ETC VLA502-01

混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
概 要
VLA502-01 は IGBT モジュール駆動用混成集積回路です。
VLA500-01 の高速版です。ゲート駆動用の絶縁型 DC-DC
外形図
単位: mm
コンバータが内蔵されており、新たにゲート電源を設計する
必要がありません。
83.0 以下
また、内蔵の保護回路により、短絡発生時、一定時間の逆バイ
33.0 以下
アスを持続する為、時間的に余裕のある保護動作が可能です。
推奨モジュール
VCES = 600V 系列…………∼600A クラス
VCES = 1200V 系列……….∼600A クラス
特 長
5.0 以下
5.0 以下
•伝播遅延時間:0.4μs(標準値)
11.5 以下
4.5 以下
2.54
•ゲート駆動用絶縁型 DC-DC コンバータ内蔵
1
15.5 以下
30
•高密度実装が容易な SIP 構造
*
•短絡保護回路内蔵( )(タイマ及びリセット回路付き)
•入力―出力間
(*)
絶縁耐圧:2500Vrms
三菱電機㈱製IGBT
NFHシリーズ
1 分間保証
では、短絡に対しメーカ保証されていない点、ご留意ください。
用 途
誘導過熱装置、溶接機、インバータ、P.C.等に使用される IGBT モジュール駆動用
ブロック図
19 Vcc
1
VD
2
定電圧回路
DC−AC
ラッチ
変換回路
Gi
29
検出抑制時間
調整端子
30
コレクタ電圧監
視端子
検出回路
3
4
20
VI+ 6
GND
タイマー及び
25
リセット回路
26 コレクタ
インタフェー
23
Vo
ス回路
24
ゲート遮断回路
300 Ω
VI-
27
逆バイアス
速度調整端子
(短絡検出時)
28
短絡検出出力端子
21
7
22
1
VEE
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
最大定格
(指定のない場合は、Ta=25℃)
記号
VD
項 目
電源電圧
VI
入力信号電圧
VO
IOHP
IOLP
出力電圧
Viso
Tc1
Tc2
Topr
Tstg
IFO
VR30
条
50%
件
DC
端子 6-7 間電圧
duty cycle、パルス幅1ms
出力 H 時の電圧
出力電流
パルス幅 2μs
入力-出力間絶縁耐圧
ケース温度 1
ハイブリッドIC外装樹脂表面温度(フォトカプラ搭載部) (*3)
ケース温度 2
動作周囲温度
保存温度
エラー出力電流
端子30印加電圧
Idrive
ゲートドライブ電流
(*1) H/C 条件と異なります。
正弦波電圧 60Hz、1 分間
ハイブリッドIC外装樹脂表面温度(フォトカプラ搭載部以外)
結露無きこと
結露無きこと
端子 28 流入電流
―
ゲート平均電流
定 格 値
-1∼16.5
単 位
V
−1∼+7
V
Vcc
−12
12
2500
85
100
−20∼+60
−25∼+100(★1)
20
50
210(★2)
V
A
A
Vrms
℃
℃
℃
℃
mA
V
mA
(*2)ディレーティングカーブをご参照ください。
(*3) 下図参照ください。
TC1 測定ポイント
(フォトカプラ搭載部)
電気的特性
(指定のない場合は、 Ta=25℃,VD=15.0V,RG=2.2Ω)
記号
VD
VIN
IIH
マーク面
項
目
電源電圧
1 次側プルアップ電源電圧
H
入力信号電流
条
件
規 格 値
最小 標準 最大
推奨範囲
14.2
15
15.8
単位
V
推奨範囲
4.75
5
5.25
V
推奨範囲
9.5
10
14
mA
f
RG
IIH
スイッチング周波数
推奨範囲
−
−
60
kHz
ゲート抵抗
推奨範囲
1
−
−
Ω
VIN=5V
−
10
−
mA
VCC
ゲート正電源電圧
―
15.2
−
17.5
V
VEE
ゲート負電源電圧
―
η
H
入力信号電流
ゲート電源部効率
-6
−
-11.5
V
VD=15V、IO=210mA
η=(VCC +|VEE|)(0.21)/(15・ID)×100
60
75
−
%
VOH
H
出力電圧
端子23−20間に10kΩ、入力 H
14
15.3
16.5
V
VOL
L
出力電圧
端子23−20間に10kΩ、入力 L
IIH=10mA
−5.5
−
−11
V
t PLH
tr
t PHL
tf
0.25
0.4
0.65
μs
立ち上がり時間
IIH=10mA
−
0.3
1
μs
伝搬時間
IIH=10mA
0.25
0.4
0.65
μs
立ち下がり時間
IIH=10mA
−
0.3
1
μs
保護動作開始から解除まで
(入力信号は L である事)
1
−
2
ms
端子28流入電流
−
5
−
mA
L-H
L-H
H-L
H-L
伝搬時間
t timer
タイマ時間
IFO
エラー出力電流
ttrip1
短絡検出抑制時間1
端子30:15V 以上、端子29:オープン
−
1.8
−
μs
ttrip2
短絡検出抑制時間2(★4)
端子30:15V 以上
端子29−21,22間:10pF の容量接続
−
2.2
−
μs
VSC
短絡検出コレクタ電圧
15
−
−
V
R=4.7kΩ
―
(*4)短絡検出抑制時間変更用コンデンサの配線長は端子21、22、29より往復 5cm 以内
2
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
特性曲線
VCC、¦VEE¦ - Io 特性
(代表例)
VCC、¦VEE¦ - Ta 特性
(代表例)
24
VCC、¦VEE¦ (V)
20
24
VD=15V
RG=2.2Ω
負荷:CM600DY-24NFH
f=10KHz D.F.=50%
VCC
16
14
12
10
VD=15.8V
16
0
20
40
周囲温度 Ta(℃)
60
VD=14.2V
12
VD=15.8V
10
出力 L−H 伝搬時間 tPLH(μs)
出力 H−L 伝搬時間 tPHL(μs)
VIN=5.0V
負荷:CM600DY-24NFH
0.8
0.6
tPHL
tPLH
0.2
RG=2.2Ω
1.4
Ta=25℃
負荷:CM600DY-24NFH
1.2
1
0.8
0.6
tPLH
0.4
tPHL
0.2
0.0
-20
0
20
40
60
0
80
3.0
3.5
周囲温度 Ta(℃)
ttrip - Ta 特性
(代表例)
9
VD=15V
RG=2.2Ω
5.0
4.5
4.0
3.5
ttrip2(Ctrip=10pF)
2.5
2.0
ttrip1(Ctrip=0pF)
1.5
1.0
-20
5.5
6.0
VD=15V
8
負荷:CM600DY-24NFH
3.0
4.0
4.5
5.0
入力信号電圧 VI(V)
ttrip - Ctrip 特性
(代表例)
短絡検出抑制時間 ttrip(μs)
短絡検出抑制時間 ttrip1,ttrip2(μs)
5.5
0.25
VD=15V
1.0
6.0
0.10
0.15
0.20
負荷電流 Io(A)
(端子19−21,22間)
1.6
VD=15V
RG=2.2Ω
0.4
0.05
tPLH、tPHL − VI 特性
(代表例)
tPLH、tPHL − Ta 特性
(代表例)
1.6
VD=15V
VD=14.2V
4
0.00
80
VD=15V
14
6
6
-20
出力 L−H 伝搬時間 tPLH(μs)
出力 H−L 伝搬時間 tPHL(μs)
18
8
|VEE|
8
1.2
DC 負荷
20
18
1.4
Ta=25℃
22
VCC、¦VEE¦(V)
22
Ta=25℃
7
6
5
4
3
2
1
0
0
20
40
60
80
0
周囲温度 Ta(℃)
3
25
50
75
100
125
短絡検出抑制時間調整外部容量 Ctrip(pF)
(端子29−21間)
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
VOH、¦VOL¦ − Ta 特性
(代表例)
ID - Io 特性
(代表例)
22
0.6
VD=15V
H 出力電圧 VOH(V)
L 出力電圧 ¦VOL¦(V)
0.5
入力電流 ID (A)
20
Ta=25℃
0.4
0.3
0.2
0.1
18
VD=15V
RG=2.2Ω
負荷:CM600DY-24NFH
VOH
16
14
12
10
¦VOL¦
8
6
0
0.00
0.05
0.10
0.15
0.20
負荷電流 Io(A)
(端子19−21、22間)
4
-20
0.25
40
60
80
VCC、|VEE| − VD 特性
(代表例)
20
80
VD=15V
70
18
Ta=25℃
Ta=25℃
VCC
16
VCC、¦VEE¦ (V)
60
50
40
30
20
14
12
10
|VEE|
8
6
4
10
2
0
0.00
0
0.05
0.10
0.15
0.20
ゲートドライブ電流 Idrive(A)
0.25
14
14.5
Idrive − Ta 特性
(最大定格)
15
15.5
16
電源電圧 VD (V)
16.5
17
16.5
17.0
η − VD 特性
(代表例)
75
0.25
RG=1.1Ω
負荷:CM600DY-24NFH
70
Io=0.1A
Ta=25℃
0.20
65
VD=15V
効率 η(%)
ゲートドライブ電流 Idrive(A)
20
周囲温度 Ta(℃)
η - Idrive 特性
(代表例)
効率 η(%)
0
0.15
VD=16.5V
0.10
60
55
50
0.05
45
40
14.0
0.00
0
20
40
60
周囲温度 Ta(℃)
80
14.5
15.0
15.5
16.0
電源電圧 VD(V)
4
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
特性定義図
(1)通常スイッチング動作
(2)短絡保護動作
VI
VI
VO
tr
tf
0V
VO 0V
-5V
90%
ttrip1,2
50%
10V
0V
tPHL
tPLH
10V
端子28出力
10%
ttimer
応用回路例
D1
30
1
23
2
C1
24
+
Dz2
VD
Dz3
19
3
CM600DU-24NFH etc.
RG
25
4
VLA502-01
+ C2
20
CMOS etc.
+
6
コントロール信号→
26
21
C3
Dz1
22
7
Ctrip
29
27
Cs
3.3kΩ
28
入力回路例
VIN
4.7kΩ
端子 6
HC04 etc.
VD=15V +/-5%
VIN=5V +/-5%
C1 : 100uF (低インピーダンス品)
C2 : 470μF (低インピーダンス品)
C3 : 470μF (低インピーダンス品)
Ctrip : RG に依存します。
Cs : サージ電圧に依存します
Dz1 : 30V
Dz2,3 : 18V
D1 :ファーストリカバリーダイオード(trr≦0.2μs)
注意事項
(1)
電圧補償用コンデンサは極力ハイブリッド IC の近くに実装して下さい。
(2)
ゲート回路の閉回路面積は誘導ノイズを受けないようにできる限り少なくして下さい。
(3)
D1 はモジュールと同等の耐圧が必要です。
(4)
D1 の逆回復時は、端子30へ非常に高い電圧が印加される事になり、内部素子を破壊する可能性があります。
上図の様に端子30−端子21,22間にツェナーダイオードを挿入する等、保護対策が必要です
(5)
三菱電機㈱製IGBT
(6)
短絡保護機能を使用されない場合の短絡検出端子(端子30)の処置は、4.7kΩの抵抗を介して端子20へ接続してください。
NFHシリーズ
は、短絡に対しメーカ保証されておりませんので、その点ご留意ください。
また、D1、Dz1は不要です。
5
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
保護回路動作時出力降下時間の調整
保護回路動作説明
(保護回路動作時)
(1)
ハイブリッド IC の保護回路は、ゲート電位が
H でコレク
保護回路動作時の、逆バイアスの速度を遅くする場合は、端子
タ電圧が高い時、短絡状態と判断し、直ちにゲート電圧を降下
21、22−27間にコンデンサ(Cs)を接続し、調整して下さ
させます。
い。(下図をご参照下さい。)
また、同時に、保護回路が動作している事を知らせるエラー信
号を端子28より出力( L
(2)
レベル)します。
上記の保護動作は、ある一定(1∼2msec)以上の時間が経
過した時点で、入力信号が
L
イッチング動作に戻ります。(
(3)
であればリセットされ、通常ス
L
入力信号
波形
t2
t1
期間は15μs以上必要)
出力立ち上がり時、IGBT のオン時間を確保する為の短絡検出
90%
抑制時間(標準 1.8μs)を設けてあります。
端子21、22−29間に容量(Ctrip)を接続する事により調整
50%
する事ができます。
短絡検出時動作フロー
開
0%
10%
Vo
始
t1,t2 VS. Cs 特性
(代表例)
50
ゲート遮断回路動作
タイマ動作開始
短絡検出出力
保護回路動作時出力降下時間
t1. t2 (us)
短絡状態の検知
1 ~ 2ms
45
VD=15V
40
Ta=25℃
35
30
25
t2
20
15
10
t1
5
タイマ終了
0
0
NO
100
200
300
400
500
600
端子27−21間容量 Cs (pF)
YES
入力信号は
L レベルか
NO
YES
リセット
注意:保護回路動作時の出力 L 電圧は、VEE+約2V です。
6
700
800
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
製品取扱い上の注意事項
ハイブリッドIC(以下単に素子という)の開発・生産には、品質とりわけ信頼性には最大限の注意を払い、生産活動して
おります。しかし素子の信頼性は素子固有の要因だけでなく、使用条件によっても大きく影響されます。
当社の素子を取り扱う際には、次の注意事項を読まれて、正しく御使用ください。
注
梱包・包装
運 搬
保 管
長期保管
意
事
項
当社から出荷される素子の梱包箱、内装材は一定の環境条件に耐えられるようになって
いますが、外部からの衝撃、雨水、汚染等に曝されますと、梱包箱が破れたり内装材が壊れ
て素子が露出する場合がありますので、取り扱いには十分注意してください。
1)梱包箱を高く積み上げたり、梱包箱の上に重い物を乗せないでください。梱包箱が壊れ、
荷崩れする危険があります。
2)運送中は梱包箱を正しい向きに置いてください。逆さにしたり、立てかけたりすると
不自然な力が加わり、壊れる恐れがあります。
3)投げたり落したりすると、素子が壊れる恐れがあります。
4)水に濡らさないよう降雨、降雪時の運搬には注意してください。
5)その他運搬時には、できるだけ機械的振動や衝撃が少なくなるよう留意してください。
素子を保管するに当っては次の注意点を守ってください。これらが守れない場合は、特性の
劣化、半田付け性・外観不良等の発生原因にもなります。
1)直射日光を避け、できるだけ温度、湿度の変化の少ない室内に保管してください。
(5∼30℃,40∼60%RHが望ましい条件)
2)室内は、有毒ガスの発生がなく、塵埃の少ない状態にしてください。
3)保管容器は静電気の帯びにくいものにしてください。
4)保管中は素子に、過大な荷重がかからないようにしてください。
長期間の保管が必要な場合は、未加工の状態で保管してください。長期的に保管したり、
悪い環境に置かれた素子を使用する際は、外観に傷、汚れ、錆等がないか確認の上、使用
してください。
定格・特性
最大定格とは、半導体メーカによって、指定される「半導体素子能力」または「使用できる
条件の限界値」のことで、半導体素子は通常この最大定格方式により規定されています。
したがってこれを超えて使用した場合、素子は劣化又は破壊を起こします。
素子劣化及び破壊を未然に防ぎ、機器における高信頼度を実現するために、また素子を特性上
及び経済性の面から最も有効に動作されるために、記載の定格値内及び規格値内で使用ください。
端子配置
誤挿入による素子の破壊、劣化を防ぐため、外形図に記載しています端子配置を十分確認の上
取り付けて下さい。方向を間違えて通電しますと短絡事故を起こす恐れがありますので、十分
注意してください。
7
混成集積回路
VLA502-01
IGBT モジュールゲート駆動用ハイブリット IC
営業本部営業企画部
〒854-0065
長崎県諌早市津久葉町 6-41
安全設計に関するお願い
・弊社は品質、信頼性の向上に努めておりますが、半導体製品は故障が発生したり、誤動作する場合があります。弊社製品
の故障または誤動作によって、結果として人身事故、火災事故、社会的損害などを生じさせないような安全性を考慮した
冗長設計、延焼対策設計、誤動作防止設計などの安全設計に十分ご留意ください。
本資料ご利用に際しての留意事項
・本資料は、お客様が用途に応じた適切なイサハヤ電子製品をご購入いただくための参考資料であり、本資料中に記載の
技術情報についてイサハヤ電子が所有する知的財産権その他の権利の実施、使用を許諾するものではありません。
・本資料に記載の製品データ、図、表その他応用回路例の使用に起因する損害、第三者所有の権利に対する侵害に関し、イサ
ハヤ電子は責任を負いません。
・本資料に記載の製品データ、図、表その他全ての情報は、本資料発行時点のものであり、特性改良などにより予告なしに
変更することがあります。製品の購入に当たりましては、事前にイサハヤ電子へ最新の情報をご確認ください。
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として設計、製造されたものではありません。本資料の製品を運輸、移動体用、医療用、航空宇宙用、原子力制御用、海底
中継機器あるいはシステムなど、特殊用途へのご利用をご検討の際には、イサハヤ電子へ御照会ください。
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・本資料に関し詳細についてのお問合せ、その他お気付きの点がございましたら、イサハヤ電子まで御照会ください。
8
2004 年 4 月作成