INFINEON BP104S

Neu: Silizium-PIN-Fotodiode
New: Silicon PIN Photodiode
1.1
0.9
6.7
6.2
0...5
˚
0.2
0.1
0...0.1
0.3
1.2
1.1
Chip position
BP 104 S
4.0
3.7
1.7
1.5
0.9
0.7
4.5
4.3
1.6 ±0.2
Cathode lead
feo06862
Photosensitive area
2.20 mm x 2.20 mm
GEO06861
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
● Speziell geeignet für Anwendungen im
Bereich von 400 nm bis 1100 nm
● Kurze Schaltzeit (typ. 20 ns)
● geeignet für Vapor-Phase Löten und IRReflow-Löten
● SMT-fähig
Features
● Especially suitable for applications from
400 nm to 1100 nm
● Short switching time (typ. 20 ns)
● Suitable for vapor-phase and IR-reflow
soldering
● Suitable for SMT
Anwendungen
● Lichtschranken für Gleich- und
Wechsellichtbetrieb
● IR-Fernsteuerungen
● Industrieelektronik
● “Messen/Steuern/Regeln”
Applications
● Photointerrupters
● IR remote controls
● Industrial electronics
● For control and drive circuits
Typ
Type
Bestellnummer
Ordering Code
BP 104 S
Q62702-P1605
Semiconductor Group
1
1997-11-19
BP 104 S
Grenzwerte
Maximum Ratings
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
Top; Tstg
– 40 ... + 85
°C
Sperrspannung
Reverse voltage
VR
20
V
Verlustleistung, TA = 25 °C
Total power dissipation
Ptot
150
mW
Kennwerte (TA = 25 °C, Normlicht A, T = 2856 K)
Characteristics (TA = 25 °C, standard light A, T = 2856 K)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Fotoempfindlichkeit VR = 5 V
Spectral sensitivity
S
55 (≥ 40)
nA/lx
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit
Wavelength of max. sensitivity
λS max
850
nm
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von Smax
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of Smax
λ
400 ... 1100
nm
Bestrahlungsempfindliche Fläche
Radiant sensitive area
A
4.84
mm2
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen
Fläche
Dimensions of radiant sensitive area
L×B
2.20 × 2.20
mm × mm
Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseoberfläche
Distance chip front to case surface
H
0.3
mm
Halbwinkel
Half angle
ϕ
± 60
Grad
deg.
Dunkelstrom, VR = 10 V
Dark current
IR
2 (≤ 30)
nA
Spektrale Fotoempfindlichkeit, λ = 850 nm
Spectral sensitivity
Sλ
0.62
A/W
Quantenausbeute, λ = 850 nm
Quantum yield
η
0.90
Electrons
Photon
Semiconductor Group
2
L×W
1997-11-19
BP 104 S
Kennwerte (TA = 25 °C, Normlicht A, T = 2856 K)
Characteristics (TA = 25 °C, standard light A, T = 2856 K) (cont’d)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Leerlaufspannung, EV = 1000 lx
Open-circuit voltage
VO
360 (≥ 280)
mV
Kurzschlußstrom, EV = 1000 lx
Short-circuit current
ISC
50
µA
Anstiegs- und Abfallzeit des Fotostromes
Rise and fall time of the photocurrent
RL = 50 Ω; VR = 5 V; λ = 850 nm; Ip = 800 µA
tr, tf
20
ns
Durchlaßspannung, IF = 100 mA, E = 0
Forward voltage
VF
1.3
V
Kapazität, VR = 0 V, f = 1 MHz, E = 0
Capacitance
C0
48
pF
Temperaturkoeffizient von VO
Temperature coefficient of VO
TKV
– 2.6
mV/K
Temperaturkoeffizient von ISC
Temperature coefficient of ISC
TKI
0.18
%/K
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
Noise equivalent power
VR = 10 V, λ = 850 nm
NEP
3.6 × 10– 14
W
√Hz
Nachweisgrenze, VR = 10 V, λ = 850 nm
Detection limit
D*
6.1 × 1012
cm · √Hz
W
Semiconductor Group
3
1997-11-19
BP 104 S
Relative spectral sensitivity
Srel = f (λ)
Photocurrent IP = f (Ev), VR = 5 V
Open-circuit voltage VO = f (Ev)
OHF00078
100
ΙP
S rel %
OHF02283
10 3
µA
Total power dissipation Ptot = f (TA)
10 4
mV
V
OHF00958
160
mW
Ptot
140
80
10 2
10 3
VO
60
100
ΙP
10 1
120
10 2
40
80
60
10 0
10 1
40
20
20
10 -1
10 0
0
400 500 600 700 800 900 nm 1100
λ
Dark current
IR = f (VR), E = 0
10 1
10 2
10 0
10 3 lx 10 4
EV
Capacitance
C = f (VR), f = 1 MHz, E = 0
OHF02284
10 2
C
ΙR
0
20
40
60
80 ˚C 100
TA
Dark current
IR = f (TA), VR = 10 V, E = 0
OHF01778
60
nA
0
OHF00082
10 3
Ι R nA
pF
50
10 2
10
1
40
10 1
30
20
10 0
10 0
10
10 -1
0
2
4
6
0 -2
10
8 10 12 14 16 V 20
10 -1
10 0
VR
10 1 V 10 2
VR
10 -1
0
20
40
60
80 ˚C 100
TA
Directional characteristics Srel = f (ϕ)
40
30
20
10
ϕ
0
OHF01402
1.0
50
0.8
60
0.6
70
0.4
80
0.2
0
90
100
1.0
0.8
0.6
Semiconductor Group
0.4
0
20
40
60
80
4
100
120
1997-11-19