INFINEON Q62702-P936

SFH 216
SFH 216
feo06314
Silizium-PIN-Fotodiode mit sehr kurzer Schaltzeit
Silicon PIN Photodiode with Very Short Switching Time
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
Features
● Speziell geeignet für Anwendungen im
● Especially suitable for applications from
Bereich von 350 nm bis 1100 nm
● Kurze Schaltzeit (typ. 5 ns)
● Hermetisch dichte Metallbauform (TO-18)
350 nm to 1100 nm
● Short switching time (typ. 5 ns)
● Hermetically sealed metal package (TO-18)
Anwendungen
Applications
● Schneller optischer Empfänger mit groβer
● Optical sensor of high modulation bandwidth
Modulationsbandbreite für Lichtgriffel
Typ
Type
Bestellnummer
Ordering Code
SFH 216
Q62702-P936
Semiconductor Group
for light pens
410
10.95
SFH 216
Grenzwerte
Maximum Ratings
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
Top; Tstg
– 40 ... + 125
°C
Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom
Gehäuse entfernt bei Lötzeit t ≤ 3 s)
Soldering temperature in 2 mm distance
from case bottom (t ≤ 3 s)
TS
230
°C
Sperrspannung
Reverse voltage
VR
50
V
Verlustleistung, TA = 25 °C
Total power dissipation
Ptot
250
mW
Kennwerte (TA = 25 °C, Normlicht A, T = 2856 K)
Characteristics (TA = 25 °C, standard light A, T = 2856 K)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Fotoempfindlichkeit, VR = 5 V
Spectral sensitivity
S
50 (≥ 35)
nA/Ix
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit
Wavelength of max. sensitivity
λS max
850
nm
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
λ
350 ... 1150
nm
Bestrahlungsempfindliche Fläche
Radiant sensitive area
A
1
mm2
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen
Fläche
Dimensions of radiant sensitive area
L×B
1×1
mm
Abstand Chipoberfläche zu Gehäuseoberfläche
Distance chip front to case surface
H
4.2 ... 5.0
mm
Halbwinkel
Half angle
ϕ
± 12
Grad
deg.
Dunkelstrom, VR = 20 V
Dark current
IR
1 (≤ 5)
nA
Semiconductor Group
411
S = 10 % von Smax
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of Smax
L×W
SFH 216
Kennwerte (TA = 25 °C, Normlicht A, T = 2856 K)
Characteristics (TA = 25 °C, standard light A, T = 2856 K)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Spektrale Fotoempfindlichkeit, λ = 850 nm
Spectral sensitivity
Sλ
0.55
A/W
Quantenausbeute, λ = 850 nm
Quantum yield
η
0.80
Electrons
Photon
Leerlaufspannung, Ev = 1000 Ix
Open-circuit voltage
VO
410 (≥ 350)
mV
Kurzschlußstrom, Ev = 1000 Ix
Short-circuit current
ISC
50
µA
tr, tf
Anstiegs und Abfallzeit des Fotostromes
Rise and fall time of the photocurrent
RL = 50 Ω; VR = 20 V; λ = 850 nm; Ip = 800 µA
5
ns
Durchlaßspannung, IF = 100 mA, E = 0
Forward voltage
VF
1.3
V
Kapazität, VR = 0 V, f = 1 MHz, E = 0
Capacitance
C0
11
pF
Temperaturkoeffizient von VO
Temperature coefficient of VO
TCV
– 2.6
mV/K
Temperaturkoeffizient von ISC
Temperature coefficient of ISC
TCI
0.2
%/K
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
Noise equivalent power
VR = 20 V, λ = 850 nm
NEP
3.3 × 10–14
W
√Hz
Nachweisgrenze, VR = 20 V, λ = 850 nm
Detection limit
D*
3.1 × 1012
cm · √Hz
W
Semiconductor Group
412
SFH 216
Relative spectral sensitivity
Srel = f (λ)
Photocurrent IP = f (Ev), VR = 5 V
Open-circuit-voltage VO = f (Ev)
Total power dissipation
Ptot = f (TA)
Dark current
IR = f (VR), E = 0
Capacitance
C = f (VR), f = 1 MHz, E = 0
Dark current
IR = f (TA), VR = 1 V, E = 0
Directional characteristics Srel = f (ϕ)
Semiconductor Group
413