INFINEON SFH204F

Silizium-PIN-Fotodiode mit Tageslichtsperrfilter
Silicon-PIN-Photodiode with Daylight Filter
0.8
0.4
1.8
1.2
(3.8)
Chip position
5.1
4.7
5.3
4.9
0.6
0.4
2.54 mm
spacing
Area not flat
SFH 204 F
SFH 204 FA
34
32
0.5
0.3
Cathode
6.3
5.7
GEO06964
Maße in mm, wenn nicht anders angegeben/Dimensions in mm, unless otherwise specified.
Wesentliche Merkmale
● Speziell geeignet für Anwendungen bei
880 nm
● Kurze Schaltzeit (typ. 20 ns)
● 5 mm-Plastikbauform im LED-Gehäuse
● Auch gegurtet lieferbar
Features
● Especially suitable for applications of
880 nm
● Short switching time (typ. 20 ns)
● 5 mm LED plastic package
● Also available on tape
Anwendungen
Applications
● IR-remote control of hi-fi and TV sets, video
tape recorders, dimmers, remote control of
various equipment
● Photointerrupters
● IR-Fernsteuerung von Fernseh- und
Rundfunkgeräten, Videorecordern,
Lichtdimmern, Gerätefernsteuerungen
● Lichtschranken für Gleich- und
Wechsellichtbetrieb
Typ
Type
Bestellnummer
Ordering Code
SFH 204 F
Q62702-P5052
SFH 204 FA
Q62702-P1793
Semiconductor Group
1
1998-11-12
SFH 204 F
SFH 204 FA
Grenzwerte
Maximum Ratings
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
Einheit
Unit
Betriebs- und Lagertemperatur
Operating and storage temperature range
Top; Tstg
– 55 ... + 100
°C
Löttemperatur (Lötstelle 2 mm vom
Gehäuse entfernt bei Lötzeit t ≤ 3 s)
Soldering temperature in 2 mm distance
from case bottom (t ≤ 3 s)
TS
230
°C
Sperrspannung
Reverse voltage
VR
20
V
Verlustleistung, TA = 25 °C
Total power dissipation
Ptot
150
mW
Kennwerte (TA = 25 °C)
Characteristics
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
SFH 204 F
λ = 950 nm
SFH 204 FA
λ = 870 nm
Einheit
Unit
Fotoempfindlichkeit
Spectral sensitivity
VR = 5 V, Ee = 1 mW/cm2
S
52 (≥ 43)
52 (≥ 43)
µA
Wellenlänge der max. Fotoempfindlichkeit
Wavelength of max. sensitivity
λS max
920
900
nm
Spektraler Bereich der Fotoempfindlichkeit
S = 10 % von Smax
Spectral range of sensitivity
S = 10 % of Smax
λ
780 ... 1120
740 ... 1120
nm
Bestrahlungsempfindliche Fläche
Radiant sensitive area
A
4.84
4.84
mm2
Abmessung der bestrahlungsempfindlichen
Fläche
Dimensions of radiant sensitive area
L×B
2.20 × 2.20
2.20 × 2.20
mm × mm
Abstand Chipoberfläche zu
Gehäuseoberfläche
Distance chip surface to case surface
H
1.9 ... 2.4
1.9 ... 2.4
mm
Halbwinkel horizontal
Half angle horizontal plane
ϕ
± 60
± 60
Grad
deg.
Semiconductor Group
L×W
2
1998-11-12
SFH 204 F
SFH 204 FA
Kennwerte (TA = 25 °C)
Characteristics (cont’d)
Bezeichnung
Description
Symbol
Symbol
Wert
Value
SFH 204 F
λ = 950 nm
SFH 204 FA
λ = 870 nm
Einheit
Unit
Halbwinkel vertikal
Half angle vertical plane
ϕ
+ 60
– 75
+ 60
– 75
Grad
deg.
Dunkelstrom, VR = 10 V
Dark current
IR
2 (< 30)
2 (< 30)
nA
Spektrale Fotoempfindlichkeit
Spectral sensitivity
Sλ
0.59
0.63
A/W
Quantenausbeute
Quantum yield
η
0.77
0.90
Electrons
Photons
Leerlaufspannung, Ee = 0.5 mW/cm2
Open-circuit voltage
VO
340 (> 270)
340 (> 270)
mV
Kurzschlußstrom, Ee = 0.5 mW/cm2
Short-circuit current
ISC
25
25
µA
Anstiegs- und Abfallzeit des Fotostromes
Rise and fall time of the photocurrent
RL = 50 Ω; VR = 5 V; λ = 850 nm; Ip = 800
µA
tr, tf
20
20
ns
Durchlaßspannung, IF = 100 mA, E = 0
Forward voltage
VF
1.3
1.3
V
Kapazität, VR = 0 V, f = 1 MHz, E = 0
Capacitance
C0
48
48
pF
Temperaturkoeffizient von VO
Temperature coefficient of VO
TCV
– 2.6
– 2.6
mV/K
Temperaturkoeffizient von ISC
Temperature coefficient of ISC
TCI
0.18
0.1
%/K
Rauschäquivalente Strahlungsleistung
Noise equivalent power
VR = 10 V
NEP
3.6 × 1014
3.6 × 1014
W
-----------Hz
Nachweisgrenze, VR = 10 V
Detection limit
D*
6.1 × 1012
6.1 × 1012
cm × Hz
-------------------------W
Semiconductor Group
3
1998-11-12
SFH 204 F
SFH 204 FA
Relative spectral sensitivity SFH 204 F
Srel = f (λ)
Photocurrent IP = f (Ee), VR = 5 V
Open-circuit voltage VO = f (Ee)
Dark current
IR = f (TA), VR = 10 V, E = 0
OHF00082
10 3
Ι R nA
10 2
10 1
10 0
10 -1
Relative spectral sensitivity SFH 204 FA
Srel = f (λ)
0
20
40
60
80 ˚C 100
TA
Capacitance
C = f (VR), f = 1 MHz, E = 0
OHF01430
100
Srel %
80
70
60
50
40
30
20
10
0
400
600
800
1000 nm 1200
λ
Dark current
IR = f (VR), E = 0
Total power dissipation Ptot = f (TA)
OHF00080
4000
pA
160
mW
Ptot
140
3000
120
ΙR
OHF00394
100
2000
80
60
1000
40
20
0
0
5
10
15
Semiconductor Group
V
VR
20
0
0
20
40
4
60
80 ˚C 100
TA
1998-11-12
SFH 204 F
SFH 204 FA
Directional characteristics – horizontal plane Srel = f (ϕ)
40
30
20
10
ϕ
0
OHF01402
1.0
50
0.8
60
0.6
70
0.4
80
0.2
0
90
100
1.0
0.8
0.6
0.4
0
20
40
60
80
100
120
Directional characteristics – vertical plane Srel = f (ϕ)
Semiconductor Group
5
1998-11-12