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5076 series
バリキャップ内蔵 VCXO 用 IC
■概要
5076 series は、幅広い周波数可変範囲の確保が困難な小型の水晶振動子でも広可変を可能にし、これを小さ
なチップサイズに集積した小型 VCXO 用 IC です。新開発のバリキャップダイオード搭載プロセスを採用した
ことにより、外付け部品なしで幅広い周波数可変幅と良好な直線性を得ることができます。さらに、定電圧駆
動の発振回路を採用したことにより、消費電流、水晶電流および、発振特性の電源電圧依存性を大幅に低減し
ています。5076 series を使用することにより、小型、広可変、低消費電力の VCXO モジュールを実現できます。
■特長
• 新開発のバリキャップダイオード内蔵VCXO用IC
• 寄生容量を大幅に削減した新構造プロセス採用
により、小型水晶振動子でも広可変を実現
• 定電圧駆動の発振回路により、消費電流、水晶電
流、発振特性の電源電圧依存性を低減
• 幅広い周波数可変範囲
• 低消費電流:0.5mA
(B1 バージョン , f = 27MHz, 無負荷 , VDD = 1.8V)
• 分周回路内蔵:1.3MHz ∼の低周波出力が可能
バージョンにより出力周波数を fo, fo/2, fo/4, fo/8,
fo/16 から一つ選択
• VC 端子入力抵抗:10MΩ (min)
± 160ppm (B1 バージョン , f = 27MHz)
• 出力形式:CMOS 出力
( 水晶振動子: γ = 300, C0 = 1.5pF)
• 実装方法に合せて 2 種類の PAD 配置を選択可能
• 動作電源電圧範囲:1.6V ∼ 2.0V
A× バージョン:Flip Chip Bonding 向け
• 発振周波数範囲 ( 基本波発振 ):20MHz ∼ 55MHz
B× バージョン:Wire Bonding 向け
• パッケージ:ウェハフォーム (WF5076××)
( バージョンにより分割 )
チップフォーム (CF5076××)
■アプリケーション
• ワンセグ用チューナ、ディジタル TV (PDP, LCD)、PND 用などの 2.5 × 2.0, 3.2 × 2.5mm サイズ小型 VCXO
■オーダーインフォメーション
Device
Package
WF5076 ××−4
Wafer form
CF5076××−4
Chip form
SEIKO NPC CORPORATION —1
5076 series
■シリーズ構成
動作電源電圧
範囲
[V]
推奨動作
PAD 配置
出力周波数とバージョン名 *2
周波数範囲*1
Flip Chip
Bonding
1.6 ∼ 2.0
Wire Bonding
[MHz]
fo output
fo/2 output
fo/4 output
fo/8 output
fo/16 output
20 ∼ 40
(5076A1)
(5076A2)
(5076A3)
(5076A4)
(5076A5)
40 ∼ 55
(5076AJ)
(5076AK)
(5076AL)
(5076AM)
(5076AN)
20 ∼ 40
5076B1
(5076B2)
(5076B3)
(5076B4)
(5076B5)
40 ∼ 55
(5076BJ)
(5076BK)
(5076BL)
(5076BM)
(5076BN)
*1. 推奨動作周波数は、NPC 特性確認用水晶からの目安であり、発振周波数帯を保証するものではありません。
水晶振動子の特性や実装条件により特性が大幅に変動しますので、発振特性の十分な評価のもとご使用下さい。
*2. ( ) 内のバージョンは開発中です。詳細につきましては、お問い合わせ下さい。
■バージョン名称
Device
Package
WF5076××−4
Wafer form
CF5076 ××−4
バージョン名称
WF5076
形態 WF:Wafer form
CF:Chip (Die) form
Chip form
−4
発振周波数範囲、分周機能
PAD配置 A:Flip Chip Bonding向け
B:Wire Bonding向け
SEIKO NPC CORPORATION —2
5076 series
■パッド配置図
(Unit:µm)
● 5076A×
(Flip Chip Bonding 向け )
● 5076B×
(Wire Bonding 向け )
(420, 345)
Y
VSS
5
VC
6
(−420, −345)
(0,0)
1
2
XT
XTN
4
Q
3
VDD
(420, 345)
Q
5
Y VDD
6
(−420, −345)
(0,0)
1
2
XTN
XT
X
パッド
番号
VSS
3
VC
X
チップサイズ:0.84 × 0.69mm
チップ厚:130µm ± 15µm
PAD 開口部:90µm × 90µm
チップ裏面:VSS レベル
■パッド座標
4
チップサイズ:0.84 × 0.69mm
チップ厚:130 µm ± 15 µm
PAD 開口部:90µm × 90 µm
チップ裏面:V SS レベル
■端子説明
パッド座標
m)
(Unit:µm
パッド番号
端子名
i/o
機能説明
X
Y
5076A×
5076B×
1
−189
−240
1
2
XT
i
水晶振動子接続端子 ( アンプ入力側 )
2
189
−240
2
1
XTN
o
水晶振動子接続端子 ( アンプ出力側 )
3
315
−21
3
6
VDD
−
( +) 電源端子
4
315
225
4
5
Q
o
クロック出力端子
5
−315
225
5
4
VSS
−
( −) 電源端子
6
−315
−21
6
3
VC
i
発振周波数制御電圧入力端子 ( 正極性 )
( 印加電圧増加で発振周波数が高くなります )
■ブロックダイアグラム
Voltage
Regulator
Rf
VDD
CIN
Oscillation
Detector
XT
RD
COUT
XTN
RVC2
VC
1
N *1
RVC1
CVC1
Level Shifter
CMOS ouput
Buffer
Q
CVC2
VSS
*1. N = 1, 2, 4, 8, 16
SEIKO NPC CORPORATION —3
5076 series
■絶対最大定格
VSS = 0V
項目
記号
条件
定格
単位
電源電圧範囲
VDD
VDD − VSS 端子間
− 0.5 ∼ + 5.0
V
入力電圧範囲*1
VIN
入力端子
− 0.5 ∼ V DD + 0.5
V
出力電圧範囲 *1
V OUT
出力端子
− 0.5 ∼ V DD + 0.5
V
保存温度範囲
T STG
ウェハ、チップ形態
− 65 ∼ + 150
°C
出力電流
IOUT
Q 端子
± 20
mA
*1. 定格内の "VDD " は、推奨動作条件に記載した動作電源電圧 (VDD ) の規格値を示します。
注 ) 絶対最大定 格は、一瞬たりとも超えて はならない値です。いずれか の項目のうち、ひとつでも 定格値を超えた
場合は、電気的特性、信頼性などに影響を与える恐れがあります。
加えて、推奨動作条件以外での動作、特性については保証していません。
■推奨動作条件
VSS = 0V
項目
記号
規格
条件
MIN
TYP
単位
MAX
動作電源電圧
VDD
CLOUT ≤ 15pF
1.6
2.0
V
入力電圧
VIN
VC 端子
V SS
VDD
V
動作温度
T OPR
− 40
+ 85
°C
5076×1 ∼ 5076×5
20
40
MHz
5076×J ∼ 5076×N
40
55
MHz
5076×1 ∼ 5076×5
1.25
40
MHz
5076×J ∼ 5076×N
2.5
55
MHz
発振周波数*1
出力周波数
fo
fOUT
CLOUT ≤ 15pF
*1. 発振周波数は、NPC 特性確認用水晶からの目安であり、
発振周波数帯を保証するものではありません。
水晶振動子の特性や実装条件により特性が大幅に変動しますので、発振特性の十分な評価のもとご使用下さい。
注 ) 5076 series を安定に動作させるため、VDD−VSS 間には 0.01µF 以上のセラミックチップコンデンサを IC の直近
(3mm 以内程度 ) に実装して下さい。また、IC からコンデンサまでの配線パターンは、できるだけ太いパターン
で使用下さい。
SEIKO NPC CORPORATION —4
5076 series
■電気的特性
● 5076×1 ∼ 5076×5
特記なき場合 VDD = 1.6 ∼ 2.0V, VC = 0.5V DD, VSS = 0V, Ta = − 40 ∼ + 85°C
項目
記号
規格
条件
MIN
消費電流
IDD
MAX
5076 ×1 (fo), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 27MHz, fOUT = 27MHz, VDD = 1.8V
0.5
1.0
mA
5076 ×2 (fo/2), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 27MHz, fOUT = 13.5MHz, V DD = 1.8V
0.4
0.8
mA
5076 ×3 (fo/4), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 27MHz, fOUT = 6.75MHz, V DD = 1.8V
0.3
0.6
mA
5076 ×4 (fo/8), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 27MHz, fOUT = 3.38MHz, V DD = 1.8V
0.3
0.6
mA
5076 ×5 (fo/16), 測定回路 1, 無負荷 ,
fo = 27MHz, fOUT = 1.69MHz, V DD = 1.8V
0.3
0.6
mA
"High" レベル出力電圧
V OH
Q 端子 , 測定回路 2, IOH = − 2.0mA
"Low" レベル出力電圧
V OL
Q 端子 , 測定回路 2, IOL = 2.0mA
発振部内蔵抵抗
RVC1
変調特性*1
fm
0.4
V
210
420
840
kΩ
210
420
840
kΩ
4.7
pF
V C = 0.9V
2.9
pF
設計値 ( ウェハー内モニター V C = 1.6V
パターンにて確認 )
V C = 0.2V
寄生容量は除く
1.7
pF
4.7
pF
V C = 0.9V
2.9
pF
V C = 1.6V
1.7
pF
CVC2
RVIN
V
V C = 0.2V
CVC1
VC 端子入力抵抗
V DD
− 0.4
測定回路 3
RVC2
発振部内蔵容量
単位
TYP
測定回路 4, Ta = 25°C
測定回路 5, − 3dB 周波数 , VDD = 1.8V,
V C = 1.8Vp-p, Ta = 25°C, fo = 27MHz
MΩ
10
100
kHz
*1. 変調特性は、使用する水晶によって変化します。
SEIKO NPC CORPORATION —5
5076 series
● 5076×J ∼ 5076×N
特記なき場合 VDD = 1.6 ∼ 2.0V, VC = 0.5V DD, VSS = 0V, Ta = − 40 ∼ + 85°C
項目
記号
規格
条件
MIN
消費電流
IDD
MAX
5076 ×J (fo), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 48MHz, fOUT = 48MHz, VDD = 1.8V
0.9
1.8
mA
5076 ×K (fo/2), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 48MHz, fOUT = 24MHz, VDD = 1.8V
0.6
1.2
mA
5076 ×L (fo/4), 測定回路 1 , 無負荷 ,
fo = 48MHz, fOUT = 12MHz, VDD = 1.8V
0.5
1.0
mA
5076 ×M (fo/8), 測定回路 1, 無負荷 ,
fo = 48MHz, fOUT = 6MHz, V DD = 1.8V
0.4
0.8
mA
5076 ×N (fo/16), 測定回路 1, 無負荷 ,
fo = 48MHz, fOUT = 3MHz, V DD = 1.8V
0.4
0.8
mA
"High" レベル出力電圧
V OH
Q 端子 , 測定回路 2, IOH = − 2.0mA
"Low" レベル出力電圧
V OL
Q 端子 , 測定回路 2, IOL = 2.0mA
発振部内蔵抵抗
RVC1
変調特性*1
fm
0.4
V
210
420
840
kΩ
210
420
840
kΩ
4.7
pF
V C = 0.9V
2.9
pF
設計値 ( ウェハー内モニター V C = 1.6V
パターンにて確認 )
V C = 0.2V
寄生容量は除く
1.7
pF
4.7
pF
V C = 0.9V
2.9
pF
V C = 1.6V
1.7
pF
CVC2
RVIN
V
V C = 0.2V
CVC1
VC 端子入力抵抗
V DD
− 0.4
測定回路 3
RVC2
発振部内蔵容量
単位
TYP
測定回路 4, Ta = 25°C
測定回路 5, − 3dB 周波数 , VDD = 1.8V,
V C = 1.8Vp-p, Ta = 25°C, fo = 48MHz
MΩ
10
35
kHz
*1. 変調特性は、使用する水晶によって変化します。
SEIKO NPC CORPORATION —6
5076 series
■スイッチング特性
特記なき場合 VDD = 1.6 ∼ 2.0V, VC = 0.5VDD, VSS = 0V, Ta = − 40 ∼ + 85°C
規格
項目
記号
条件
MIN
TYP
MAX
単位
出力立ち上がり時間
tr
測定回路 6, 0.2VDD → 0.8VDD ,
CLOUT = 15pF
3.1
6.0
ns
出力立ち下がり時間
tf
測定回路 6, 0.8VDD → 0.2VDD ,
CLOUT = 15pF
3.1
6.0
ns
出力 DUTY サイクル
DUTY
50
55
%
測定回路 6, Ta = 25 °C, C LOUT = 15pF,
V DD = 1.8V
45
●スイッチング時間測定波形
0.8VDD
TW
0.2VDD
0.2VDD
DUTY measurement
voltage (0.5VDD)
DUTY= TW/ T
T
tr
Q
0.8VDD
100 (%)
tf
SEIKO NPC CORPORATION —7
5076 series
■測定回路
●測定回路 1
●測定回路 4
測定項目:IDD
測定項目:R VIN
IDD A
VDD
XT
IVIN A
VDD
XT
Crystal
XTN
Q
VDD
IVIN
VC
VSS
VC
0.1µF
RVIN =
XTN
VSS
●測定回路 5
測定項目:fm
●測定回路 2
測定項目:VOH, VOL
VDD
Crystal
Signal
Generator
VDD
0.001µF
XT
0.1µF
Gain-phase
Analyzer
(HP 4194A)
50Ω
XTN
50Ω
Q
VOH
VOL V
VC
VSS
0.1µF
VS
0.1µF
XTN
Modulation
signal
Modulaiton
Analyzer
(HP 8901B)
XT
Q
R1
C1
VC
VSS
R2
CLOUT
= 15pF
Demodulation
signal
∆V
VOH
VS
VS
VOL
∆V = 50 × I OH となるように
V S を調整
∆V
∆V = 50 × IOL となるように
V S を調整
C1 = 33µF, R1 = R2 = 1M Ω
VC 変調信号:100Hz ∼ 100kHz, 0 ∼ V DDp-p
●測定回路 6
測定項目:DUTY, tr, tf
XT 入力信号:1Vp-p, サイン波
●測定回路 3
VDD
測定項目:R VC1, R VC2
Crystal
XT
XTN
Q
VC
IXT A
VDD
0.1µF
IXTN A
VDD
XT
XT
XTN
XTN
VC
VSS
CLOUT = 15pF
(Including probe
capacitance)
VC
VSS
RVC1 =
VSS
VDD
IXT
RVC2 =
VDD
IXTN
SEIKO NPC CORPORATION —8
5076 series
■機能説明
●発振開始検出機能
発振開始検出回路が搭載されています。これは、発振が開始するまで出力がディセーブルとなる機能です。
この機能により、電源投入による発振起動時における異常発振が出力されるという問題を回避できます。
■参考特性例 (5076B1)
以下の特性は、下記、水晶振動子を使用した時の値です。使用する水晶振動子や測定環境により、特性が異
なりますのでご注意ください。
• 使用水晶振動子
• 振動子等価回路
Paramater
fo = 27MHz
C0 [pF]
1.5
γ (= C0/C1)
300
L1
C1
R1
C0
●周波数可変特性
●周波数可変感度
250
250
200
200
Sensitivity [ppm/V]
Pulling range [ppm]
150
100
50
0
−50
−100
−150
150
100
50
−200
−250
0.0
0
0.3
0.6
0.9
1.2
1.5
1.8
VC [V]
V DD = 1.8V, fOUT = 27MHz, Ta = R.T.
0.0
0.3
0.6
0.9
VC [V]
1.2
1.5
1.8
VDD = 1.8V, f OUT = 27MHz, Ta = R.T.
○測定回路図
VDD
Crystal
XT
XTN
Q
VC
0.1µF
VSS
CLOUT = 15pF
(Including probe
capacitance)
SEIKO NPC CORPORATION —9
5076 series
○測定回路図
●消費電流
3
IDD A
2.5
VDD
IDD [mA]
2
VC = 0V
VC = 0.9V
VC = 1.8V
XT
Crystal
CLOUT = 15pF
1.5
XTN
1
VC = 0V
VC = 0.9V
VC = 1.8V
0.5
Q
VC
0.1µF
VSS
CLOUT = No load
0
15
20
25
30
35
Frequency [MHz]
40
45
V DD = 1.8V, Ta = R.T.
○測定回路図
●発振周波数の電源電圧変動
3.0
VDD
2.0
XT
Crystal
∆f/f [ppm]
1.0
XTN
VC = 0V
VC = 1.8V
VC = 0.9V
0.0
Q
0.1µF
VC
CLOUT = 15pF
(Including probe
capacitance)
VSS
−1.0
−2.0
−3.0
1.6
1.7
1.8
1.9
2.0
VDD [V]
fOUT = 27MHz, ± 0ppm at V DD = 1.8V, Ta = R.T.
○測定回路図
●ドライブレベル
30
VDD
25
Drive level [µW]
Crystal
20
Tektronix CT-6
Current Probe
15
0.1µF
XT
XTN
Q
IX'tal
VC
VSS
10
CLOUT = 15pF
5
0
0.0
0.3
0.6
0.9
VC [V]
1.2
1.5
V DD = 1.8V, fOUT = 27MHz, Ta = R.T.
1.8
DL = (I X'tal)2 × Re
DL:ドライブレベル
IX'tal:水晶振動子に流れる電流 ( 実効値 )
Re:水晶振動子の実効抵抗
SEIKO NPC CORPORATION —10
5076 series
○測定回路図
●負性抵抗
15
Frequency [MHz]
25
30
35
20
40
45
Negative resistance [Ω]
0
Network Analyzer
(Agilent 4396B)
S-Parameter Test Set
(Agilent 85046A)
VC = 1.8V
−200
−400
C0 = 2pF
VDD
XTN
VC = 0.9V
0.1µF
XT
Q
VC
VSS
−600
VC = 0V
−800
VDD = 1.8V, C0 = 2pF, Ta = R.T.
注 ) "C0":水晶振動子の C0 相当の容量を 5076 series の XT−XTN 間に並列に接続して測定した結果です。当社冶具を
用い、Agilent 社製 4396B で測定した結果です。測定冶具、測定環境により変動する場合があります。
○測定回路図
● Phase Noise
Phase noise [dBc/Hz]
−60
−80
VDD
Crystal
XT
0.1µF
200Ω
−100
XTN
Q
0.01µF
Signal Source
Analyzer
(Agilent E5052A)
VC
−120
VSS
−140
CLOUT = 15pF
VC = 1.8V
VC = 0.9V
VC = 0V
−160
10
100
1,000
10,000 100,000 1,000,000 10,000,000
Offset Frequency [Hz]
V DD = 1.8V, fOUT = 27MHz, Ta = R.T.
SEIKO NPC CORPORATION —11
5076 series
○測定回路図
●変調特性
3
VDD
Crystal
fm [dB]
0
Gain-phase
Analyzer
(HP 4194A)
−3
Modulation
signal
C1
−12
1
10
Frequency [kHz]
100
XTN
Q
VC
Modulaiton
Analyzer
(HP 8901B)
0
0.1µF
R1
VSS
R2
−6
−9
XT
CLOUT
= 15pF
Demodulation
signal
C1 = 33µF, R1 = R2 = 1M Ω
VC 変調信号:100Hz ∼ 100kHz, 0 ∼ V DDp-p
1000
V DD = 1.8V, fOUT = 27MHz, Ta = R.T.
●出力波形
使用測定器:オシロスコープ DSO80604B (Agilent 社製 )
○測定回路図
VDD
Crystal
XT
XTN
Q
VC
0.1µF
VSS
CLOUT = 15pF
(Including probe
capacitance)
VDD = 1.8V, fOUT = 27MHz, VC = 0.5V DD ,
CLOUT = 15pF, Ta = R.T.
SEIKO NPC CORPORATION —12
5076 series
※この資料に記載されている商品のご使用に際しては、
次の点にご注意くださいますようお願い申し上げます。
1. この資 料に記載されている商品は、
パ ーソナル機器・工作機器・計測機器などの一般的な信頼性 を必要とする電子機器および電
気 機器に使用され ることを目的と して設計・製造されたもの であり、
航 空宇宙機器・原子力制御機 器・医療機 器・輸送機器・防災
機器・防犯機器などの、極めて高い信頼性・安全性を必要とする機器に使用されることを想 定したものではありません。また、
そ
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器に使用するご希望がありましたら、必ず事前に当社営業部までお問い合わせください。
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し たがって、
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合は、それらの法令に基づく輸出の承認、
許可が必要になりますので、お客様にてその申請手続きをお願いいたします。
セ イ コ ー N P C 株 式 会 社
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