INFINEON SFH420

3.0
2.6
2.3
2.1
2.1
1.7
0.1 (typ)
0.9
0.7
1.1
0.5
3.7
3.3
2.4
3.4
3.0
SFH 420
SFH 425
fpl06724
GaAs-IR-Lumineszenzdiode in SMT-Gehäuse
GaAs Infrared Emitter in SMT Package
0.8
0.6
Cathode/Collector marking
0.18
0.6
0.12
0.4
Cathode/Collector
Approx. weight 0.03 g
SFH 420 TOPLED
GPL06724
0.7
2.8
2.4
4.2
3.8
(2.4)
Cathode/
Collector
2.54
spacing
1.1
0.9
Anode/
Emitter
(2.85)
GPL06880
SFH 425 SIDELED
fpl06867
(R1)
3.8
3.4
(2.9)
Collector/Cathode marking
4.2
3.8
Maβe in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
● GaAs-LED mit sehr hohem Wirkungsgrad
● Gute Linearität (Ie = f [IF]) bei hohen Strömen
● Gleichstrom- (mit Modulation) oder
Impulsbetrieb möglich
● Hohe Zuverlässigkeit
● Hohe Impulsbelastbarkeit
● Oberflächenmontage geeignet
● Gegurtet lieferbar
● SFH 420 Gehäusegleich mit SFH 320/421
SFH 425 Gehäusegleich mit SFH 325/426
● SFH 425: Nur für IR-Reflow-Lötung geeignet.
Bei Schwallötung wenden Sie sich bitte an uns.
Semiconductor Group
1
Features
● Very highly efficient GaAs-LED
● Good Linearity (Ie = f [IF]) at high currents
● DC (with modulation) or pulsed operations
are possible
● High reliability
● High pulse handling capability
● Suitable for surface mounting (SMT)
● Available on tape and reel
● SFH 420 same package as SFH 320/421
SFH 425 same package as SFH 325/426
● SFH 425: Suitable only for IR-reflow
soldering. In case of dip soldering, please
contact us first.
1997-11-01
SFH 420
SFH 425
Anwendungen
● Miniaturlichtschranken für Gleich- und
Wechsellichtbetrieb, Lochstreifenlaser
● Industrieelektronik
● “Messen/Steuern/Regeln”
Typ
Type
SFH 420
SFH 425
Applications
● Miniature photointerrupters
● Industrial electronics
● For drive and control circuits
Bestellnummer
Ordering Code
Gehäuse
Package
Q62702-P1690
Q62702-P0330
Kathodenkennzeichnung: abgesetzte Ecke
cathode marking: bevelled edge
TOPLED
SIDELED
Grenzwerte (TA = 25 °C)
Maximum Ratings
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
Top; Tstg
– 55 ... + 100
°C
Sperrschichttemperatur
Junction temperature
Tj
100
°C
Sperrspannung
Reverse voltage
VR
5
V
Durchlaßstrom
Forward current
IF
100
mA
Stoßstrom, τ = 10 µs, D = 0
Surge current
IFSM
3
A
Verlustleistung
Power dissipation
Ptot
160
mW
450
K/W
200
K/W
RthJA
Wärmewiderstand Sperrschicht - Umgebung bei
Montage auf FR4 Platine, Padgröße je 16 mm2
Thermal resistance junction - ambient mounted on
PC-board (FR4), padsize 16 mm2 each
Wärmewiderstand Sperrschicht - Lötstelle bei
RthJS
Montage auf Metall-Block
Thermal resistance junction - soldering point,
mounted on metal block
Semiconductor Group
2
1997-11-01
SFH 420
SFH 425
Kennwerte (TA = 25 °C)
Characteristics
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Wellenlänge der Strahlung
Wavelength at peak emission
IF = 100 mA, tp = 20 ms
λpeak
950
nm
Spektrale Bandbreite bei 50% von Imax
Spectral bandwidth at 50% of Imax
IF = 100 mA
∆λ
55
nm
Abstrahlwinkel
Half angle
ϕ
± 60
Grad
deg.
Aktive Chipfläche
Active chip area
A
0.09
mm2
Abmessungen der aktiven Chipfläche
Dimension of the active chip area
L×B
L×W
0.3 × 0.3
mm
Schaltzeiten, Ie von 10 % auf 90 % und von
90 % auf 10 %, bei IF = 100 mA, RL = 50 Ω
Switching times, Ie from 10 % to 90 % and
from 90 % to 10 %, IF = 100 mA, RL = 50 Ω
tr, tf
0.5
µs
Kapazität
Capacitance
VR = 0 V, f = 1 MHz
Co
25
pF
VF
VF
1.3 (≤ 1.5)
2.3 (≤ 2.8)
V
V
Sperrstrom
Reverse current
VR = 5 V
IR
0.01 (≤ 1)
µA
Gesamtstrahlungsfluβ
Total radiant flux
IF = 100 mA, tp = 20 ms
Φe
14
mW
Temperaturkoeffizient von Ie bzw. Φe,
TCI
– 0.5
%/K
Temperaturkoeffizient von VF, IF = 100 mA
Temperature coefficient of VF, IF = 100 mA
TCV
–2
mV/K
Temperaturkoeffizient von λ, IF = 100 mA
Temperature coefficient of λ, IF = 100 mA
TCλ
+ 0.3
nm/K
Semiconductor Group
3
Durchlaβspannung
Forward voltage
IF = 100 mA, tp = 20 ms
IF = 1 A, tp = 100 µs
IF = 100 mA
Temperature coefficient of Ie or Φe,
IF = 100 mA
1997-11-01
SFH 420
SFH 425
Gruppierung der Strahlstärke Ie in Achsrichtung
gemessen bei einem Raumwinkel Ω = 0.01 sr
Grouping at radiant intensity Ie in axial direction
at a solid angle of Ω = 0.01 sr
Bezeichnung
Description
Symbol
Werte
Values
Einheit
Unit
Strahlstärke
Radiant intensity
IF = 100 mA, tp = 20 ms
Ie
> 2.5
mW/sr
Strahlstärke
Radiant intensity
IF = 1 A, tp = 100 µs
Ie typ.
38
mW/sr
Relative spectral emission
Irel = f (λ)
Radiant intensity
Max. permissible forward current
IF = f (TA)
Single pulse, tp = 20 µs
OHR01938
100
10 2
A
OHR01551
80
OHR00883
120
Ι F mA
Ιe
Ι e 100 mA
%
Ι rel
Ie
= f (IF)
Ie 100 mA
100
10 1
80
60
R thjA = 450 K/W
10 0
60
40
40
10 -1
20
20
0
880
920
960
nm
λ
1000
Forward current
IF = f (VF), single pulse, tp = 20 µs
10 1
10 -2
10 -3
1060
10 -2
10 -1
10 0 A
ΙF
0
10 1
0
20
40
60
80
100 ˚C 120
TA
Radiation characteristics Srel = f (ϕ)
40˚
OHR01554
30˚
20˚
10˚
0˚
ϕ
A
ΙF
50˚
10 0
OHL01660
1.0
0.8
0.6
60˚
10 -1
0.4
70˚
0.2
80˚
10 -2
0
90˚
100˚
10 -3
1
2
3
4
V
5
1.0
0.8
0.6
0.4
0˚
20˚
40˚
60˚
80˚
100˚
120˚
VF
Semiconductor Group
4
1997-11-01
SFH 420
SFH 425
Löthinweise
Soldering conditions
Bauform
Types
Tauch-, Schwall- und Schlepplötung
Dip, wave and drag soldering
Reflowlötung
Reflow soldering
Lötbadtemperatur
Maximal
zulässige
Lötzeit
Abstand
Lötstelle –
Gehäuse
Lötzonentemperatur
Maximale
Durchlaufzeit
Temperature
of the
soldering
bath
Max. perm.
soldering
time
Distance
between
solder joint
and case
Temperature
of soldering
zone
Max. transit
time
TOPLED
260 °C
10 s
–
10 s
SIDELED
–
–
–
245 °C
:
≥ 225 °C
10 s
Zusätzliche Informationen über allgemeine Lötbedingungen finden Sie im Datenbuch S. 103ff.
For additional information on generel soldering conditions please refer to our Data Book on
page 169ff.
Permissible pulse handling capability
IF = f (tp)
duty cycle D = parameter, TA = 20 °C
10 4
OHR00860
tp
Ι F mA
5
D=
tp
T
D = 0.005
ΙF
T
0.01
0.02
10 3
5
0.1
0.05
0.2
0.5
DC
10 2
-5
10 10 -4 10 -3 10 -2 10 -1 10 0 10 1 s 10 2
tp
Semiconductor Group
5
1997-11-01