INFINEON LD265

0 ... 5
3.6
3.2
0.7
0.6
0.25
0.15
LD 260
LD 262 ... LD 269
fez06365
2.54 mm
spacing
1.9
1.7
0.5
0.4
3.5
3.0
Chip
position
7.4
7.0
2.7
2.5
GaAs-IR-Lumineszenzdioden-Zeilen
GaAs Infrared Emitter Arrays
2.1
1.5
A
0.4 A
GEO06367
feo06367
1.4
1.0
Collector (BPX 83)
Cathode (LD 263)
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
● Hohe Zuverlässigkeit
● Gehäusegleich mit BPX 80-Serie
Features
● GaAs infrared emitting diode, fabricated in a
liquid phase epitaxy process
● High reliability
● Same package as BPX 80 series
Anwendungen
Applications
● Miniaturlichtschranken für Gleich- und
●
●
●
●
● GaAs-IR-Lumineszenzdiode, hergestellt im
Schmelzepitaxieverfahren
Wechsellichtbetrieb
● Lochstreifenleser
● Industrieelektronik
● “Messen/Steuern/Regeln”
Semiconductor Group
1
Miniature photointerrupters
Punched tape-readers
Industrial electronics
For control and drive circuits
1997-11-01
LD 260
LD 262 ... LD 269
Typ
Type
IRED
Maß “A”
Bestellnummer Gehäuse
pro Zeile
per Row Dimension “A” Ordering Code Package
min.
max.
LD 262
2
4.5
4.9
Q62703-Q70
LD 263
3
7
7.4
Q62703-Q71
LD 264
4
9.6
10
Q62703-Q72
LD 265
5
12.1
12.5
Q62703-Q73
LD 266
6
14.6
15
Q62703-Q74
LD 267
7
17.2
17.6
Q62703-Q75
LD 268
8
19.7
20.1
Q62703-Q76
LD 269
9
22.3
22.7
Q62703-Q77
LD 260
10
24.8
25.2
Q62703-Q78
Zeilenbauform, Leiterbandgehäuse,
klares Epoxy-Gießharz, linsenförmig,
Anschlüsse im 2.54-mm-Raster (1/10’’),
Kathodenkennzeichnung:
Nase am Lötspieß
Lead frame arrays, transparent epoxy
resin lens, solder tabs, lead spacing
2.54 mm (1/10’’), cathode marking:
projection at solder lead
Grenzwerte (TA = 25 °C)
Maximum Ratings
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
Top; Tstg
– 40 ... + 80
°C
Sperrschichttemperatur
Junction temperature
Tj
80
°C
Sperrspannung
Reverse voltage
VR
5
V
Durchlaßstrom
Forward current
IF
50
mA
Stoßstrom, τ ≤ 10 µs, D = 0
Surge current
IFSM
1.6
A
Verlustleistung
Power dissipation
Ptot
70
mW
Wärmewiderstand
Thermal resistance
RthJA
RthJL
750
650
K/W
K/W
Semiconductor Group
2
1997-11-01
LD 260
LD 262 ... LD 269
Kennwerte (TA = 25 °C)
Characteristics
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Wellenlänge der Strahlung
Wavelength at peak emission
IF = 50 mA, tp = 20 ms
λpeak
950
nm
Spektrale Bandbreite bei 50 % von Imax
Spectral bandwidth at 50 % of Imax
IF = 50 m A, tp = 20 ms
∆λ
55
nm
Abstrahlwinkel
Half angle
ϕ
± 15
Grad
deg.
Aktive Chipfläche
Active chip area
A
0.25
mm2
Abmessungen der aktive Chipfläche
Dimension of the active chip area
L×B
L×W
0.5 × 0.5
mm
Abstand Chipoberfläche bis Linsenscheitel
Distance chip surface to lens top
H
1.3 ... 1.9
mm
Schaltzeiten, Ie von 10 % auf 90 % und von
90 % auf 10%, bei IF = 50 mA, RL = 50 Ω
Switching times, Ie from 10 % to 90 % and
from 90 % to 10 %, IF = 50 mA, RL = 50 Ω
tr, tf
1
µs
Kapazität, VR = 0 V
Capacitance
Co
40
pF
Durchlaßspannung, IF = 50 mA, tp = 20 µs
Forward voltage
VF
1.25 (≤ 1.4)
V
Sperrstrom, VR = 5 V
Reverse current
IR
0.01 (≤ 1)
µA
Gesamtstrahlungsfluß, IF = 50 mA, tp = 20 ms Φe
Total radiant flux
9
mW
Temperaturkoeffizient von Ie bzw. Φe,
IF = 50 mA
Temperature coefficient of Ie or Φe,
IF = 50 mA
TCI
– 0.55
%/K
Temperaturkoeffizient von VF, IF = 50 mA
Temperature coefficient of VF, IF = 50 mA
TCV
– 1.5
mV/K
Temperaturkoeffizient von λpeak, IF = 50 mA
Temperature coefficient of λpeak, IF = 50 mA
TCλ
0.3
nm/K
Strahlstärke, IF = 50 mA, tp = 20 ms
Radiant intensity
Ie
typ. 5 (≥ 2.5)
mW/sr
Semiconductor Group
3
1997-11-01
LD 260
LD 262 ... LD 269
Relative spectral emission
Irel = f (λ)
Max. permissible forward current
IF = f (TA)
Single pulse, tp = 20 µs
OHRD1938
100
Ιe
OHR01039
10 2
Ι e (100 mA)
%
Ι rel
Ie
= f (IF)
Ie 100 mA
Radiant intensity
OHR01124
80
mA
ΙF
70
80
60
10
1
50
60
40
R thJL = 650 K/W
40
30
10 0
R thJA = 750 K/W
20
20
10
0
880
920
960
1000
nm
λ
10 -1
10 -2
1060
ΙF
OHR01042
10 0
10 1
A
ΙF
0
0
20
40
60
80 C 100
TA , TL
OHR02182
10 4
Ι F mA
typ.
10 0
Permissible pulse handling capability
IF = f (τ), TC = 25 °C,
duty cycle D = parameter
Forward current
IF = f (VE), single pulse, tp = 20 µs
10 1
A
10 -1
max.
D= τ
T
τ
D=0
0,005
0,01
0,02
ΙF
T
10 3
0,05
0,1
0,2
10 -1
10 2
0,5
DC
10 -2
1
1.5
2
2.5
3
3.5
10 1 -5
10
4 V 4.5
VF
10 -4
10 -3
10 -2
10 -1 s 10 0
τ
Radiation characteristics Irel = f (ϕ)
40
30
20
10
0
ϕ
OHR01878
1.0
50
0.8
60
0.6
70
0.4
0.2
80
0
90
100
1.0
0.8
0.6
Semiconductor Group
0.4
0
20
40
60
80
4
100
120
1997-11-01