S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Rev.1.0 本資料のご使用につきましては、次の点にご留意願います。 本資料の内容については、予告無く変更することがあります。 1. 本資料の一部、または全部を弊社に無断で転載、または、複製など他の目的に使用することは堅くお断りいたします。 2. 本資料に掲載される応用回路、プログラム、使用方法等はあくまでも参考情報であり、これら起因する第三者の知的財産権および その他の権利侵害あるいは損害の発生に対し、弊社はいかなる保証を行うものではありません。また、本資料によって第三者また は弊社の知的財産権およびその他の権利の実施権の許諾を行うものではありません。 3. 特性値の数値の大小は、数直線上の大小関係で表しています。 4. 本資料に掲載されている製品のうち「外国為替及び外国貿易法」に定める戦略物資に該当するものについては、輸出する場合、同 法に基づく輸出許可が必要です。 5. 本資料に掲載されている製品は、生命維持装置その他、きわめて高い信頼性が要求される用途を前提としていません。よって、弊 社は本（当該）製品をこれらの用途に用いた場合のいかなる責任についても負いかねます。 6. 本資料に掲載されている会社名、商品名は、各社の商標または登録商標です。 ©SEIKO EPSON CORPORATION 2009, All rights reserved. 目 次 1. 目的.............................................................................................................................. 1 2. 用語と略語 ................................................................................................................... 2 3. Embedded Hostシステム ........................................................................................... 4 4. Embedded Host Compliance Plan............................................................................ 5 4.1 Introduction (Summary) .......................................................................................................... 5 4.1.1 転送速度.............................................................................................................................. 5 4.1.2 転送タイプ .......................................................................................................................... 5 4.1.3 USB Suspend ..................................................................................................................... 6 4.1.4 VBUS供給電流値 ................................................................................................................ 6 4.1.5 Target Peripheral List .......................................................................................................... 6 4.1.6 Hubのサポート ................................................................................................................... 7 4.1.7 No Silent Failure (NSF) ....................................................................................................... 7 4.1.8 複数ホスト（ダウンストリーム）ポートの実装 ................................................................. 7 4.1.9 デバイス（アップストリーム）ポートの実装 .................................................................... 7 4.2 Regurations.............................................................................................................................. 7 4.2.1 USB Certified Logo Qualification......................................................................................... 8 4.2.2 Checklists............................................................................................................................ 8 4.2.3 Target Peripheral List (TPL) ................................................................................................ 8 4.3 Compliance Program............................................................................................................... 8 4.4 Record Results......................................................................................................................... 8 4.5 Target Peripheral List (TPL) Form .......................................................................................... 8 5. Embedded Host Compliance Test .......................................................................... 10 5.1 Electrical Test......................................................................................................................... 10 5.1.1 Full-Speed Downstream Signal Quality............................................................................. 10 5.1.2 Low-Speed Downstream Signal Quality ............................................................................ 11 5.1.3 Drop .................................................................................................................................. 11 5.1.3.1 5.1.3.2 High power Embedded Host..............................................................................................................12 Low power Embedded Host...............................................................................................................12 5.2 Interoperability Test............................................................................................................... 12 5.2.1 Enumeration...................................................................................................................... 12 5.2.2 Operation .......................................................................................................................... 13 5.2.3 Hubs.................................................................................................................................. 14 5.2.4 Messaging (No Silent Failure) ........................................................................................... 14 6. Independent Test Labs ............................................................................................ 16 改訂履歴表 ....................................................................................................................... 17 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） i 1. 目的 1. 目的 本ドキュメントは、S1R72U06（以下、本 LSI）を使用するお客様が Embedded Host の認証試験を受け る際に、ガイドラインとして用いていただくことを目的としています。 本ドキュメントと併せて、USB Implementers Forum（USB-IF）から公開されている以下の関連ドキュメ ント（※）もご覧ください。 ※ 以下の関連ドキュメントは予告なく変更されることがあります。 関連ドキュメント USB-IF Embedded Host Compliance Plan Rev 1.0 (Aug 06) http://www.usb.org/developers/docs/ USB-IF Full and Low Speed Electrical and Interoperability Compliance Test Procedure (Feb 04) http://www.usb.org/developers/docs/ On-The-Go Supplement to the USB 2.0 Specification Rev 1.3 (Dec 06) http://www.usb.org/developers/onthego/ USB On-The-Go Compliance Plan for the USB 2.0 Specification Rev 1.2 (Apr 06) http://www.usb.org/developers/onthego/ S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 1 2. 用語と略語 2. 用語と略語 本ドキュメントで使用する用語と略語について定義します。 USB-IF USB Implementers Forrum TPL Target Peripheral List NSF No Silent Failure HS High-speed FS Full-speed LS Low-speed SOF Start of Field EOP End of Packet Embedded Host PC に代表されるフル機能ホストとは異なり、組み込み機器での使用を目的とした機能限定の ホスト Standard-A レセプタクル USB ホスト（ダウンストリーム）ポートで使用するコネクタ USB2.0 規格では基板側コネクタをレセプタクル、ケーブル側コネクタをプラグと明確に分け ている Mini-AB レセプタクル On-The-Go(OTG)ポートで使用する基板側のコネクタ Mini-A プラグ、Mini-B プラグの両タイプと勘合できる Test Fixture USB-IF より認可された測定器メーカが提供している Electrical Test 測定用のボード テストモード Electrical Test に使用する動作モード USB Electrical Analysis Tool USB-IF が提供する解析ツール Far End 被測定システムから 5m 先 Near End 被測定システムの直近 2 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 2. 用語と略語 Captive USB ケーブル Test Fixture 付属の USB ケーブル 負荷ボード Drop/Droop Test で使用する、VBUS に負荷をかけるためのボードで、USB-IF より OTG Electrical Tester(OET)としてリリースされている テストラボ 認証試験の実施を USB-IF より認可された会社 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 3 3. Embedded Host システム 3. Embedded Host システム 本 LSI を使用することで、Embedded Host システムを容易に実現することができます。 Embedded Host システムの概要を以下に示します。なお、本 LSI の対応状況は、4.1 Introduction (Summary) で説明します。 • • • 4 限定されたホスト機能を持つ（PC に代表されるフル機能ホストでなくてよい）。 ¾ HS、FS、LS 全てに対応しなくてもよい。 ¾ コントロール転送に対応することのみが必須であり、それ以外の転送タイプへの対応は任意で ある。 ¾ USB Suspend のサポートは任意である。 ¾ VBUS 供給電流値は 8mA 以上であればよい。 ¾ サポートデバイスを限定できる。 ¾ Hub のサポートは任意である。 ¾ USB 機能にて検出した異常をユーザへ通知する手段がある。 Standard-A レセプタクルを実装したホスト（ダウンストリーム）ポートが一つ以上ある。 ¾ Mini-AB レセプタクルを実装した場合は、USB On-The-Go Compliance Test の対象となる。 デバイス（アップストリーム）ポートの実装は任意である。 ¾ 実装した場合、Embedded Host 認証を取得するためには、USB Peripheral Compliance Test に Pass することが必須である。 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 4. Embedded Host Compliance Plan 4. Embedded Host Compliance Plan 『USB-IF Embedded Host Compliance Plan Rev 1.0 (Aug 06)』には、Embedded Host 認証を取得するための 必要条件および規則が記載されています。 本章では、Embedded Host Compliance Plan で定められている規定をもとに、それに対する本 LSI の仕様、 本 LSI を使用した Embedded Host システム（以下システム）での対応について説明します。 Embedded Host Compliance Plan の構成を以下に示します。 • • • • • Introduction (Summary) ¾ 認証取得のための必須事項、任意選択事項など Regurations ¾ USB Certified Logo Qualification ¾ Checklists ¾ Target Peripheral List (TPL) Compliance Program ¾ 試験項目 試験内容の詳細は以下のドキュメントも参照 『USB-IF Full and Low Speed Electrical and Interoperability Compliance Test Procedure』 Record Results ¾ 試験レポート項目 Target Peripheral List (TPL) Form ¾ TPL 記載事項 4.1 Introduction (Summary) 認証取得のための必須事項、任意選択事項などが規定されています。本 LSI の仕様に関係する内容を以 下に示します。 4.1.1 転送速度 HS、FS、LS 全てに対応する必要はありません。ホスト（ダウンストリーム）ポートに認められている 転送速度の組み合わせを表 4-1 に示します。 本 LSI は、FS と LS の転送速度をサポートしています。従って、本 LSI を実装するシステムがサポート できるデバイスは、下表に示すパターン C, D, E のいずれかです。 表 4-1 転送速度の組み合わせ 4.1.2 LS FS HS パターン A ○ ○ ○ パターン B × ○ ○ パターン C × ○ × パターン D ○ ○ × パターン E ○ × × 転送タイプ コントロール転送に対応できることが必須であり、それ以外の転送タイプへの対応は任意です。 本 LSI は、コントロール転送のほかに、インタラプト転送とバルク転送に対応しています。 システムでは、HID デバイス、MSC デバイス、及び Hub をサポートすることができます。 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 5 4. Embedded Host Compliance Plan 4.1.3 USB Suspend USB Suspend のサポートは任意です。ただし、USB Suspend をサポートする場合には、Resume シグナ リングのサポートが必須です。 本 LSI は、USB Suspend 及び Resume シグナリングをサポートしています。詳細は『S1R72U06 Application Note』の「パワーマネージメント」を参照してください。 システムでは、必要に応じて USB Suspend を使用することができます。 4.1.4 VBUS供給電流値 VBUS 供給電流値に関する規定は以下のとおりです。 • • • Low-Power Embedded Host の VBUS 供給電流値は、8mA から 100mA の範囲が許容される。 High-Power Embedded Host（※）の VBUS 供給電流値は、500mA 以上でなければならない。 いずれの場合も、TPL で指定したサポートデバイスが動作するのに足りる電流供給能力が必要であ る。 （※）100mA を越える電流を供給できる Embedded Host 本 LSI は、簡易的な VBUS 供給機能、及び VBUS 供給を制御する機能があります。 システムでは、上記規定に注意して、内蔵 VBUS 供給機能を使用、または外部 VBUS 供給制御回路を 設計してください。 4.1.5 Target Peripheral List Embedded Host ではサポートデバイスを限定できます。認証を取得する際には、サポートデバイスを Target Peripheral List(TPL)に記載して、このリストを USB-IF に提出することが必須です。なお、提出す るリストへのサポートデバイスの記載方法には以下の規則があります。 • デバイスはクラスではなく、個々の製品を記載すること。 ¾ サポートの実態がクラスであっても、リストには個々の製品を記載する。 Hub のみは、Hub クラスとして記載してもよい。 • リストとして提出する TPL の例を表に示します。 表 4-2 Manufacture Model TPL（HID＋Mass Storage クラス） VenderID ProductID Description Transport (Bulk, Int, Isoch) Speed Logitec MX Air 0x046D 0xC525 USB Mouse Int FS Microsoft P58-00049 0x045E 0x00CB USB Mouse Int LS BUFFALO RUF-C32ML 0x0EA0 0x6828 USB Memory Bulk FS Maxtor USB2120NEP001 0x0D49 0x3000 USB HDD Bulk HS* Hub Class HUB - - USB Hub Int FS/HS* * 実際の転送スピードは FS です。 TPL は、リストとして提出する他に、データとしてシステム内に保持する必要があります。 本 LSI では HID クラス、Mass Storage クラス、および Hub クラスの TPL データをデフォルトで保持し ています。また、ダウンロード機能により TPL データを追加設定することができます。TPL データの 設定方法は『S1R72U06 Technical Manual』の「TPL」を参照してください。 システムでは、認証を取得する際には TPL をリストとして USB-IF に提出してください。また、認証取 得に関わらず、必要に応じて本 LSI に TPL データを追加設定してください。 6 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 4. Embedded Host Compliance Plan 4.1.6 Hubのサポート Hub のサポートは任意です。 本 LSI では、デフォルトで Hub クラスの TPL データを保持しており、Hub をサポートします。 システムでは、本 LSI に対して TPL データを追加設定することなく、Hub をサポートすることができ ます。 4.1.7 No Silent Failure (NSF) USB 機能にて検出した異常をユーザへ通知する手段を持つことが必須です。この概念が No Silent Failure (NSF)です。ただし、表現手段や文言についの規定はありません。 本 LSI では、TPL、ManyDev、ManyHub、及び VBUS_Cur 端子を使用して、以下の通知を行うことがで きます。NSF 機能の詳細は『S1R72U06 Technical Manual』の「NSF」を参照してください。 • • • • Unsupported Device ¾ 未サポートの USB デバイスを検出すると発生します。本 LSI の TPL 端子で確認できます。 Too Many Devices ¾ HID クラス動作の場合、2 台目以降の HID デバイスを検出すると発生します。 Mass Storage クラス動作の場合、2 台目以降の MSC デバイスを検出すると発生します。 本 LSI の ManyDev 端子で確認できます。 Too Many Hubs ¾ 2 台目以降の USB ハブを検出すると発生します。本 LSI の ManyHub 端子で確認できます。 VBUS Over Current ¾ VBUS の過電流状態を検出すると発生します。本 LSI の VBUS_Cur 端子で確認できます。 システムでは、上記の通知に伴う表現手段を設けてください。 4.1.8 複数ホスト（ダウンストリーム）ポートの実装 複数のホスト（ダウンストリーム）ポートを実装することは許可されています。ただし、その場合には 以下の規定があります。 • • • • • 全てのダウンストリームポートは、同時かつ独立して操作できなければならない。 全てのダウンストリームポートは、VBUS に対して、供給電流能力が同じでなければならない。 全てのダウンストリームポートは、同じ転送速度をサポートしなければならない。 全てのダウンストリームポートは、同じデバイスをサポートしなければならない。 mini-A レセプタクルの使用は禁止する。 本 LSI は、一つのホスト（ダウンストリーム）ポートをサポートします。 システムで一つのホスト（ダウンストリーム）ポートを実装する場合は、特に上記規定を意識する必要 はありません。しかし、複数のホスト（ダウンストリーム）ポートを実装する場合は、上記規定を守っ てください。 4.1.9 デバイス（アップストリーム）ポートの実装 デバイス（アップストリーム）ポートの実装は任意です。ただし、Embedded Host の認証を取得するた めには、デバイス（アップストリーム）ポートが USB Peripheral Compliance Test に Pass することが必須 です。 4.2 Regurations Embedded Host の認証における以下の規則が規定されています。 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 7 4. Embedded Host Compliance Plan 4.2.1 USB Certified Logo Qualification Embedded Host システムが表示できるロゴについて、以下のとおり規定しています。 • • デバイス（アップストリーム）ポートを実装していない Embedded Host が表示できるロゴ ¾ ホスト（ダウンストリーム）ポートが HS まで対応： High-speed Version ¾ ホスト（ダウンストリーム）ポートが HS 以外に対応： Basic-speed Version デバイス（アップストリーム）ポートを実装した Embedded Host が表示できるロゴ ¾ デバイス（アップストリーム）ポートが HS まで対応： High-speed Version ホスト（ダウンストリーム）ポートが HS まで対応していなくても High-speed Version を 表示する ¾ デバイス（アップストリーム）ポートが HS 以外に対応： Basic-speed Version ホスト（ダウンストリーム）ポートが HS まで対応していても Basic-speed Version を表示 する 本 LSI のホスト（ダウンストリーム）ポートは FS までの対応です。 お客様のシステムにより、表示できるロゴは異なりますので、上記の規定に注意してください。 なお、認証を取得しない限り、システムにロゴを表示することはできません。 4.2.2 Checklists Embedded Host の認証を取得する際には、『USB Compliance Checklist for System』を USB-IF に提出する ことが必須です。このチェックリストは、以下のサイトより入手してください。また、記載方法の詳細 は、お客様が認証試験を依頼するテストラボに相談してください。 http://www.usb.org/developers/compliance/systems_high/ 4.2.3 Target Peripheral List (TPL) Embedded Host の認証を取得する際には、TPL をリストとして USB-IF に提出することが必須です。形 式は表 4-2 TPL を参照してください。作成方法および提出方法についての詳細は、お客様が認証試験を 依頼するテストラボに相談してください。 4.3 Compliance Program 認証試験の内容が記載されています。試験は、電気的な規格を満たすことを確認する Electricals と、接 続性を確認する Interoperability から構成されます。本 LSI を使用した Embedded Host システムが認証試 験を受ける際の対応は、 「5 Embedded Host Compliance Test」を参照してください。 なお、認証試験の詳細は USB-IF から公開されている以下の関連ドキュメントを参照してください。 • 4.4 『USB-IF Full and Low Speed Electrical and Interoperability Compliance Test Procedure』 Record Results 試験結果を記録する形式が規定されています。認証試験の結果はテストラボが記録しますので、特にお 客様が意識する必要はありません。 4.5 Target Peripheral List (TPL) Form 認証試験を受ける際に、ここで規定されている情報をテストラボに提出します。ただし、この Form を 8 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 4. Embedded Host Compliance Plan ベースにテストラボが独自のフォーマットを用意している場合がありますので、詳細はお客様が認証試 験を依頼するテストラボに相談してください。 なお、USB-IF では、Embedded Host の認証を取得する際に、TPL に加えて E.1 Host Information の提出 も必須とすることを検討中です。最新の動向は、お客様が認証試験を依頼するテストラボに確認してく ださい。 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 9 5. Embedded Host Compliance Test 5. Embedded Host Compliance Test Compliance Plan で規定された認証試験で、Electrical Test と Interoperability Test から構成されます。 Embedded Host システム（以下システム）の認証を取得するためには、これらの項目すべてに Pass しな ければなりません。 5.1 Electrical Test 電気的な規格を満たすことを確認する試験です。試験項目ごとに、本 LSI の USB ロゴ認証サポート機 能を使用した手順を示します。 5.1.1 Full-Speed Downstream Signal Quality システムが FS デバイスをサポートする場合の測定項目で、FS 送信波形のアイパターンを測定します。 試験構成を図 5-1 に示します。 • • • • 測定内容 ¾ Far End での Downstream Signsal Quality を測定します。 手順（テストモード使用） ¾ 図 5-1 の構成で接続します。 ¾ 制御用 PC より『USB analog test』を選択します。 （アナログテストの起動方法は『S1R72U06 Development Support Manual』の「使用方法」を参照ください。 ） テストモードへの移行が可能となります。 ¾ 制御用 PC より『Host FS Signal Quality』を選択します。 FS デバイスに対して、Get Device Descriptor リクエストを発行するモードになります。 ¾ 制御用 PC より『Single Step』を選択します。 一回だけ Get Device Descriptor リクエストを発行し、その後は FS SOF パケットのみを発 行します。 ¾ FS SOF パケットをオシロスコープでキャプチャして、Downstream Signsal Quality を測定しま す。 ¾ 制御用 PC より『Quit』を選択します。 本テストモードを終了します。 手順（テストモード未使用） ¾ 図 5-1 の構成で接続します。 ¾ TPL に指定した Device を接続した状態で、通常通りに Host が出力する SOF パケットで測定 を行います。 合否判定 ¾ アイパターンが合格基準内かどうかを USB Electrical Analysis Tool が自動判定する。 制御用PC オシロスコープ RS232ケーブル 差動プローブ Embedded Host システム 図 5-1 10 5m USBケーブル Test Fixture 10cm USBケーブル FS Target Peripheral Full-Speed Downstream Signal Quality 試験構成 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 5. Embedded Host Compliance Test 5.1.2 Low-Speed Downstream Signal Quality システムが LS デバイスをサポートする場合の測定項目で、 LS 送信波形のアイパターンを測定します。 試験構成を図 5-2 に示します。 • • • 測定内容 ¾ Near End での Downstream Signsal Quality を測定します。 手順 ¾ 図 5-2 の構成で接続します。 ¾ TPL に指定した Device を接続した状態で、通常通り Host が発行するトークンパケットで測定 を行います。 合否判定 ¾ アイパターンが合格基準内かどうかを USB Electrical Analysis Tool が自動判定する。 制御用PC オシロスコープ RS232ケーブル 差動プローブ Embedded Host システム 図 5-2 5.1.3 Test Fixture 10cm USBケーブル LS Target Peripheral Low-Speed Downstream Signal Quality 試験構成 Drop システムが供給する VBUS に定常的な負荷をかけた時の、VBUS-GND 間の電圧値を測定します。試験 構成を図 5-3 に示します。 ボルトメータ プローブ GND VBUS Embedded Host システム 10cm USBケーブル Test Fixture 図 5-3 1m USBケーブル 負荷 ボード Drop 試験構成 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 11 5. Embedded Host Compliance Test 5.1.3.1 High power Embedded Host システムが High power Embedded Host である場合の測定項目です。 • • • 測定内容 ¾ 無負荷状態における VBUS の電圧値を測定します。 ¾ 500mA 負荷状態における VBUS の電圧値を測定します。 手順（テストモード未使用） ¾ 図 5-3 の構成で接続します。 ¾ Embedded Host システムを起動し、USB のホスト動作を開始します。 VBUS を供給します。 ¾ 負荷 Board をとりはずし、VBUS に対して無負荷の状態にして、ボルトメータで VBUS の電圧 値を測定します。 ¾ 負荷 Board をとりつけ 500mA の負荷設定にして、ボルトメータで VBUS の電圧値を測定しま す。 合否判定 ¾ VBUS の電圧値が 4.75V から 5.25V の範囲内にあること。 5.1.3.2 Low power Embedded Host システムが Low power Embedded Host である場合の測定項目です。 • • • 測定内容 ¾ 8mA 負荷および仕様上の最大負荷状態における VBUS の電圧値を測定します。 ¾ VBUS の電圧値が 4.4V 以下になった場合の『VBUS Over Current』メッセージや LED 等での通 知を確認します。 手順（テストモード未使用） ¾ 図 5-3 の構成で接続します。 ¾ Embedded Host システムを起動し、USB のホスト動作を開始します。 VBUS を供給します。 ¾ 負荷 Board を 8mA の負荷設定にして、Voltmeter で VBUS の電圧値を測定します。 ¾ 負荷 Board をシステム仕様上の最大負荷設定にして、ボルトメータで VBUS の電圧値を測定 します。 ¾ 負荷 Board を 100mA の負荷設定にして、ボルトメータで VBUS の電圧値を測定します。 4.4V 以下の電圧値になった場合、NSF 機能により『VBUS Over Current』メッセージや LED 等で通知されることを確認します。 合否判定 ¾ 8mA 負荷時および仕様上の最大負荷時において、VBUS の電圧値が 4.4V から 5.25V の範囲内 にあること。 ¾ VBUS の電圧値が 4.4V 以下になった場合に、『VBUS Over Current』メッセージや LED 等で通 知すること。 5.2 Interoperability Test テストラボに持ち込んだサポートデバイス全てに対して接続性を確認する試験です。この際に、システ ムはテストモードではなく、実際に市場で使用されるモードで動作しなければなりません。 5.2.1 Enumeration システムが Enumeration と Operation の動作を正しく行えることを確認します。試験内容は以下のとお りです。 a. A-plug Attach Test 先に USB ケーブルとサポートデバイスを接続した状態で、 USB ケーブルとシステムを接続し、 12 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 5. Embedded Host Compliance Test 動作が正常であることを確認します。 b. B-plug Attach Test 先に USB ケーブルとシステムを接続した状態で、USB ケーブルとサポートデバイスを接続し、 動作が正常であることを確認します。 サポートデバイスがケーブル付きである場合、またはケーブルを使用しない場合は、この試験 は除外されます。 c. Power-on host Test 電源を投入していないシステムにサポートデバイスを接続した後、システムの電源を投入し、 動作が正常であることを確認します。 d. Reset Host Test システムにサポートデバイスを接続した状態で、システム上で Reset を実施します。Reset 後、 動作が正常であることを確認します。 e. Power-on peripheral Test 電源を投入していない状態のサポートデバイスをシステムに接続した後、サポートデバイスの 電源を投入します。電源投入後の動作が正常であることを確認します。 f. Dynamic Attach Test システムにサポートデバイスを接続して Enumaration を完了させます。その後、サポートデバ イスをいったん取り外し、再度接続し、動作が正常であることを確認します。 g. Topology Change Test (Option) ホスト（ダウンストリーム）ポートが 2 つ以上あるシステムの場合のみ対象となる試験です。 サポートデバイスを異なるポートに接続して、動作が正常であることを確認します。 ホスト（ダウンストリーム）ポートが 1 つであるシステムの場合、この試験は除外されます。 5.2.2 Operation システムが仕様どおりの動作を正しく行えることを確認します。試験内容は以下のとおりです。 a. Peripheral Operation Test システムが仕様どおりにサポートデバイスを操作できることを確認します。 b. Host Suspend / Resume Test (Option) システムが USB Suspend をサポートしている場合のみ対象となる試験です。システムにサポー トデバイスを接続した状態で、USB Suspend を実行します。その後 USB Resume を実行し、シ ステムが仕様どおりにサポートデバイスを操作できることを確認します。 システムが USB Suspend をサポートしていない場合、この試験は除外されます。 c. Suspend-Disconnect Test (Option) システムが USB Suspend をサポートしている場合のみ対象となる試験です。システムにサポー トデバイスを接続した状態で、USB Suspend を実行します。その状態でサポートデバイスをシ ステムから取り外します。このとき、システムが USB Resume の実行など、異常動作をしない ことを確認します。 システムが USB Suspend をサポートしていない場合、この試験は除外されます。 d. Suspend-Attach Test (Option) シ ス テ ム が USB Suspend を サ ポ ー ト し て い る 場 合 の み 対 象 と な る 試 験 で す 。 c. Suspend-Disconnect Test でサポートデバイスをシステムから取り外した後、再度システムに接 続します。その後システムより USB Resume を実行し、システムが仕様どおりにサポートデバ イスを操作できることを確認します。 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 13 5. Embedded Host Compliance Test システムが USB Suspend をサポートしていない場合、この試験は除外されます。 e. Peripheral remote wakeup Test (Option) システムが USB Suspend と remote-wakeup をサポートしている場合のみ対象となる試験です。 システムにサポートデバイスを接続した状態で、USB Suspend を実行します。その状態でサ ポートデバイスより USB Resume を実行し、その後システムが仕様どおりにサポートデバイス を操作できることを確認します。 本 LSI では remote-wakeup をサポートしていません。したがって、本 LSI を使用したシステム では、この試験は除外されます。 f. Topology Change Test (Option) ホスト（ダウンストリーム）ポートが 2 つ以上あるシステムで、USB Suspend をサポートして いる場合のみ対象となる試験です。c. Suspend-Disconnect Test でサポートデバイスをシステム から取り外した後、システムの別ポートに再度接続します。その後システムより USB Resume を実行し、システムが仕様どおりにサポートデバイスを操作できることを確認します。 ホスト（ダウンストリーム）ポートが 1 つであるシステムの場合、また、システムが USB Suspend をサポートしていない場合、この試験は除外されます。 g. Concurrent Downstream Operation (Option) ホスト（ダウンストリーム）ポートが 2 つ以上あるシステムの場合のみ対象となる試験です。 全てのポートに接続されたサポートデバイスに対し、システムが同時かつ独立に操作できるこ とを確認します。 ホスト（ダウンストリーム）ポートが 1 つであるシステムの場合、この試験は除外されます。 5.2.3 Hubs システムが Hub をサポートしている場合、試験内容は以下のとおりです。本 LSI では Hub をサポート しますので、この場合に該当します。 a. Maximam Tier Test 5 段以下の段数をサポートしている場合、サポートしている段数を越える Hub の接続に対して、 NSF 機能によりメッセージや LED 等で通知されることを確認します。試験方法は、はじめに 5 段の Hub を接続してメッセージが表示され、順に段数を減らしていって、サポート段数の範 囲内ではメッセージや LED 等の通知がなくなることを確認します。 本 LSI では、5 段～2 段の Hub が接続されたときに、NSF 機能により『Too Many Hubs』を通 知します。 b. Peripheral Operation Test サポートする最大の段数となる Hub にサポートデバイスを接続し、システムが仕様どおりに サポートデバイスを操作できることを確認します。本 LSI では、１段目の Hub にサポートデ バイスを接続して試験を実施します。 5.2.4 Messaging (No Silent Failure) NSF 機能によるメッセージや LED 等での通知ができることを確認する試験です。試験内容は以下のと おりです。 a. Unsupported device messsage システムに非サポートデバイスを接続したときに、サポートしていないという意味合いのメッ セージや LED 等で通知されることを確認します。 本 LSI では、この場合、NSF 機能により『Unsupported Device』を通知します。 b. 14 Hub をサポートしていない場合の messsage (Option) Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 5. Embedded Host Compliance Test システムが Hub をサポートしていない場合、Hub を接続したときに、Hub をサポートしてい ないという意味合いのメッセージや LED 等での通知がされることを確認します。できれば 『Unsupported Device』とは区別するのが望ましいとされています。 本 LSI では、Hub をサポートしているので、この項目には該当しません。 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 15 6. Independent Test Labs 6. Independent Test Labs Embedded Host の認証試験を実施するテストラボを紹介します。認証試験に関する詳細は、テストラボ にご相談ください。 株式会社エクスカル 〒240-0005 神奈川県横浜市保土ヶ谷区神戸町 134 番地 横浜ビジネスパーク イーストタワー14 階 Phone 045-332-7339 その他のテストラボについては、以下のサイトを参照してください。 http://www.usb.org/developers/compliance/labs/ 16 Seiko Epson Corporation S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide （Rev.1.0） 改訂履歴表 改訂履歴表 付－1 Rev. No. 09/08/27 日付 1,00 ページ 全頁 改訂内容（旧内容を含む） および改訂理由 種別 新規 新規作成 S1R72U06 Embedded Host Compliance Guide Seiko Epson Corporation （Rev.1.0） 17 半導体事業部 IC 営業部 <IC 国内営業グループ> 東京 〒191-8501 東京都日野市日野 421-8 TEL（042）587-5313（直通） 大阪 〒541-0059 FAX（042）587-5116 大阪市中央区博労町 3-5-1 TEL（06）6120-6000（代表） エプソン大阪ビル 15F FAX（06）6120-6100 ドキュメントコード：411810300 2009 年 8 月 作成