 LE28BU167 表 33b b: E2 バンク のソフトウエアコマンド コード バンクの ソフトウエアコマンドコード コマンド コード 1バスサイクル 2バスサイクル 3バスサイクル 4バスサイクル 5バスサイクル 6バスサイクル Addr Data Addr Data Addr Data Addr Data Addr Data Addr Data 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 注 5 注 1,4 ソフトウエア ID エントリ 5555 AA 2AAA 55 5555 90 注 2 ソフトウエア ID 終了 5555 AA 2AAA 55 5555 F0 注 3 E2 バンク ワード ライト 5555 AA 2AAA 55 5555 A0 ワード Addr Data In E2 バンク ワードプログラム 5555 AA 2AAA 55 5555 A5 ワード Addr Data In E2 バンク セクターイレーズ 5555 AA 2AAA 55 5555 80 5555 AA 2AAA 55 セクター Addr 30 E2 バンク バンクイレーズ 5555 AA 2AAA 55 5555 80 5555 AA 2AAA 55 5555 10 E2 バンク OTP イネーブル 5555 AA 2AAA 55 5555 80 5555 AA 2AAA 55 5555 70 CFI エントリ 5555 AA 2AAA 55 5555 98 注 6 CFI 終了 5555 AA 2AAA 55 5555 F0 注 3 327 PGM T3b.2 ソフトウエア製品 ID コマンドコードの注意事項 ソフトウエア製品ID IDコマンドコードの注意事項 1. コマンドコードアドレスフォーマット:A14-A0は16進表記である。 2. A14-A1=0の条件の基: A0=0で三洋の製造者コード”00BFH”が読まれる。 A0=1で3つのバンクのいずれか(BE#により選択)を示すデバイスコード 2591H,2592H,2593Hが読まれる。 3. 電源が落ちた場合、本デバイスは、ソフトウエア製品ID又はCFIモードから脱する。 4. A14より大のアドレスは、コマンドシーケンスとしてドントケアになる。 5. データフォーマット: DQ0 から DQ7 は16進表記であり、DQ8 から DQ15 はドントケアになる。 6. 各バンクには分離されたCFIがある。表 4,5,6を参照。 No.6254-13/46 LE28BU167 表 4a: CFI Query Identification String for Flash Bank 1 Address Data Data 10H 0051H 11H 0052H Query Unique ASCII string "QRY" 12H 0059H 13H 0108H Primary OEM command set 14H 0000H 15H 0000H Address for Primary Extended Table (00H = none exists) 16H 0000H 17H 0000H Alternate OEM command set (00H = none exists) 18H 0000H 19H 0000H Address for Alternate OEM extended Table (00H = none exits) 1AH 0000H 327 PGM T4a.1 表 4b: System Interface Information for Flash Bank 1 Address Data Data 1BH 0022H VDD Min. (Program/Erase) DQ4-DQ7: Volts, DQ3-DQ0: millivolts 1CH 0028H VDD Max. (Program/Erase) DQ4-DQ7: Volts, DQ3-DQ0: millivolts 1DH 1EH 1FH 20H 21H 22H 23H 24H 25H 26H 0000H 0000H 0004H 0000H 0003H 0006H 0001H 0000H 0001H 0001H Vpp min. (00H = no Vpp pin) Vpp max. (00H = no Vpp pin) Typical time out for Word Program 2N us Typical time out for min. size Page Write 2N us (00H = not supported) Typical time out for individual Sector Erase 2N ms Typical time out for Bank Erase 2N ms Maximum time out for Word Program 2N times typical Maximum time out for Page Write 2N times typical Maximum time out for individual Sector Erase 2N times typical Maximum time out for Bank Erase 2N times typical 327 PGM T4b.2 表 4c: Device Geometry Information Address 27H 28H Data 0014H 0001H 29H 2AH 0000H 0000H 2BH 2CH 2DH 2EH 2FH 30H 31H 32H 33H 34H 0000H 0002H 00FFH 0001H 0008H 0000H 000FH 0000H 0000H 0001H Data Bank size = 2N Byte (‘14H’ > 220 = 1Megabyte = 8 Megabit) Flash Bank Device Interface description (Refer to CFI publica tion 100) (x16 asynchronous) Maximum number of bytes in Page Write = 2N (00H = not supported) Number of Erase Block Regions within device Erase Block Region 1 Information (Sector) (refer to the CFI specification or publication 100) y = 511 +1 = 512 sectors (01FFH = 511) z = 2 KByte/sector = 8 x 256 Bytes Erase Block Region 2 Information (Block) (refer to the CFI specification or publication 100) y = 15 + 1 = 16 blocks z = 64 KByte/block = 256 x 256 Bytes (0100H = 64K) No.6254-14/46 LE28BU167 表 5a: CFI Query Identification String for Flash Bank 2 Address 10H 11H 12H 13H 14H 15H 16H 17H 18H 19H 1AH Data 0051H 0052H 0059H 0108H 0000H 0000H 0000H 0000H 0000H 0000H 0000H Data Query Unique ASCII string "QRY" Primary OEM command set Address for Primary Extended Table (00H = none exists) Alternate OEM command set (00H = none exists) Address for Alternate OEM extended Table (00H = none exits) 327 PGM T5a.1 表 5b: System Interface Information Address Data 1BH 0022H 1CH 0028H 1DH 1EH 1FH 20H 21H 22H 23H 24H 25H 26H 0000H 0000H 0004H 0000H 0003H 0006H 0001H 0000H 0001H 0001H Data VDD Min. (Program/Erase) DQ4-DQ7: Volts, DQ3-DQ0: millivolts VDD Max. (Program/Erase) DQ4-DQ7: Volts, DQ3-DQ0: millivolts Vpp min. (00H = no Vpp pin) Vpp max. (00H = no Vpp pin) Typical time out for Word Program 2Nus Typical time out for min. size Page Write 2Nus (00H = not supported) Typical time out for individual Sector Erase 2N ms Typical time out for Bank Erase 2N ms Maximum time out for Word Program 2N times typical Maximum time out for Page Write 2N times typical Maximum time out for individual Sector Erase 2N times typical Maximum time out for Bank Erase 2N times typical 表 5c: Device Geometry Information for Flash Bank 2 Address 27H 28H 29H 2AH 2BH 2CH 2DH 2EH 2FH 30H 31H 32H 33H 34H Data 0014H 0001H 0000H 0000H 0000H 0002H 00FFH 0001H 0008H 0000H 000FH 0000H 0000H 0001H Data Bank size = 2N Byte (‘14H’ > 220 = 1Megabyte = 8 Megabit) Flash Bank Device Interface description (Refer to CFI publication 100) (x16 asynchronous) Maximum number of bytes in Page Write = 2N (00H = not supported) Number of Erase Block Regions within device Erase Block Region 1 Information (Sector) (refer to the CFI specification or publication 100) y = 511 +1 = 512 sectors (01FFH = 511) z = 2 KByte/sector = 8 x 256 Bytes Erase Block Region 2 Information (Block) (refer to the CFI specification or publication 100) y = 15 + 1 = 16 blocks z = 64 KByte/block = 256 x 256 Bytes (0100H = 64K) No.6254-15/46 LE28BU167 表 6a: CFI Query Identification String for E2 Bank Address Data Data 10H 0051H 11H 0052H Query Unique ASCII string "QRY" 12H 0059H 13H 0109H Primary OEM command set 14H 0000H 15H 0000H Address for Primary Extended Table (00H = none exists) 16H 0000H 17H 0000H Alternate OEM command set (00H = none exists) 18H 0000H 19H 0000H Address for Alternate OEM extended Table (00H = none exits) 327 PGM T6a.1 表 6b: System Interface Information for E2 Bank Address 1BH Data 0022H 1CH 0028H 1DH 1EH 1FH 20H 21H 22H 23H 24H 25H 26H 0000H 0000H 0005H 0012H 0002H 0006H 0001H 0001H 0001H 0001H Data VDD Min. (Program/Erase) DQ4-DQ7: Volts, DQ3-DQ0: millivolts VDD Max. (Program/Erase) DQ4-DQ7: Volts, DQ3-DQ0: millivolts Vpp min. (00H = no Vpp pin) Vpp max. (00H = no Vpp pin) Typical time out for Word Program 2Nus Typical time out for min. size Page Write 2Nus Typical time out for individual Sector Erase 2N ms Typical time out for Bank Erase 2N ms Maximum time out for Word Program 2N times typical Maximum time out for Page Write 2N times typical Maximum time out for individual Sector Erase 2N times typical Maximum time out for Bank Erase 2N times typical 327 PGM T6b.2 表 6c: Device Geometry Information for E2 Bank Address 27H 28H Data 000DH 0001H 29H 2AH 0000H 0001H 2BH 2CH 2DH 2EH 2FH 30H 0000H 0001H 007FH 0000H 0001H 0000H Data Device size = 2N Byte ("D"> 213 = 8 KBytes = 64 Kbits) Flash Bank Device Interface description (Refer to CFI publica tion 100) (x16 asynchronous) Maximum number of bytes in Page Write = 2N (00H = not supported) Number of Erase Block Regions within device Erase Block Region 1 Information (Sector) (refer to the CFI specification or publication 100) y = 127 +1 = 128 sectors (007FH = 127) z = 32 Bytes/sector = 1 x 256 Bytes No.6254-16/46 LE28BU167 絶対最大定格 下記の絶対最大定格以上のストレスが印加された場合、破壊を起こす恐れがある。 保存周囲温度・・・・・・・・・・-65℃ ∼ +150℃ D.C.端子電圧・・・・・・・・・・-0.5V ∼ VDD + 0.5V 端子に対する瞬時電圧(<20 ns)・・-1.0V ∼ VDD + 1.0V 許容消費電力 (Ta = 25℃)・・・・1.0W 動作範囲 範囲 商業用 産業用 AC 試験入力 AC試験入力 周囲温度 0℃ ∼ +70℃ -40℃ ∼ +85℃ VDD 2.5V ± 0.3V 2.5V ± 0.3V 入力立ち上がり/立ち下がり時間・・・・5ns 出力端子負荷・・・・・・・・・・・・ CL=30pF 図14、15を参照 DC 電気的特性 DC電気的特性 記号 項目 IDD 動作電流 リード ISB IALP ILI ILO VIL VILC VIH VIHC VOL VOH Min ライト:フラッシュバンク 又は E2バンク リード:フラッシュバンク +ライト/イレーズ/ プログラム:E2又は フラッシュバンク TTLスタンバイ電流 (CMOS inputs) 自己電力セーブモード (CMOS inputs) 入力リーク電流 出力リーク電流 入力「L」レベル電圧 入力「L」レベル電圧(CMOS) 入力「H」レベル電圧 入力「H」レベル電圧(CMOS) 出力「L」レベル電圧 出力「H」レベル電圧 Limits Max Units 20 mA 30 mA 50 mA 10 10 μA μA 1 1 VDD*0.3 0.2 μA μA V V V V V V VDD*0.7 VDD-0.2 0.2 VDD-0.2 条件 BE#1,BE#2,又はBE#3= VIL,WE#=VIH, 全てのDQはオープン,アドレス入力 =VIL/ VIH,動作周波数 f=1/TRC (Min)VDD=VDD Max BE#1/2=WE#=VIL,OE#=VIH,VDD = VDD Max. BE#3=WE#=VIL,OE#=VIH,VDD = VDD Max. BE#1,BE#2,or BE#3 = VIL,OE#=WE#=VIH アドレス入力=VIL/VIH,動作周波数 f=1/TRC(Min)WE#=VIH,VDD = VDD Max BE#1=BE#2=BE#3=VIHC VDD = VDD Max. BE#1,BE#2, or BE#3= VILC,WE#=VIHC, 全てのDQはオープン,アドレス入力 = VILC/VIHCとスタテックVDD = VDD Max VIN =GND ∼ VDD,VDD = VDD Max VOUT =GND ∼ VDD,VDD = VDD Max. IOL= 100μA,VDD = VDD Min. IOH = -100μA,VDD = VDD Min. No.6254-17/46 LE28BU167 電源投入タイミング 記 号 項 目 TPU-READ(1) TPU-WRITE(1) 電源投入からリード動作までの時間 電源投入からライト動作までの時間 入出力容量 (Ta = 25 ℃ , f=1 MHz, 他のピンはオープン ) 25℃ 他のピンはオープン) 項目 記号 CDQ(1) CIN(1) 入出力容量 入力容量 信頼性特性 項 目 記 号 NEND (1) TDR(1) 注: (1) 書換回数-フラッシュ部 書換回数-E2部 データ保持 Minimum Units 200 200 μs μs 条件 Maximum VDQ = 0V VIN = 0V 12 pF 6 pF Min. Spec. Units 10,000 100,000 10 Cycles/Sector Cycles/Word Years テスト方法 JEDEC Standard A117 JEDEC Standard A103 この特性は、デバイスの初期条件に基づき測定されたもので、仕様が変更するとその特性も変わる。 No.6254-18/46 LE28BU167 AC電気的特性 リードサイクル 記 号 TRC TBE TAA TOE TCLZ(1) TOLZ(1) TCHZ(1) TOHZ(1) TOH(1) 項 目 リリードサイクル時間 BE#アクセス時間 アドレスアクセス時間 OE#アクセス時間 BE#からの出力低インピーダンス時間 OE#からの出力低インピーダンス時間 BE#からの出力高インピーダンス時間 OE#からの出力高インピーダンス時間 アドレスからの出力有効時間 LE28BU166-90 Max Min 90 90 90 35 0 0 20 20 0 イレーズ / プログラミングサイクル イレーズ/ 項目 記号 TWC ワードライトサイクル時間 (イレーズ+プログラム) TBPE ワードプログラム時間 - E2バンク TBPF ワードプログラム時間 - フラッシュバンク TSEF セクターイレース時間 フラッシュバンク TLEF ブロックイレース時間 フラッシュバンク TBEF バンクイレース時間 フラッシュバンク TSEE セクターイレース時間 E2バンク TBEE バンクイレース時間 E2バンク TWS アドレスセットアップ時間 TAH アドレスホールド時間 TBES BE# セットアップ時間 TBEH BE# ホールド時間 TOES OE# 「H」レベル セットアップ時間 TOEH OE# 「H」レベル ホールド時間 TWP WE# パルス幅 TWPH WE# 待機パルス幅 TDS データセットアップ時間 TDH データホールド時間 (1) TVDDR VDD立ち上がり時間 TDBR データ#ポーリングリード時間 TTBR トグルビットリード時間 TIDA ID又はCFI Read/Exit サイクル 注: (1) LE28BU166-120 Min Max 120 120 120 50 0 0 30 30 0 Min 0 50 0 0 0 0 50 30 50 0 0.1 35 35 150 Units ns ns ns ns ns ns ns ns ns Max 10 Units ms 40 20 25 25 100 10 100 μs μs ms ms ms ms ms ns ns ns ns ns ns ns ns ns ns ms ns ns ns 50 この特性は、デバイスの初期条件に基づき測定されたもので、仕様が変更するとその特性も変わる。 No.6254-19/46 LE28BU167 TRC TAA ADDRESS A18-0 TBE BE#1 TOE OE# VIH TOHZ TOLZ BE#2, BE#3, WE# DQ15-0 HIGH-Z TOH TCLZ DATA VALID TCHZ HIGH-Z DATA VALID 327 ILL F03a.2 TRC TAA ADDRESS A18-0 TBE BE#2 TOE OE# VIH TOHZ TOLZ BE#1 , BE#3, WE# DQ15-0 HIGH-Z TCLZ TOH DATA VALID TCHZ HIGH-Z DATA VALID 327 ILL F03b.2 No.6254-20/46 LE28BU167 TAA TRC ADDRESS A11-0 TBE BE#3 TOE OE# TOHZ TOLZ VIH BE#1 , BE#2, WE# HIGH-Z DQ15-0 TCHZ TOH TCLZ HIGH-Z DATA VALID DATA VALID 327 ILL F03c.2 TBPF 5555 TAH ADDRESS A18-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP WE# TAS TDS TWPH BE#2, BE#3, OE# TBEH BE#1 TBES DQ15-0 AA SW0 55 SW1 A0 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04a1.3 No.6254-21/46 LE28BU167 TBPF 5555 TAH ADDRESS A18-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP BE#1 TAS TDS TWPH BE#2, BE#3, OE# TWEH WE#1 TWES DQ15-0 AA SW0 55 A0 SW1 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04a2.3 TBPF 5555 TAH ADDRESS A18-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP WE# TAS TDS TWPH BE#1, BE#3, OE# TBEH BE#2 TBES DQ15-0 AA SW0 55 SW1 A0 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04b1.3 No.6254-22/46 LE28BU167 TBPF 5555 TAH ADDRESS A18-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP BE#2 TAS TDS TWPH BE#1, BE#3, OE# TWEH WE# TWES DQ15-0 AA SW0 55 A0 SW1 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04b2.3 TWC 5555 TAH ADDRESS A14-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP WE# TAS TDS TWPH BE#1, BE#2, OE# TBEH BE#3 TBES DQ15-0 AA SW0 55 SW1 A0 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04c1.3 No.6254-23/46 LE28BU167 TWC 5555 TAH ADDRESS A14-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP BE#3 TAS TDS TWPH BE#1, BE#2, OE# TWEH WE# TWES DQ15-0 AA SW0 55 A0 SW1 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04c2.3 TBPE 5555 TAH ADDRESS A14-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP WE# TAS TDS TWPH BE#1, BE#2, OE# TBEH BE#3 TBES DQ15-0 AA SW0 55 SW1 A5 SW2 DATA WORD (ADDR/DATA) 327 ILL F04d1.3 No.6254-24/46 LE28BU167 TBPE 5555 TAH ADDRESS A14-0 2AAA 5555 ADDR TDH TWP BE#3 TAS TDS TWPH BE#1, BE#2, OE# TWEH WE# TWES DQ15-0 AA SW0 55 SW1 A5 DATA SW2 WORD (ADDR/DATA) 326 ILL F04d 2.3 TBEF ADDRESS A18-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA 5555 TAH TAS BE#1 BE#2, BE#3, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 10 SW5 327 ILL F05a1.2 No.6254-25/46 LE28BU167 TLEF ADDRESS A18-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA BAX TAH TAS BE#1 BE#2, BE#3, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 50 SW5 327 ILL F05a2.3 TSEF ADDRESS A18-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA SAX TAH TAS BE#1 BE#2, BE#3, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 30 SW5 327 ILL F05a3.3 No.6254-26/46 LE28BU167 TBEF ADDRESS A18-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA 5555 TAH TAS BE#2 BE#1, BE#3, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 10 SW5 327 ILL F05b1.2 TLEF ADDRESS A18-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA BAX TAH TAS BE#2 BE#1, BE#3, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 50 SW5 327 ILL F05b2.3 No.6254-27/46 LE28BU167 TSEF ADDRESS A18-0 5555 2AAA 5555 5555 SAX 2AAA TAH TAS BE#2 BE#1, BE#3, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 30 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 SW5 327 ILL F05b3.3 TBEE ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA 5555 TAH TAS BE#3 BE#1, BE#2, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 10 SW5 327 ILL F05c1.2 No.6254-28/46 LE28BU167 TSEE ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA SAX TAH TAS BE#3 BE#1, BE#2, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 30 SW5 327 ILL F05c2.3 ADDRESS A18-0 BE#2, BE#3 TBE BE#1 TOES TOEH OE# TOE WE# DQ7 Data Data# Data# Data 326 ILL F06a.3 No.6254-29/46 LE28BU167 ADDRESS A18-0 BE#1, BE#3 TBE BE#2 TOES TOEH OE# TOE WE# DQ7 Data Data# Data# Data 327 ILL F06b.2 ADDRESS A14-0 BE#1, BE#2 TBE BE#3 TOES TOEH OE# TOE WE# DQ7 Data Data# Data# Data 327 ILL F06c.3 No.6254-30/46 LE28BU167 ADDRESS A18-0 BE#2, BE#3 TBE BE#1 TOEH TOE TOES OE# WE# DQ6 327 ILL F07a.3 ADDRESS A18-0 BE#1, BE#3 TBE BE#2 TOEH TOE TOES OE# WE# DQ6 327 ILL F07b.3 No.6254-31/46 LE28BU167 ADDRESS A14 -0 BE#1, BE#2 TBE BE#3 TOES TOE TOEH OE# WE# DQ6 326 ILL F07c.3 ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 0000 0001 BE#1 BE#2, BE#3 OE# TIDA TWP WE# TWPH DQ15-0 AA 55 SW0 SW1 TAA 90 00BF 2591 SW2 327 ILL F08a.3 No.6254-32/46 LE28BU167 ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 0000 0001 BE#2 BE#1, BE#3 OE# TIDA TWP WE# TWPH DQ15-0 AA 55 SW0 SW1 TAA 00BF 90 2592 SW2 327 ILL F08b.3 ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 0000 0001 BE#3 BE#2, BE#3 OE# TIDA TWP WE# TWPH DQ15-0 AA 55 SW0 SW1 TAA 90 00BF 2593 SW2 327 ILL F08c.3 No.6254-33/46 LE28BU167 ADDRESS A14-0 5555 2AAA DQ15-0 AA 5555 55 F0 TIDA BE#1 BE#2, BE#3, OE# TWP WE# T WPH SW0 ADDRESS A14-0 DQ15-0 5555 SW1 2AAA AA 327 ILL F09a.3 SW2 5555 55 F0 TIDA BE#1 BE#1 , BE#3, OE# TWP WE# T WPH SW0 SW1 SW2 327 ILL F09b.4 No.6254-34/46 LE28BU167 ADDRESS A14 -0 DQ15-0 5555 2AAA AA 5555 55 F0 TIDA BE#1 BE#1 , BE#3, OE# TWP WE# T WPH SW0 SW1 SW2 327 ILL F09c.4 No.6254-35/46 LE28BU167 ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 0010 0011 BE#1 BE#2, BE#3 OE# TIDA TWP WE# TWPH DQ15-0 AA 55 SW0 SW1 TAA 0051 98 0052 SW2 327 ILL F10a.2 ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 0010 0011 BE#2 BE#1, BE#3 OE# TIDA TWP WE# TWPH DQ15-0 AA 55 SW0 SW1 TAA 98 0051 0052 SW2 327 ILL F10b.3 No.6254-36/46 LE28BU167 ADDRESS A14-0 5555 2AAA 5555 0010 0011 BE#3 BE#2, BE#3 OE# TIDA TWP WE# TWPH DQ15-0 AA 55 SW0 SW1 TAA 98 0051 0052 SW2 327 ILL F10c.3 ADDRESS A14-0 DQ15-0 5555 2AAA AA 5555 55 F0 TIDA BE#1 BE#2, BE#3, OE# TWP WE# T WPH SW0 SW1 SW2 327 ILL F11a.2 No.6254-37/46 LE28BU167 ADDRESS A14-0 5555 DQ15-0 2AAA AA 5555 55 F0 TIDA BE#1 BE#1 , BE#3, OE# TWP WE# T WPH SW0 ADDRESS A14 -0 DQ15-0 5555 SW1 2AAA AA SW2 327 ILL F11b.3 5555 55 F0 TIDA BE#1 BE#1 , BE#3, OE# TWP WE# T WPH SW0 SW1 SW2 327 ILL F11c.3 No.6254-38/46 LE28BU167 TBPE ADDRESS A14 -0 5555 2AAA 5555 5555 2AAA 5555 TAH TAS BE#3 BE#1, BE#2, OE# TDS TWPH TWP TDH WE# DQ15-0 AA 55 80 AA 55 SW0 SW1 SW2 SW3 SW4 70 SW5 327 ILL F12.2 TRC ADDRESS A18-0 5XXXX TAA TBE BE#3 TOE OE# VIH TOLZ BE#1, BE#2, WE# DQ15-0 HIGH-Z TCLZ TOH DATA VALID 327 ILL F13.3 No.6254-39/46 LE28BU167 VIHT VHT VHT VLT VLT VILT 327 ILL F14.2 AC 試験入力は、 ”1”については VIHT(VDD*0.9),”0”については VILT(VDD*0.1)で駆動される。入出力の測定基準点 * は VHT(VDD 0.7)、VLT(VDD*0.3)である。入力立ち上がり / 立ち下がり時間(10% ⇔ 90%)は 10ns 以下である。 図 14 : AC 入出力リファレンス波形 14: VDD RL HIGH CL 図 14 : 試験用負荷 RL LOW 327 ILL F15.2 No.6254-40/46 LE28BU167 327 ILL F16.2 図 16 : バンクイレーズフローチャート 327 ILL F17.4 図 17 : フラッシュバンクブロックイレーズフローチャート 17: No.6254-41/46 LE28BU167 327 ILL F18.4 図 18 : E 2バンクセクターイレーズフローチャート 327 ILL F19.4 図 19 : フラッシュバンクセクターイレーズフローチャート No.6254-42/46 LE28BU167 327 ILL F20.3 図 20 : E 2バンクワードライトフローチャート No.6254-43/46 LE28BU167 327 ILL F21.3 図 21 : フラッシュバンクワードプログラムフローチャート No.6254-44/46 LE28BU167 327 ILL F22.3 図 22 : E 2バンクワードプログラムフローチャート No.6254-45/46 LE28BU167 No No Yes 327 ILL F23.1 図 23 : ライト、 イレーズ、 又はプログラム待ち動作終了のフローチャート ライト、イレーズ、 イレーズ、又はプログラム待ち動作終了のフローチャート Y368 PS No.6254-46/46