5054_ND15001J01

5054H series, 5054xF
小型水晶発振モジュール用 IC
■概要
5054Hseries, 5054xF は、発振周波数40～170MHz、3rd オーバートーンの小型水晶発振器向けの水晶発振モジュール
用 IC です。発振回路部を定電圧駆動にしたことにより、従来品と比べ、消費電流と水晶電流を大幅に低減するとともに、
発振特性の電源電圧依存性も大幅に低減しました。PAD 配置は、パッケージ構造、実装方法に合わせて3種類から選択
できますので小型発振器に最適です。
■特長
・幅広い動作電源電圧範囲: 1.70～3.63V (HxA～HxE ver.), 2.25～3.63V (xF ver.)
・推奨発振周波数範囲（3rd オーバートーン）: 40～135MHz（HxA～HxE ver.）, 133～170MHz（xF ver.）
・動作温度範囲:-40℃～+125℃(HxA～HxE ver.), -40℃～+105℃(xF ver.)
・定電圧駆動の発振回路により、消費電流と水晶電流を低減
・出力ドライバビリティ: ±8mA
・小型水晶振動子に最適な低水晶電流の発振特性
・スタンバイ機能内蔵
・実装方法に合わせて 3 種類の PAD 配置を選択可
スタンバイ時発振停止、出力 Hi-Z
5054(H)Ax: Flip Chip Bonding 向け
・出力 DUTY: 50±5% (1/2VDD)
5054(H)Bx，5054(H)Cx: Wire Bonding 向け
・ウェーハフォーム[WF5054(H)xx]
・出力負荷容量: 15pF
・チップフォーム[CF5054(H)xx]
■アプリケーション
・5.0×3.2, 3.2×2.5, 2.5×2.0 小型水晶発振器
■シリーズ構成
PAD 配置とバージョン名*2
動作電源電圧
範囲[V]
推奨発振周波数
範囲*1[MHz]
C0 キャンセル回路
/推奨 C0 値[pF]
Flip Chip Bonding
Wire BondingⅠ
Wire BondingⅡ
1.70～3.63
40～50
無/≤2
5054HAA
-
5054HCA
1.70～3.63
50～65
無/≤2
5054HAB
-
5054HCB
1.70～3.63
65～85
有/1～2
5054HAC
5054HBC
5054HCC
1.70～3.63
85～105
有/1～2
5054HAD
5054HBD
5054HCD
1.70～3.63
105～135
有/1～2
5054HAE
5054HBE
5054HCE
2.25～3.63
133～170
有/1～2
5054AF
5054BF
5054CF
*1. 推奨発振周波数は、NPC 特性確認用水晶からの目安であり、発振周波数帯を保証するものではありません。水晶振動子の特性や実装条件
により特性が大幅に変動しますので発振特性の十分な評価のもとご使用下さい。
*2. ウェーハフォームの場合WF5054(H)xx、チップフォームの場合、CF5054(H)xxとなります。
■オーダーインフォメーション
商品名
形態
バージョン名称
WF5054(H)□□-□
WF5054(H)xx-x
Wafer form
形態 WF:Wafer form
CF:Chip(Die) form
チップ厚 5:100μm
発振周波数範囲
CF5054(H)xx-x
Chip form
PAD 配置 A:Flip Chip Bonding 向け
B:Wire Bonding 向け TypeⅠ
C:Wire Bonding 向け TypeⅡ
SEIKO NPC CORPORATION - 1
5054H series, 5054xF
■ブロックダイアグラム
RPU
INHN
VReg
C0 Cancel*1
RF
CMOS
Q
XT
RD
CG
VDD
CD
*1. 5054HxA, HxB バージョンは、C0 キャンセル回路を
VSS
内蔵しておりません。
XTN
■PAD 配置図
5054(H)Ax
5054(H)Bx
5054(H)Cx
Flip Chip Bonding 向け
Wire Bonding 向け TypeⅠ
Wire Bonding 向け TypeⅡ
5
VSS
INHN
Y
4
(0,0)
6
(-300,-285)
3
1
2
XT
XTN
(300,285)
(300,285)
(300,285)
5
Q
Q
VDD
Y
VDD
4
(0,0)
6
INHN
INHN
Y
XTN
4
(0,0)
6
2
1
(-300,-285)
3
5
VDD
VSS
(-300,-285)
XT
XTN
X
X
X
VSS
2
1
XT
3
Q
・チップサイズ: 0.60 mm×0.57mm，PAD 開口部: 80μm×80 μm，チップ裏面: VSS レベル
・チップセンターの座標を(0,0)とします。
■PAD 座標
PAD
■端子説明
PAD 座標[μm]
PAD 番号
5054
(H)Bx
5054
(H)Cx
端子名
機 能
番号
X
Y
5054
(H)Ax
1
-145.2
-193.5
1
2
1
XT
2
145.2
-193.5
2
１
2
XTN
XT,XTN の間に水晶振動子を接続
3
208.5
-1.1
3
6
5
VDD
(+) 電源端子
4
208.5
193.5
4
5
4
Q
5
-208.5
193.5
5
4
3
VSS
6
-208.5
-1.1
6
3
6
INHN
水晶振動子接続端子
出力端子
(-) 電源端子
出力状態制御入力端子(Low で発振停止)
パワーセーブプルアップ抵抗内蔵
SEIKO NPC CORPORATION - 2
5054H series, 5054xF
■絶対最大定格
VSS=0V
項
目
記号
*1
電源電圧範囲
VDD
VDD-VSS 間
入力電圧範囲*1*2
VIN
*1*2
出力電圧範囲
*3
出力電流
接合温度*3
条
件
定
保存温度範囲
単位
-0.3～+4.0
V
入力端子
-0.3～VDD+0.3
V
VOUT
出力端子
-0.3～VDD+0.3
V
IOUT
Q 端子
±20
mA
150
℃
-55～+150
℃
Tj
*4
格
TSTG
チップ、ウェーハ単体
*1. 一瞬たりとも超えてはならない値です。万一、定格を超えた場合は、電気的特性、信頼性などに影響を与える恐れがあります。
*2. 定格に記載の“VDD”は、推奨動作条件に定める動作電源電圧(VDD)の規格値を示します。
*3. 超えないようにご使用ください。万一超えた場合は、特性劣化、信頼性低下の懸念があります。
*4. N2 または真空雰囲気で、梱包材を含まない単体保存の場合です。
■推奨動作条件
VSS=0V
項
目
発振周波数*1
記号
fOSC
条
VDD=1.70～3.63V
VDD=2.25～3.63V
出力周波数
fOUT
VDD=1.70～3.63V
CLOUT≤15pF
VDD=2.25～3.63V
CLOUT≤15pF
動作電源電圧
VDD
入力電圧
VIN
動作温度
Ta
出力負荷容量
CL
VDD-VSS 端子間*2
入力端子
5054HxA～HxE ver.
5054xF ver.
Q 端子
件
MIN
TYP
MAX
5054HxA ver.
40
-
50
5054HxB ver.
50
-
65
5054HxC ver.
65
-
85
5054HxD ver.
85
-
105
5054HxE ver.
105
-
135
5054xF ver.
133
-
170
5054HxA ver.
40
-
50
5054HxB ver.
50
-
65
5054HxC ver.
65
-
85
5054HxD ver.
85
-
105
5054HxE ver.
105
-
135
5054xF ver.
133
-
170
5054HxA
～HxE ver.
1.70
-
3.63
V
5054xF ver.
2.25
-
VDD
V
-
+125
-
+105
-
15
VSS
-40
-
単位
MHz
MHz
℃
pF
*1. 発振周波数は、NPC 特性確認用水晶からの目安であり、発振周波数帯を保証するものではありません。水晶振動子の特性や実装
条件により特性が大幅に変動しますので発振特性の十分な評価のもとご使用下さい。
*2. 5054 series を安定に動作させるため、VDD-VSS 間には 0.01μF 以上のセラミックチップコンデンサを IC の直近(3mm 以内程度)に
実装して下さい。また IC からコンデンサまでの配線パターンは、できるだけ太い配線パターンでご使用下さい。
Note. 推奨動作条件範囲外で使用すると信頼性に影響を与える場合がありますので、この範囲内で使用して下さい。
SEIKO NPC CORPORATION - 3
5054H series, 5054xF
■電気的特性
●DC 特性（HxA～HxE version）
特記なき場合、VDD=1.70～3.63V, VSS=0V, Ta=-40～+125℃
項
目
“H”レベル出力電圧
“L”レベル出力電圧
記号
VOH
VOL
条
件
MIN
Q 端子, 測定回路 3, IOH=-8mA
Ta=-40～+85℃
Q 端子, 測定回路 3, IOH=-8mA
VDD
-0.4
VDD
-0.45
Q 端子, 測定回路 3, IOL=8mA
Ta=-40～+85℃
0
Q 端子, 測定回路 3, IOL=8mA
TYP
MAX
-
VDD
-
VDD
-
0.4
-
0.45
単位
V
V
“H”レベル入力電圧
VIH
INHN 端子, 測定回路 4
0.7VDD
-
-
V
“L”レベル入力電圧
VIL
INHN 端子, 測定回路 4
-
-
0.3VDD
V
出力リーク電流
IZ
Q 端子, 測定回路 5
INHN=“Low”
Q=VDD
-
-
10
Q=VSS
-10
-
-
VDD=3.3V
-
3.5
7.0
VDD=2.5V
-
3.0
6.0
VDD=1.8V
-
2.5
5.0
VDD=3.3V
-
4.0
8.0
VDD=2.5V
-
3.0
6.0
VDD=1.8V
-
2.5
5.0
VDD=3.3V
-
4.5
9.0
VDD=2.5V
-
4.0
8.0
VDD=1.8V
-
3.5
7.0
VDD=3.3V
-
5.5
10.5
VDD=2.5V
-
4.5
8.5
VDD=1.8V
-
4.0
7.5
VDD=3.3V
-
7.0
13.5
VDD=2.5V
-
5.5
10.5
VDD=1.8V
-
4.5
8.5
測定回路 1, INHN=“VSS”, Ta=-40～+85℃
-
-
10
測定回路 1, INHN=“VSS”
-
-
20
5054HxA(fOSC), 測定回路 1
無負荷, INHN=“OPEN”
fOSC=50MHz, fOUT=50MHz
5054HxB(fOSC), 測定回路 1
無負荷, INHN=“OPEN”
fOSC=65MHz, fOUT=65MHz
*1
消 費 電 流
IDD
5054HxC(fOSC), 測定回路 1
無負荷, INHN=“OPEN”
fOSC=85MHz, fOUT=85MHz
5054HxD(fOSC), 測定回路 1
無負荷, INHN=“OPEN”
fOSC=100MHz, fOUT=100MHz
5054HxE(fOSC), 測定回路 1
無負荷, INHN=“OPEN”
fOSC=133MHz, fOUT=133MHz
スタンバイ電 流
INHN 端子
プルアップ抵抗
発振部帰還抵抗
IST
μA
mA
μA
RPU1
測定回路 6
0.8
3
24
MΩ
RPU2
測定回路 6
30
70
150
kΩ
5054HxA ver. 設計値
1.6
3.1
4.7
5054HxB ver. 設計値
1.3
2.6
3.9
5054HxC ver. 設計値
1.4
2.8
4.2
5054HxD ver. 設計値
1.2
2.3
3.5
5054HxE ver. 設計値
1.1
2.1
3.2
RF
kΩ
SEIKO NPC CORPORATION - 4
5054H series, 5054xF
特記なき場合、VDD=1.70～3.63V, VSS=0V, Ta=-40～+125℃
項
目
記号
CG
CD
CG
CD
発振部容量
CG
CD
CG
CD
CG
CD
条
件
5054HxA ver.
ウェーハ内モニターパターンにて確認
設計値 寄生容量は除く
5054HxB ver.
ウェーハ内モニターパターンにて確認
設計値 寄生容量は除く
5054HxC ver.
ウェーハ内モニターパターンにて確認
設計値 寄生容量は除く
5054HxD ver.
ウェーハ内モニターパターンにて確認
設計値 寄生容量は除く
5054HxE ver.
ウェーハ内モニターパターンにて確認
設計値 寄生容量は除く
MIN
TYP
MAX
7.2
9.0
10.8
8.0
10.0
12.0
5.6
7.0
8.4
7.2
9.0
10.8
2.4
3.0
3.6
3.2
4.0
4.8
0.8
1.0
1.2
1.6
2.0
2.4
0.0
0.0
0.0
0.8
1.0
1.2
単位
pF
*1. Q 端子に容量(CLOUT)を負荷した場合の消費電流 IDD(CLOUT)は、無負荷時の消費電流(IDD)、出力周波数(fOUT)と次式で算出することが出来ます。
IDD(CLOUT) [mA] = IDD [mA] + CLOUT [pF]×VDD [V]×fOUT [MHz]×10-3
SEIKO NPC CORPORATION - 5
5054H series, 5054xF
●DC 特性（xF version）
特記なき場合、VDD=2.25～3.63V, VSS=0V, Ta=-40～+105℃
項
目
“H”レベル出力電圧
“L”レベル出力電圧
記号
VOH
VOL
条
件
MIN
Q 端子, 測定回路 3, IOH=-8mA
Ta=-40～+85℃
Q 端子, 測定回路 3, IOH=-8mA
VDD
-0.4
VDD
-0.45
Q 端子, 測定回路 3, IOL=8mA
Ta=-40～+85℃
0
TYP
MAX
-
VDD
-
VDD
-
0.4
-
0.45
単位
V
Q 端子, 測定回路 3, IOL=8mA
V
“H”レベル入力電圧
VIH
INHN 端子, 測定回路 4
0.7VDD
-
-
V
“L”レベル入力電圧
VIL
INHN 端子, 測定回路 4
-
-
0.3VDD
V
出力リーク電流
Q 端子, 測定回路 5
INHN=“Low”, Ta=-40～+85℃
Q=VDD
-
-
10
Q=VSS
-10
-
-
Q 端子, 測定回路 5
INHN=“Low”
Q=VDD
-
-
100
Q=VSS
-100
-
-
VDD=3.3V
-
15.0
29.5
VDD=2.5V
-
13.0
25.5
測定回路 1, INHN=“VSS”, Ta=-40～+85℃
-
-
10
測定回路 1, INHN=“VSS”
-
-
100
IZ
消 費 電 流*1
IDD
スタンバイ電 流
IST
測定回路 1
無負荷, INHN=“OPEN”
fOSC=170MHz, fOUT=170MHz
μA
mA
μA
INHN 端子
プルアップ抵抗
RPU1
測定回路 6
0.8
3
24
MΩ
RPU2
測定回路 6
30
70
150
kΩ
発振部帰還抵抗
RF
設計値
2.1
4.0
6.0
kΩ
CG
ウェーハ内モニターパターンにて確認
設計値 寄生容量は除く
0.0
0.0
0.0
0.8
1.0
1.2
発振部容量
CD
pF
*1. Q 端子に容量(CLOUT)を負荷した場合の消費電流IDD(CLOUT)は、無負荷時の消費電流(IDD)、出力周波数(fOUT)と次式で算出することが出来ます。
IDD(CLOUT) [mA] = IDD [mA] + CLOUT [pF]×VDD [V]×fOUT [MHz]×10-3
SEIKO NPC CORPORATION - 6
5054H series, 5054xF
●AC 特性
特記なき場合、VDD=1.70～3.63V, VSS=0V, Ta=-40～+125℃
項
目
記号
tr1
出力立ち上がり時間
tr2
tf1
出力立ち下がり時間
tf2
出力 DUTY サイクル
DUTY
出力ディスエーブル
遅延時間
tOD
条
件
MIN
TYP
MAX
測定回路 1
CLOUT=15pF
0.1VDD→0.9VDD
VDD=2.25～3.63V
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
-
1.0
2.0
Ta=-40～＋105°C, xF ver.
-
1.0
2.0
測定回路 1
CLOUT=15pF
0.1VDD→0.9VDD
VDD=1.70～2.25V
Ta=-40～+85℃
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
-
1.5
2.5
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
-
1.5
3.0
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
-
1.0
2.0
Ta=-40～＋105°C, xF ver.
-
1.0
2.0
Ta=-40～+85℃
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
-
1.5
2.5
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
-
1.5
3.0
VDD=1.70～3.63V
HxA, HxB, HxC, HxD, HxE ver.
45
50
55
VDD=2.25～3.63V, xF ver.
45
50
55
-
-
200
測定回路 1
CLOUT=15pF
0.9VDD→0.1VDD
VDD=2.25～3.63V
測定回路 1
CLOUT=15pF
0.9VDD→0.1VDD
VDD=1.70～2.25V
測定回路 1
CLOUT=15pF
Ta=25℃
測定回路 2, CLOUT≤15pF, Ta=25℃
単位
ns
ns
％
ns
●タイミングチャート
0.9VD D
0.9VDD
Q
0.1VD D
DUTY measurement
voltage 0.5VDD
DUTY = Tw/T×100 (%)
0.1VD D
Tw
T
tr
tf
図 1. 出力スイッチング波形
VDD
INHN
VIH
VIL
VSS
t OD
VDD
0.1V
0.5VDD
Q
0.1V
VSS
fOUT
Hi-Z
Low
fOUT
図 2. 出力ディスエーブル遅延時間（tOD） タイミングチャート
SEIKO NPC CORPORATION - 7
5054H series, 5054xF
■機能説明
●INHN 端子の機能
INHN 端子を Low レベルにすることにより Q 端子出力を停止させてハイ・インピーダンスにして、IC の動作をディス
エーブル状態にすることができます。
INHN 端子
Q 端子
発振部
High(Open)
fOUT
動作
Low
Hi-Z
停止
●パワーセーブプルアップ抵抗
INHN 端子のプルアップ抵抗は入力レベル(High or Low)に応じて RPU1 または RPU2 に切り換わります。
INHN 端子を Low レベルに固定にしたときは INHN 端子に内蔵しているプルアップ抵抗値が大きくなり(RPU1)、ディス
エーブル時にプルアップ抵抗で消費する電流を小さくすることができます。
INHN 端子を High または Open で使うときはプルアップ抵抗値が小さくなり(RPU2)、外来ノイズによる影響を受けにくくな
ります。これにより、INHN 端子内部は High レベルに固定された状態となりますので、不意に出力が停止するといった問
題を回避できます。
●発振検出機能
本製品には発振検出回路が搭載されています。
発振検出回路は水晶振動が起動し、安定するまでは出力回路が Low レベルとなる機能です。この機能により、電源投
入時や INHN 端子による発振再起動時における異常発振の危険性を軽減することができます。
●C0 キャンセル回路
C0 キャンセル回路を搭載した発振回路は、振動子の C0 をキャンセルすることで発振回路の等価的な C0 を小さくし、
振動子の C0 値増加による負性抵抗の低下を抑制することができます。この効果によって、発振余裕を確保しやすくなり
ます。
SEIKO NPC CORPORATION - 8
5054H series, 5054xF
■測定回路
●測定回路 1
測定項目: IDD, IST, DUTY, tr, tf
A
※AC特性はQ端子を
オシロスコープで観測する。
IDD, IST
VDD
X’tal
XT
SW1
Q
0.1 F
測定項目
SW1
SW2
IDD
OFF
OFF
IST
ON or OFF
ON
DUTY, tr, tf
ON
OFF
XTN
INHN
VSS
CL = 15 pF
(Including probe capacitance)
SW2
●測定回路 2
測定項目: tOD
●測定回路 3
測定項目: VOH, VOL
SEIKO NPC CORPORATION - 9
5054H series, 5054xF
●測定回路 4
測定項目: VIH, VIL
●測定回路 5
測定項目: IZ
VDD
0.1 F
Q
A
VDD
及び
VSS
IZ
INHN
VSS
●測定回路 6
測定項目: RPU1, RPU2
VDD
(VIN = 0V)
IPU
VDD - 0.7VDD
RPU2 =
(VIN = 0.7VDD )
IPU
RPU1 =
SEIKO NPC CORPORATION - 10
5054H series, 5054xF
■参考特性例
以下の特性は、下記の水晶振動子を使用した時の数値です。使用する水晶振動子や測定環境により、特性は異なりま
すのでご注意下さい。
使用水晶振動子
振動子パラメータ
Parameter
50MHz
65MHz
80MHz
100MHz
125MHz
170MHz
C0(pF)
1.3
1.7
1.6
1.7
2.0
2.8
R1(Ω)
59
40
59
44
33
45
L1
C1
R1
C0
●消費電流
Current Consumption Characteristics
Ta=25℃, No load
18
Current consumption [mA] l
16
14
3.3 V
12
2.5 V
10
1.8 V
8
6
4
2
HxA HxB
HxC
HxD
HxE
xF
0
40
60
80
100
120
140
160
180
Frequency [MHz]
SEIKO NPC CORPORATION - 11
5054H series, 5054xF
●負性抵抗
Negative Resistance Characteristics
5054HxB version, Ta=25℃
0
0
-100
-100
-200
-200
-300
-400
-500
-600
C0=2pF
-700
C0=0pF(None)
C0=1pF
VDD=1.8V
-800
Negative Resistance [Ω]
Negative Resistance [Ω]
Negative Resistance Characteristics
5054HxA version, Ta=25℃
-300
-400
C0=2pF
-600
C0=1pF
C0=0pF(None)
-700
VDD=1.8V
-800
VDD=2.5V
-900
-500
VDD=2.5V
-900
VDD=3.3V
VDD=3.3V
-1000
-1000
20
40
60
80
100
120
140
160
180
20
200
40
60
0
0
-100
-100
-200
-200
-300
-400
-500
-600
-700
C0=2pF
VDD=1.8V
C0=1pF
140
160
180
200
-300
-400
-500
-600
-700
-800
VDD=2.5V
C0=0pF(None)
-900
VDD=3.3V
-1000
C0=2pF
VDD=1.8V
C0=1pF
VDD=2.5V
C0=0pF(None)
VDD=3.3V
-1000
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
20
40
60
Frequency [MHz]
0
-100
-200
-200
-300
-400
C0=2pF
C0=1pF
C0=0pF(None)
-700
VDD=1.8V
-800
VDD=2.5V
-900
VDD=3.3V
-1000
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
Frequency [MHz]
Negative Resistance [Ω]
0
-600
100
120
140
160
180
200
Negative Resistance Characteristics
5054xF version, Ta=25℃
-100
-500
80
Frequency [MHz]
Negative Resistance Characteristics
5054HxE version, Ta=25℃
Negative Resistance [Ω]
120
Negative Resistance Characteristics
5054HxD version, Ta=25℃
Negative Resistance [Ω]
Negative Resistance [Ω]
Negative Resistance Characteristics
5054HxC version, Ta=25℃
-900
100
Frequency [MHz]
Frequency [MHz]
-800
80
-300
-400
-500
-600
C0=2pF
C0=1pF
-700
C0=0pF(None)
-800
VDD=2.5V
-900
VDD=3.3V
-1000
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
Frequency [MHz]
使用測定器： インピーダンス アナライザ 4396B (Agilent 社製)
凡例は、水晶振動子の C0 相当の容量を 5054 の XT-XTN 間に並列に接続して測定した結果です。
弊社治具を用いて、Agilent 社製 4396B で測定した結果です。測定治具、測定環境で変動する場合があります。
SEIKO NPC CORPORATION - 12
5054H series, 5054xF
●周波数電圧偏差
Frequency Deviation Characteristics
5054HxB version, fOSC=65MHz, Ta=25℃
0ppm: VDD=2.5V
5
4
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
Frequency Deviation [ppm]
5
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
1.6 1.8 2.0 2.2 2.4 2.6 2.8 3.0 3.2 3.4 3.6 3.8
VDD [V]
VDD [V]
Frequency Deviation Characteristics
5054HxC version, fOSC=80MHz, Ta=25℃
0ppm: VDD=2.5V
Frequency Deviation Characteristics
5054HxD version, fOSC=100MHz, Ta=25℃
0ppm: VDD=2.5V
5
5
4
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
Frequency Deviation [ppm]
Frequency Deviation [ppm]
Frequency Deviation [ppm]
Frequency Deviation Characteristics
5054HxA version, fOSC=50MHz, Ta=25℃
0ppm: VDD=2.5V
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
VDD [V]
4
3
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
VDD [V]
3.8
Frequency Deviation [ppm]
Frequency Deviation [ppm]
5
4
2.0
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
Frequency Deviation Characteristics
5054xF version, fOSC=170MHz, Ta=25℃
0ppm: VDD=2.5V
5
1.8
2.8
VDD [V]
Frequency Deviation Characteristics
5054HxE version, fOSC=125MHz, Ta=25℃
0ppm: VDD=2.5V
1.6
2.6
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
VDD [V]
使用測定器： 周波数カウンタ 53132A (Agilent 社製)
SEIKO NPC CORPORATION - 13
5054H series, 5054xF
●ドライブレベル
Drive Level Characteristics
5054HxB version, fOSC=65MHz, Ta=25°C
300
300
250
250
Drive Level [μW]
Drive Level [μW]
Drive Level Characteristics
5054HxA version, fOSC=50MHz, Ta=25°C
200
150
100
200
150
100
50
50
0
0
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
1.6
3.8
1.8
2.0
2.2
2.4
Drive Level Characteristics
5054HxC version, fOSC=85MHz, Ta=25°C
300
300
250
250
200
150
100
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
200
150
100
50
50
0
0
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
1.6
3.8
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
VDD [V]
VDD [V]
Drive Level Characteristics
5054xF version, fOSC=170MHz, Ta=25°C
Drive Level Characteristics
5054HxE version, fOSC=125MHz, Ta=25°C
800
300
700
Drive Level [μW]
250
Drive Level [μW]
2.8
Drive Level Characteristics
5054HxD version, fOSC=100MHz, Ta=25°C
Drive Level [μW]
Drive Level [μW]
2.6
VDD [V]
VDD [V]
200
150
100
50
600
500
400
300
200
100
0
0
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
VDD [V]
1.6
1.8
2.0
2.2
2.4
2.6
2.8
3.0
3.2
3.4
3.6
3.8
VDD [V]
使用測定器： オシロスコープ DSO80604B (Agilent 社製)
カレントプローブ CT-6 (Tektronix 社製)
周波数カウンタ 53132A (Agilent 社製)
SEIKO NPC CORPORATION - 14
5054H series, 5054xF
●位相ノイズ
Phase Noise Characteristics
5054HxB version, VDD=3.3V, f OSC=65MHz, Ta=25℃
-40
-60
-60
Phase Noise [dBc/Hz]
-40
-80
-100
-120
-140
-80
-100
-120
-140
-160
-160
-180
1.0E+01 1.0E+02 1.0E+03 1.0E+04 1.0E+05 1.0E+06 1.0E+07 1.0E+08
-180
1.0E+01 1.0E+02 1.0E+03 1.0E+04 1.0E+05 1.0E+06 1.0E+07 1.0E+08
Offset Frequency [Hz]
Offset Frequency [Hz]
Phase Noise Characteristics
5054HxC version, VDD=3.3V, f OSC=80MHz, Ta=25℃
Phase Noise Characteristics
5054HxD version, VDD=3.3V, f OSC=100MHz, Ta=25℃
-40
-60
-60
Phase Noise [dBc/Hz]
-40
-80
-100
-120
-140
-80
-100
-120
-140
-160
-160
-180
1.0E+01 1.0E+02 1.0E+03 1.0E+04 1.0E+05 1.0E+06 1.0E+07 1.0E+08
-180
1.0E+01 1.0E+02 1.0E+03 1.0E+04 1.0E+05 1.0E+06 1.0E+07 1.0E+08
Offset Frequency [Hz]
Offset Frequency [Hz]
Phase Noise Characteristics
5054HxE version, VDD=3.3V, f OSC=125MHz, Ta=25℃
Phase Noise Characteristics
5054xF version, VDD=3.3V, f OSC=170MHz, Ta=25℃
-40
-40
-60
-60
Phase Noise [dBc/Hz]
Phase Noise [dBc/Hz]
Phase Noise (dBc/Hz)
Phase Noise [dBc/Hz]
Phase Noise Characteristics
5054HxA version, VDD=3.3V, f OSC=50MHz, Ta=25℃
-80
-100
-120
-140
-80
-100
-120
-140
-160
-160
-180
1.0E+01 1.0E+02 1.0E+03 1.0E+04 1.0E+05 1.0E+06 1.0E+07 1.0E+08
-180
1.0E+01 1.0E+02 1.0E+03 1.0E+04 1.0E+05 1.0E+06 1.0E+07 1.0E+08
Offset Frequency [Hz]
Offset Frequency [Hz]
使用測定器： シグナルソース アナライザ E5052B(Agilent 社製)
SEIKO NPC CORPORATION - 15
5054H series, 5054xF
●出力波形
5054HxA version, VDD=3.3V, fOUT=50MHz, CLOUT=15pF, Ta=25℃
5054HxB version, VDD=3.3V, fOUT=65MHz, CLOUT=15pF, Ta=25℃
SEIKO NPC CORPORATION - 16
5054H series, 5054xF
5054HxC version, VDD=3.3V, fOUT=85MHz, CLOUT=15pF, Ta=25℃
5054HxD version, VDD=3.3V, fOUT=106.25MHz, CLOUT=15pF, Ta=25℃
SEIKO NPC CORPORATION - 17
5054H series, 5054xF
5054HxE version, VDD=3.3V, fOUT=133MHz, CLOUT=15pF, Ta=25℃
5054xF version, VDD=3.3V, fOUT=170MHz, CLOUT=15pF, Ta=25℃
使用測定器 ： オシロスコープ DSO80604B(Agilent 社製)
：差動プローブ
1134A (プローブヘッド E2678A)
：プローブヘッド E2678A (Agilent 社製)
SEIKO NPC CORPORATION - 18
5054H series, 5054xF
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ND15001-J-01 2015.11
SEIKO NPC CORPORATION - 19